[發明專利]光學耦合透鏡以及光學耗散系數測量系統在審
| 申請號: | 201210481204.2 | 申請日: | 2012-11-23 |
| 公開(公告)號: | CN103837944A | 公開(公告)日: | 2014-06-04 |
| 發明(設計)人: | 洪毅 | 申請(專利權)人: | 鴻富錦精密工業(深圳)有限公司;鴻海精密工業股份有限公司 |
| 主分類號: | G02B6/42 | 分類號: | G02B6/42;G02B3/00;G01M11/02 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 518109 廣東省深圳市*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 光學 耦合 透鏡 以及 耗散 系數 測量 系統 | ||
技術領域
本發明涉及一種光學耦合透鏡以及一種光學耗散系數測量系統。
背景技術
在光學通訊領域,光學耗散系數測量系統一般包括光信號發射源、發射端耦合透鏡、光纖、接收端耦合透鏡、以及光信號接收組件。所述發射端耦合透鏡用于將所述光信號發射源所發射的光信號耦合至所述光纖。所述接收端耦合透鏡用于將所述光纖傳遞的光信號耦合至所述光信號接收組件。
在使用耦合透鏡之前,需要檢測光信號在耦合透鏡中傳播的損失(光學耗散系數)是否符合要求。然而,光信號在光學耗散系數測量系統中傳播的損失不僅包括光信號在耦合透鏡中傳播的損失,還包括光信號從發射端耦合透鏡耦合到光纖之間的對位損失、光在光纖中傳播的損失、以及光從光纖耦合到接收端耦合透鏡的損失,因此不容易測得光信號在耦合透鏡中傳播的損失是多少。
發明內容
有鑒于此,有必要提供一種可以克服上述問題之光學耦合透鏡及一種光學耗散系數測量系統。
一種光學耦合透鏡,包括一個折射面、一個第一全反射面以及一個第二全反射面。所述折射面、所述第一全反射面以及所述第二全反射面依次首尾相連。所述折射面上設置有一個第一準直部以及一個第二準直部。所述第一準直部用于將一光信號發射源所發射的光信號轉換為平行光束,所述第一全反射面用于將所述平行光束反射至所述第二全反射面,所述第二全反射面用于將所述平行光束轉折至所述第二準直部,所述第二準直部用于將該平行光束聚焦至一光偵測器。
一種光學耗散系數測量系統,其包括一個光信號發射源、一個光學耦合透鏡以及一個光偵測器。所述光學耦合透鏡用于將所述光信號發射源發射的光信號耦合至光偵測器。所述光學耦合透鏡包括一個折射面、一個第一全反射面以及一個第二全反射面。所述折射面、所述第一全反射面以及所述第二全反射面依次首尾相連。所述折射面上設置有一個第一準直部以及一個第二準直部。所述第一準直部用于將所述光信號發射源所發射的光信號轉換為平行光束,所述第一全反射面用于將所述平行光束反射至所述第二全反射面,所述第二全反射面用于將所述平行光束轉折至所述第二準直部,所述第二準直部用于將所述平行光束聚焦至所述光偵測器。
相較于現有技術,所述之光學耦合透鏡及光學耗散系數測量系統不經過光纖,通過所述光學耦合透鏡直接將光信號聚焦至所述光偵測器,可避免光信號在光學耦合透鏡和光纖間耦合所產生的損失和在光纖中傳播所產生的損失,因此可精確測得所述光學耦合透鏡的光學耗散系數。
附圖說明
圖1是本發明實施方式之光學耗散系數測量系統之結構示意圖。
主要元件符號說明
如下具體實施方式將結合上述附圖進一步說明本發明。
具體實施方式
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