[發明專利]一種高速ADC接口與GPIO接口相互測試的方法

有效

• 申請號: 201210479357.3
• 申請日: 2012-11-22
• 公開（公告）號: CN102998560A
• 公開（公告）日: 2013-03-27
• 發明（設計）人: 陳燕麗;周敏心
• 申請（專利權）人: 福州瑞芯微電子有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R31/28
• 代理公司: 福州市鼓樓區京華專利事務所(普通合伙) 35212
• 代理人: 宋連梅

【技術領域】

本發明涉及一種高速ADC接口與GPIO接口相互測試的方法。

【背景技術】

高速ADC接口（HS-ADC）在實際應用中是用來采集高速ADC（模數轉換器）轉換完的數字數據，在SOC（系統級芯片）功能測試領域，為了驗證該模塊的功能是否完好，對于不包含高速ADC模塊的SOC，如果外接高速ADC芯片對該模塊的功能進行測試，不僅大大增加了測試的成本，而且相關人員還需要花費較多的時間跟精力去調試外接的高速ADC轉換芯片，從很大程度上增加了測試的難度。

有鑒于此，本發明人針對現有技術的缺陷深入研究，并有本案產生。

【發明內容】

本發明所要解決的技術問題在于提供一種高速ADC接口與GPIO接口相互測試的方法，該方法減小了測試成本，并增加了測試的可行性。

本發明采用以下技術方案解決上述技術問題：

一種高速ADC接口與GPIO接口相互測試的方法，包括：在SOC上，選擇8個GPIO口模擬數據線，1個GPIO口模擬時鐘線，第一個時鐘的數據為0x01，第二個時鐘的數據為0x02，第三個時鐘的數據為0x04，第四個時鐘的數據為0x08，第五個時鐘的數據為0x10，第六個時鐘的數據為0x20，第七個時鐘的數據為0x40，第八個時鐘的數據為0x80，通過GPIO口不斷循環的送出0x1,0x2,0x4,0x8,0x10,0x20,0x40,0x80這8組數據，給SOC的HS-ADC的clkin同時灌clk，在每個時鐘的上升沿采集數據；時鐘的頻率不超過HS-ADC的最高采樣頻率，按要求采樣了N個字節的數據之后，把數據跟理論上的數據進行對比，來判斷該SOC的HS-ADC的功能模塊是否正常。

本發明的優點在于：通過GPIO口不斷循環的送出0x1,0x2,0x4,0x8,0x10,0x20,0x40,0x80這8組數據，給HS-ADC的clkin同時灌clk，在每個時鐘的上升沿采集數據。時鐘的頻率只要不超過HS-ADC的最高采樣頻率就可以。按要求采樣了N個字節的數據之后，把數據跟理論上的數據進行對比，看是否一樣來判斷該SOC的HS-ADC的功能模塊是否正常。本發明減小了測試成本，并增加了測試的可行性。

【附圖說明】

下面參照附圖結合實施例對本發明作進一步的描述。

圖1是本發明的時序圖。

【具體實施方式】

在SOC上，通常包含幾組的GPIO，可以從中挑選幾個GPIO口模擬高速ADC轉換完的數據跟時鐘，讓HS-ADC接口進行采集。HS-ADC接口因為可以采集8bit/10bit的數據，所以包括10根的數據線跟一根時鐘線。由于接口通常使用在8bit的數據采集情況下，所以本發明以8bit數據的采集為例進行測試方法的詳細說明。

在測試過程中，選擇8個GPIO口模擬數據線，1個GPIO口模擬時鐘線。時鐘：低電平跟高電平交替變換；數據：每個時鐘內，只有一個數據位為高電平（即“1”），第一個時鐘的數據為0x01，第二個時鐘的數據為0x02，第三個時鐘的數據為0x04，第四個時鐘的數據為0x08，第五個時鐘的數據為0x10，第六個時鐘的數據為0x20，第七個時鐘的數據為0x40，第八個時鐘的數據為0x80，然后又從頭開始，即0x01,0x02,0x04,0x08,0x10,0x20,0x40,0x80,0x01,0x02,0x04...循環下去。給出這樣的數據可以保證每個數據線對于“0”跟“1”電平采集的正確性，并且可以測試相鄰兩根數據線是否有短路的情況。

具體的時序圖如圖1所示，通過GPIO口不斷循環的送出0x1,0x2,0x4,0x8,0x10,0x20,0x40,0x80這8組數據，給HS-ADC的clkin同時灌clk，在每個時鐘的上升沿采集數據。時鐘的頻率只要不超過HS-ADC的最高采樣頻率就可以。按要求采樣了N個字節的數據之后，把數據跟理論上的數據進行對比，看是否一樣來判斷該SOC的HS-ADC的功能模塊是否正常。

該發明減小了測試成本，并增加了測試的可行性。

以上所述僅為本發明的較佳實施用例而已，并非用于限定本發明的保護范圖。凡在本發明的精神和原則之內，所作的任何修改、等同替換以及改進等，均應包含在本發明的保護范圍之內。