[發明專利]界面檢測

有效

• 申請號: 201210480199.3
• 申請日: 2012-11-22
• 公開（公告）號: CN103697965B
• 公開（公告）日: 2019-09-27
• 發明（設計）人: 奧洛夫·愛德華松
• 申請（專利權）人: 羅斯蒙特儲罐雷達股份公司
• 主分類號: G01F23/284
• 分類號: G01F23/284
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 朱勝;李春暉

1.一種用于借助于雷達料位計系統來確定容器中的由兩種液體的乳狀液形成的延伸或擴散材料界面的料位的方法，所述雷達料位計系統包括：

收發器，所述收發器用于生成、發射以及接收電磁信號；以及

探針，所述探針連接到所述收發器并被布置成將來自所述收發器的發射電磁信號導向所述材料界面，所述探針包括第一多個參考過渡阻抗和第二多個參考過渡阻抗，所述第一多個參考過渡阻抗中的每個參考過渡阻抗位于所述材料界面上方距參考位置各個物理距離處，所述第二多個參考過渡阻抗中的每個參考過渡阻抗位于所述材料界面下方距所述參考位置各個物理距離處；

所述方法包括以下步驟：

針對所述第一多個參考過渡阻抗中的每個參考過渡阻抗，基于所接收到的由所述參考過渡阻抗反射的電磁信號來確定表示沿著所述探針從所述參考位置到所述參考過渡阻抗的電氣距離的值，從而產生第一組電氣距離值；

針對所述第二多個參考過渡阻抗中的每個參考過渡阻抗，基于所接收到的由所述參考過渡阻抗反射的電磁信號來確定表示沿著所述探針從所述參考位置到所述參考過渡阻抗的電氣距離的值，從而產生第二組電氣距離值；

針對所述第一多個參考過渡阻抗，確定將所述第一組電氣距離值與物理距離相聯系的第一近似函數；

針對所述第二多個參考過渡阻抗，確定將所述第二組電氣距離值與物理距離相聯系的第二近似函數；以及

即使在到達所述材料界面的電磁信號沒有被反射的情況下，也基于所述第一近似函數和所述第二近似函數來確定所述材料界面的所述料位，

其中，確定所述材料界面的所述料位的步驟還包括：

確定從所述參考位置到所述第一近似函數和所述第二近似函數相交的點的物理距離；以及

基于所確定的所述物理距離和從所述參考位置到所述容器的底部的距離來確定所述材料界面的所述料位。

2.根據權利要求1所述的方法，其中，基于針對至少三個參考過渡阻抗的所述電氣距離值和所述物理距離之間的關系來確定所述第一近似函數和所述第二近似函數中的每一個。

3.根據權利要求1或2所述的方法，其中，所述第一近似函數和所述第二近似函數為線性函數。

4.根據權利要求1或2所述的方法，還包括以下步驟：

基于所述第一近似函數的斜率來確定在所述材料界面上方的材料的介電常數；以及

基于所述第二近似函數的斜率來確定在所述材料界面下方的材料的介電常數。

5.根據權利要求1或2所述的方法，還包括以下步驟：通過將基于所接收到的由所述參考過渡阻抗反射的所述電磁信號的參考過渡阻抗的距離分布與所述參考過渡阻抗的已知的距離分布進行比較來確定所述界面的延伸量。

6.根據權利要求1或2所述的方法，還包括以下步驟：

針對所述第一近似函數和所述第二近似函數中的至少一個，分別估計表示所述近似函數與所述第一多個參考過渡阻抗和所述第二多個參考過渡阻抗的所述電氣距離值之間的相關性的相關性值；以及

如果所述相關性值低于預定閾值，則基于各自選擇的、所述第一多個參考過渡阻抗或第二多個參考過渡阻抗的子集來確定新的近似函數。