[發(fā)明專利]一種廣域電離層誤差改正新方法

無效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201210476764.9
• 申請(qǐng)日: 2012-11-22
• 公開（公告）號(hào): CN102928850A
• 公開（公告）日: 2013-02-13
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 蔡成林;席超;李思敏;韋照川;李天松;王利杰;李志斌
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 桂林電子科技大學(xué)
• 主分類號(hào): G01S19/07
• 分類號(hào): G01S19/07
• 代理公司: 桂林市華杰專利商標(biāo)事務(wù)所有限責(zé)任公司 45112
• 代理人: 劉梅芳

1.一種廣域電離層誤差改正新方法，其特征是：包括如下步驟：

（1）三角分區(qū)的劃分

根據(jù)電離層監(jiān)測(cè)站的分布，選擇一個(gè)地理位置居中的監(jiān)測(cè)站作為中心站，與兩個(gè)向外輻射的邊緣站構(gòu)成三角幾何圖形，作為一個(gè)三角分區(qū)；將區(qū)域根據(jù)電離層監(jiān)測(cè)站的分布劃分為若干三角分區(qū)；

（2）穿刺點(diǎn)位置及傾斜因子的解算

穿刺點(diǎn)緯度φ_pp＝arcsin(sinφ_ucosψ_pp+cosφ_usinψ_ppcosAZ)，穿刺點(diǎn)經(jīng)度λpp=λu+arcsin(sinψppsinAZcosφpp),]]>傾斜因子F=1sinE′=11-(Re+hRe+hicosE)2]]>

其中AZ為方位角，?ψ_pp為地心角，(φ_u,λ_u)為用戶位置，Re為地球平均半徑，E為用戶仰角，E′為穿刺點(diǎn)IPP的仰角，h和hi分別為電離層監(jiān)測(cè)站和最大電子濃度距地面的高程；

（3）電離層監(jiān)測(cè)站及電離層下點(diǎn)（即穿刺點(diǎn)在地球表面的投影點(diǎn)）的大地坐標(biāo)轉(zhuǎn)化為大地直角坐標(biāo)x=(N+H)cosBcosLy=(N+H)cosBsinLz=[N(1-e2)+H]sinB,]]>其中N=aW=a1-e2sin2B,]]>(B,L,H)表示測(cè)站/電離層下點(diǎn)的緯度、經(jīng)度和高程，(x,y,z)表示相應(yīng)的大地直角坐標(biāo)，N為地球面卯酉圈的曲率半徑，e為地球的第一偏心率，a為地球的長(zhǎng)半徑；

（4）距離冪指數(shù)權(quán)重法內(nèi)插（IDW）

監(jiān)測(cè)站到電離層下點(diǎn)的距離：di=(xi-x0)2+(yi-y0)2+(zi-z0)2]]>其中點(diǎn)(x_i,y_i,z_i)為測(cè)站大地直角坐標(biāo)，點(diǎn)(x₀,y₀,z₀)為穿刺點(diǎn)的電離層下點(diǎn)的大地直角坐標(biāo)Z(x0,y0,z0)=Σi=1nZi×wi·················di≠0Zi····························di=0,]]>其中權(quán)重wi=1dikΣi=1n1dik,]]>k為權(quán)重系數(shù)，Z_i為點(diǎn)(x_i,y_i,z_i)垂向TEC值(即監(jiān)測(cè)站天頂方向的TEC)；Z(x₀,y₀,z₀)為電離層穿刺點(diǎn)處的VTEC值；

（5）利用插值得到的穿刺點(diǎn)的電離層延遲及傾斜因子解算得到斜向電離層延遲誤差