[發(fā)明專利]光電編碼器的刻度盤及其制造方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210477727.X | 申請日: | 2012-11-21 |
| 公開(公告)號: | CN103134531B | 公開(公告)日: | 2017-10-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 青木敏彥;前田不二雄;富樫理彥 | 申請(專利權(quán))人: | 株式會社三豐 |
| 主分類號: | G01D5/347 | 分類號: | G01D5/347 |
| 代理公司: | 北京林達劉知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙)11277 | 代理人: | 劉新宇,張會華 |
| 地址: | 日本神*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 光電 編碼器 刻度盤 及其 制造 方法 | ||
1.一種光電編碼器的刻度盤,所述刻度盤包括:
基部構(gòu)件,所述基部構(gòu)件具有表面且所述表面的整個區(qū)域粗糙化;和
金屬光柵,所述金屬光柵通過鍍敷形成于所述基部構(gòu)件的粗糙化了的表面并且在所述基部構(gòu)件上以預(yù)定間距排列,
其中所述金屬光柵由已黑化的金屬膜制成;和
所述基部構(gòu)件的表面的整個區(qū)域被粗糙化增加了所述金屬光柵相對于所述基部構(gòu)件的附著性。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光電編碼器的刻度盤,其特征在于,
所述基部構(gòu)件是導(dǎo)電性的且具有光反射面的基部構(gòu)件。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光電編碼器的刻度盤,其特征在于,
所述基部構(gòu)件是光吸收性或透過性基部構(gòu)件。
4.一種光電編碼器的刻度盤的制造方法,所述方法包括如下步驟:
使基部構(gòu)件的表面的整個區(qū)域粗糙化以增加金屬光柵相對于所述基部構(gòu)件的附著性;并且
通過鍍敷在所述基部構(gòu)件的已經(jīng)經(jīng)受了所述粗糙化的表面形成金屬光柵,使得所述金屬光柵以預(yù)定間距排列;
其中,所述金屬光柵由已黑化的金屬膜制成。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的光電編碼器的刻度盤的制造方法,其特征在于,
形成所述金屬光柵的步驟包括如下步驟:
在所述基部構(gòu)件的已經(jīng)經(jīng)受了所述粗糙化的表面通過鍍敷形成金屬膜;
在所述金屬膜上以預(yù)定間距形成抗蝕劑;并且
通過利用所述抗蝕劑作為掩模來蝕刻所述金屬膜而在所述基部構(gòu)件上以所述預(yù)定間距形成所述金屬光柵。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的光電編碼器的刻度盤的制造方法,其特征在于,進一步包括:
在所述基部構(gòu)件的所述表面形成導(dǎo)電性光反射膜。
7.根據(jù)權(quán)利要求4所述的光電編碼器的刻度盤的制造方法,其特征在于,
形成所述金屬光柵的步驟包括如下步驟:
在所述基部構(gòu)件的已經(jīng)經(jīng)受了所述粗糙化的所述表面以預(yù)定間距形成抗蝕劑;
通過鍍敷在所述基部構(gòu)件的所述表面上位于所述抗蝕劑之間的部分形成金屬膜;并且
通過去除所述抗蝕劑以預(yù)定間距在所述基部構(gòu)件上形成所述金屬光柵。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的光電編碼器的刻度盤的制造方法,其特征在于,進一步包括:
在所述基部構(gòu)件的所述表面形成導(dǎo)電性光反射膜。
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G01D 非專用于特定變量的測量;不包含在其他單獨小類中的測量兩個或多個變量的裝置;計費設(shè)備;非專用于特定變量的傳輸或轉(zhuǎn)換裝置;未列入其他類目的測量或測試
G01D5-00 用于傳遞傳感構(gòu)件的輸出的機械裝置;將傳感構(gòu)件的輸出變換成不同變量的裝置,其中傳感構(gòu)件的形式和特性不限制變換裝置;非專用于特定變量的變換器
G01D5-02 .采用機械裝置
G01D5-12 .采用電或磁裝置
G01D5-26 .采用光學(xué)裝置,即應(yīng)用紅外光、可見光或紫外光
G01D5-42 .采用流體裝置
G01D5-48 .采用波或粒子輻射裝置





