[發(fā)明專利]垂直集成的圖像傳感器芯片及其形成方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210480345.2 | 申請日: | 2012-11-22 |
| 公開(公告)號: | CN103426892A | 公開(公告)日: | 2013-12-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 林政賢;洪豐基;楊敦年;劉人誠;陳思瑩;王文德;許慈軒 | 申請(專利權(quán))人: | 臺灣積體電路制造股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L27/146 | 分類號: | H01L27/146 |
| 代理公司: | 北京德恒律治知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11409 | 代理人: | 章社杲;孫征 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 垂直 集成 圖像傳感器 芯片 及其 形成 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體器件及其形成方法,具體而言,涉及圖像傳感器芯片及其形成方法。
背景技術(shù)
為了提高光子捕集效率,以背照式(BSI)圖像傳感器芯片替代正面照明傳感器芯片。在BSI圖像傳感器芯片的形成中,圖像傳感器(諸如,光電二極管)形成在BSI晶圓的硅襯底的正面上。用于處理圖像傳感器信號的邏輯電路也形成在硅襯底的正面上。然后將互連結(jié)構(gòu)形成在圖像傳感器和邏輯電路上方并與其相連接。
在形成了BSI晶圓之后,BSI晶圓與載體相接合,并且將硅襯底減薄。由此,硅襯底變得足夠薄從而使得光能夠從背面穿透硅襯底。在減薄的過程中以及其后,載體為薄的晶圓提供機(jī)械支撐。然后,在BSI晶圓上形成額外的部件,諸如,金屬柵格、濾色器、微透鏡等。BSI晶圓和載體隨后被切鋸分離成BSI芯片。
發(fā)明內(nèi)容
為了解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的問題,根據(jù)本發(fā)明的一個方面,提供了一種器件,包括:背照式(BSI)圖像傳感器芯片,包括:第一半導(dǎo)體襯底;圖像傳感器,設(shè)置在所述第一半導(dǎo)體襯底的正面上;以及位于所述第一半導(dǎo)體襯底的正面上的第一互連結(jié)構(gòu),包括多個金屬層;器件芯片,與所述圖像傳感器芯片接合,其中,所述器件芯片包括:第二半導(dǎo)體襯底;有源器件,位于所述第二半導(dǎo)體襯底的正面上;以及位于所述第二半導(dǎo)體襯底的正面上的第二互連結(jié)構(gòu),包括多個金屬層;穿透BSI圖像傳感器芯片的第一通孔,與位于所述第二互連結(jié)構(gòu)中的第一金屬焊盤連接;以及穿透所述第一互連結(jié)構(gòu)中的介電層的第二通孔,與位于所述第一互連結(jié)構(gòu)中的第二金屬焊盤連接,其中,所述第一通孔和所述第二通孔電連接。
在上述器件中,進(jìn)一步包括接觸所述第一通孔和所述第二通孔的第三金屬焊盤,其中所述第三金屬焊盤基本上與所述第一半導(dǎo)體襯底的一部分處于同一層。
在上述器件中,進(jìn)一步包括接觸所述第一通孔和所述第二通孔的第三金屬焊盤,其中所述第三金屬焊盤基本上與所述第一半導(dǎo)體襯底的一部分處于同一層,進(jìn)一步包括:第四金屬焊盤,位于所述第一互連結(jié)構(gòu)中;以及引線接合焊盤,與所述第三金屬焊盤處于同一層,其中,所述引線接合焊盤與所述第四金屬焊盤電連接。
在上述器件中,其中,所述第二金屬焊盤位于所述第一互連結(jié)構(gòu)的底部金屬層中,而所述第一金屬焊盤位于所述第二互連結(jié)構(gòu)的頂部金屬層中。
在上述器件中,其中,整個所述第一半導(dǎo)體襯底與所述第一互連結(jié)構(gòu)的第一部分重疊,其中所述第一互連結(jié)構(gòu)還包括未與所述第一半導(dǎo)體襯底重疊的第二部分,并且所述第一金屬焊盤與所述第一互連結(jié)構(gòu)的所述第二部分對準(zhǔn),而所述第二金屬焊盤位于所述第一互連結(jié)構(gòu)的所述第二部分中。
在上述器件中,其中,所述BSI圖像傳感器芯片不包括自動曝光控制(AEC)電路、自動增益控制(AGC)電路、自動白平衡(AWB)電路,以及顏色校正電路。
在上述器件中,進(jìn)一步包括:圖像傳感器陣列;以及濾色器和微透鏡,其中,所述濾色器和所述器件芯片位于所述第一半導(dǎo)體襯底的相對面上。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面,還提供了一種器件,包括:背照式(BSI)圖像傳感器芯片,包括:第一半導(dǎo)體襯底,以及圖像傳感器陣列,設(shè)置在所述第一半導(dǎo)體襯底的正面上;器件芯片,與所述圖像傳感器芯片接合,其中,所述器件芯片包括:第二半導(dǎo)體襯底,以及集成電路器件,位于所述第二半導(dǎo)體襯底的正面上;第一通孔,穿透所述BSI圖像傳感器芯片;以及第一金屬焊盤,與所述第一半導(dǎo)體襯底的一部分處于同一層,其中所述第一金屬焊盤通過所述第一通孔將所述BSI圖像傳感器芯片中的器件與所述器件芯片中的器件電連接。
在上述器件中,進(jìn)一步包括:第一互連結(jié)構(gòu),位于所述BSI圖像傳感器芯片中;以及第二互連結(jié)構(gòu),位于所述器件芯片中,其中,所述第一互連結(jié)構(gòu)和所述第二互連結(jié)構(gòu)設(shè)置在所述第一半導(dǎo)體襯底和所述第二半導(dǎo)體襯底之間。
在上述器件中,進(jìn)一步包括:第一互連結(jié)構(gòu),位于所述BSI圖像傳感器芯片中;以及第二互連結(jié)構(gòu),位于所述器件芯片中,其中,所述第一互連結(jié)構(gòu)和所述第二互連結(jié)構(gòu)設(shè)置在所述第一半導(dǎo)體襯底和所述第二半導(dǎo)體襯底之間,其中,所述第一通孔接觸位于所述第二互連結(jié)構(gòu)中的第二金屬焊盤,其中所述器件還包括第二通孔,所述第二通孔穿透位于所述第一互連結(jié)構(gòu)中的層間介電(ILD)層,與位于所述第一互連結(jié)構(gòu)中的第三金屬焊盤連接,并且所述第一金屬焊盤與所述第一通孔和所述第二通孔接觸。
在上述器件中,其中,所述第一金屬焊盤位于所述BSI圖像傳感器芯片的外圍區(qū)域中。
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- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個共用襯底內(nèi)或其上形成的多個半導(dǎo)體或其他固態(tài)組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導(dǎo)體組件并且至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的;包括至少有一個躍變勢壘或者表面勢壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導(dǎo)體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發(fā)射并且包括至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的半導(dǎo)體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結(jié)點(diǎn)的熱電元件的;包括有熱磁組件的





