[發(fā)明專利]一種結(jié)型場效應(yīng)晶體管及其制備方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210477888.9 | 申請日: | 2012-11-22 |
| 公開(公告)號: | CN103840012A | 公開(公告)日: | 2014-06-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 王瓊 | 申請(專利權(quán))人: | 無錫華潤上華半導(dǎo)體有限公司 |
| 主分類號: | H01L29/808 | 分類號: | H01L29/808;H01L29/06;H01L21/337 |
| 代理公司: | 中國專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 唐立;王忠忠 |
| 地址: | 214028 江蘇省無*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 場效應(yīng) 晶體管 及其 制備 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
?本發(fā)明屬于結(jié)型場效應(yīng)晶體管(JFET)技術(shù)領(lǐng)域,涉及可通過調(diào)節(jié)形成垂直溝道的阱的寬度大小來調(diào)節(jié)其夾斷電壓(Pinch-off?Voltage)的結(jié)型場效應(yīng)晶體管。
背景技術(shù)
結(jié)型場效應(yīng)晶體管廣泛應(yīng)用于各類模擬電路的設(shè)計,例如:放大器電路、偏壓或降壓電路、啟動電路、可變電阻等等。對于日漸興起的高壓半導(dǎo)體集成電路而言,為滿足諸如電源管理芯片中不同工作電壓器件的需求,提高結(jié)型場效應(yīng)晶體管的夾斷電壓(也稱為崩潰電壓)來滿足更多的電源管理芯片的需求,成為一個新的研究課題。
現(xiàn)有技術(shù)的結(jié)型場效應(yīng)晶體管結(jié)構(gòu)中,其夾斷電壓的調(diào)節(jié)需要額外的增加Mask(掩膜版)并通過額外的注入實現(xiàn),也大大增加了其工藝成本及制造的復(fù)雜性,并且在同一芯片中,難以同時實現(xiàn)各種不同夾斷電壓的結(jié)型場效應(yīng)晶體管的制備。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的之一在于,提出一種夾斷電壓易于調(diào)節(jié)設(shè)置的結(jié)型場效應(yīng)晶體管。
本發(fā)明的又一目的在于,降低結(jié)型場效應(yīng)晶體管的制備工藝復(fù)雜性。
為實現(xiàn)以上目的或者其他目的,本發(fā)明提供以下技術(shù)方案。
按照本發(fā)明的一方面,提供一種結(jié)型場效應(yīng)晶體管,其包括:
在襯底上形成第一導(dǎo)電類型的埋層;
在所述埋層上外延生長形成的外延層;
在外延層中形成的用于形成溝道的第一導(dǎo)電類型的第一阱,所述第一阱被引出形成源極;
在外延層中形成的、位于所述第一阱的寬度方向的兩側(cè)并與其鄰接的第二導(dǎo)電類型的第二阱,所述第二阱被引出形成柵極;以及
在外延層中形成的第一導(dǎo)電類型的第三阱,所述第三阱被引出形成漏極;
其中,所述結(jié)型場效應(yīng)晶體管的溝道方向基本垂直于所述襯底表面;
所述結(jié)型場效應(yīng)晶體管在導(dǎo)通時,所述第一阱與所述第三阱之間通過所述埋層電性連接導(dǎo)通;
所述第一導(dǎo)電類型與所述第二導(dǎo)電類型互為相反。
按照本發(fā)明的結(jié)型場效應(yīng)晶體管,其中,設(shè)置所述第一阱的寬度以調(diào)節(jié)所述結(jié)型場效應(yīng)晶體管的夾斷電壓。
按照本發(fā)明一實施例的結(jié)型場效應(yīng)晶體管,其中,所述第一阱的寬度在0.8微米至1.2微米的范圍內(nèi)設(shè)置。
優(yōu)選地,所述溝道的長度基本等于所述外延層的厚度。
在之前所述任意實施例的結(jié)型場效應(yīng)晶體管中,優(yōu)選地,所述第二阱為兩個,其分別位于所述第一阱的寬度方向的兩側(cè)。
在之前所述任意實施例的結(jié)型場效應(yīng)晶體管中,在所述柵極上偏置電信號以使所述第一阱與所述第二阱之間形成的PN結(jié)反向偏置,通過調(diào)節(jié)所述柵極上偏置的電信號大小以調(diào)節(jié)所述第一阱中所對應(yīng)的PN結(jié)的耗盡區(qū)的寬度。
進一步,所述柵極上偏置夾斷電壓時,所述柵極上偏置夾斷電壓時,所述第一阱的寬度基本等于所述耗盡區(qū)的寬度。
進一步,所述埋層的摻雜濃度范圍可以為1E15/cm3至1E19/cm3。進一步,所述第一阱的摻雜濃度范圍可以為1E15/cm3至1E19/cm3。
進一步,所述第二阱的摻雜濃度范圍可以為1E15/cm3至1E19/cm3。
進一步,所述第三阱的摻雜濃度范圍可以為1E15/cm3至1E19/cm3。
優(yōu)選地,所述第一阱的摻雜濃度低于所述第二阱的摻雜濃度。
按照本發(fā)明還一實施例的結(jié)型場效應(yīng)晶體管,其中,所述第三阱位于所述第二阱的寬度方向的兩側(cè)并與其鄰接。
按照本發(fā)明的又一方面,提供一種制備以上所述及的結(jié)型場效應(yīng)晶體管的方法,其包括步驟:
在襯底上構(gòu)圖摻雜形成埋層;
在所述襯底的埋層上外延生長形成外延層;
在所述外延層上構(gòu)圖摻雜形成所述第一阱、第二阱和第三阱;以及
在所述第一阱、第二阱和第三阱上分別引出形成源極、柵極和漏極。
按照本發(fā)明一實施例的結(jié)型場效應(yīng)晶體管的制備方法,其中,在引出形成源極、柵極和漏極步驟中,所述第一阱、第二阱和第三阱上分別構(gòu)圖摻雜形成有源極引出區(qū)、柵極引出區(qū)和漏極引出區(qū)。
按照本發(fā)明還一實施例的結(jié)型場效應(yīng)晶體管的制備方法,其中,所述第一阱和所述第三阱的摻雜濃度相同,所述第一阱和所述第三阱通過同步構(gòu)圖摻雜形成。
優(yōu)選地,所述第一阱的摻雜濃度低于所述第二阱的摻雜濃度。
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