[發明專利]一種用于飛針測試的電阻電容測量模塊有效
| 申請號: | 201210477531.0 | 申請日: | 2012-11-22 |
| 公開(公告)號: | CN103063922B | 公開(公告)日: | 2017-05-31 |
| 發明(設計)人: | 譚立杰;張琦;呂磊;田知玲 | 申請(專利權)人: | 中國電子科技集團公司第四十五研究所 |
| 主分類號: | G01R27/02 | 分類號: | G01R27/02;G01R27/26;G01R31/02 |
| 代理公司: | 北京中建聯合知識產權代理事務所(普通合伙)11004 | 代理人: | 朱麗巖,劉湘舟 |
| 地址: | 北京市大興區北*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 用于 測試 電阻 電容 測量 模塊 | ||
技術領域
本發明涉及飛針測試技術領域,特別涉及一種用于飛針測試的電阻電容模塊。
背景技術
飛針測試設備是半導體后封裝關鍵設備,其工作機理是:由用于飛針測試的電阻電容測量模塊根據電路基板的原理圖生成GERBER工藝文件,將GERBER文件轉化為測試文件,然后進行自動測試,而測試模塊是自動測試的執行部件。
基板故障一般是在制造過程中形成的,最常見的故障表現為:不同網絡導體間的短路和相同網絡導體內的斷路等,飛針測試已經成為電氣測試一些主要問題的最新解決辦法,這種設備既可以進行裸板測試,也可進行實板測試。
市場上的測試儀產品功能很多,但不能將大量程和高精度兼容,測試速度慢,特別是連續測試不能滿足飛針自動化測試要求的高速度高精度,測試儀接口單一,不能很好地嵌入到飛針測試主程序中。
發明內容
本發明的目的在于提供一種用于飛針測試的電阻電容測量模塊,旨在解決現有嵌入式飛針測試裝置不能將寬量程高精度兼容的問題以及測試速度不能滿足飛針測試需要的問題。
為實現上述的目的,本發明所采用的技術方案如下:
一種用于飛針測試的電阻電容測量模塊,包括:
電阻測試模塊,用于測試基板上的相同網絡之間的電阻值;
電容測試模塊,用于測試基板上的不同電氣網絡對地的電容值;
控制處理模塊,分別與所述電阻測試模塊與電容測試模塊電連接,用于產生頻率幅度均可控的正弦波,控制在電阻測試與電容測試功能間切換選擇、測試檔位選擇以及配針選擇,接收所述電阻測試模塊與電容測試模塊的測試數據進行處理,輸出測試結果數據。
所述電阻測試模塊由精密采樣電阻構成,通過將待測電阻與所述精密采樣電阻分壓進行測試,將測得的電壓值反饋到所述控制處理模塊處理得出待測電阻阻值進行分析比較,輸出測試結果數據。
所述精密采樣電阻共分為100Ω、900Ω、9KΩ、90KΩ、900KΩ、9MΩ六檔,精度為0.1%。
所述電容測試模塊包括依次連接的比例分壓電路、低通有源濾波器、波形放大電路、整流電路、低通濾波器;所述的比例分壓電路經待測電容接收所述控制處理模塊發送的正弦波,再經所述低通有源濾波器、波形放大電路、整流電路、低通濾波器輸出直流穩壓電壓到所述控制處理模塊進行處理,輸出測試結果數據。
所述的電容測試模塊為4塊,每塊電氣特性相同,分別加入到四個測針上。
所述的控制處理模塊包括上位機、譯碼電路、總線接口電路、正弦波發生器電路、繼電器選擇切換矩陣以及用于采集所述的電阻測試模塊或電容測試模塊輸出的模擬電壓值,輪換為對應的數字電壓值后反饋到所述的上位機的數據采集裝置;所述總線接口電路與所述上位機數據總線相連;所述譯碼電路設在所述上位機與所述總線接口電路間,通過數據總線經過譯碼使能所述總線接口電路;所述正弦波發生器電路的輸入端與所述總線接口電路輸出端連接,用于在所述上位機控制下產生頻率可調幅度可調正弦波;所述繼電器選擇切換矩陣用于實現在電阻測試與電容測試間功能切換選擇、測試檔位選擇以及配針選擇。
所述的繼電器選擇切換矩陣包括:
功能選擇繼電器矩陣,用于在所述上位機控制下實現在電容測試與電阻測試功能間切換選擇以及在電阻測試下進行配針選擇;
檔位選擇繼電器矩陣,用于在所述上位機控制下實現電阻或電容測試時的檔位切換選擇;以及,
測針收發信號繼電器矩陣,用于在所述上位機控制下實現電容測試時的配針選擇。
所述的正弦波發生器電路采用ML2036帶鎖存端的串行輸入可編程正弦波發生器來產生可控頻率的標準正弦波。
所述的正弦波發生器電路輸出端連接有一幅度調節電路,其通過用AD633模擬乘法器將所述正弦波發生器電路產生的標準正弦波幅值與可編程電壓相乘,得到需要的正弦波幅值,再接入電壓跟隨器隔離前后級電路。
所述的正弦波的頻率信號分為三種,分別是8Hz、80Hz、800Hz。
本發明提供的電阻電容測試模塊,可嵌入到飛針測試設備主系統中,通過軟件控制實現自動選針測試,快速選檔、精確測試,具有測試速度快,響應時間短的特點,其測試精度可滿足飛針測試的工藝要求。
附圖說明
圖1所示為本發明實施例提供的用于飛針測試的電阻電容測量模塊的結構示意圖;
圖2所示為本發明實施例提供的控制處理模塊的結構示意圖;
圖3所示為本發明實施例提供的電容測試模塊的結構示意圖。
具體實施方式
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中國電子科技集團公司第四十五研究所,未經中國電子科技集團公司第四十五研究所許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201210477531.0/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:陳皮果沙糕及其生產方法
- 下一篇:單點確定晶圓測試范圍的方法





