[發(fā)明專利]一種基于Laplacian-Markov場的光譜恢復(fù)方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210475610.8 | 申請日: | 2012-11-21 |
| 公開(公告)號: | CN103134789A | 公開(公告)日: | 2013-06-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張?zhí)煨?/a>;李姣;顏露新;劉海;朱虎;馬金鳳;張力;彭凡 | 申請(專利權(quán))人: | 華中科技大學(xué) |
| 主分類號: | G01N21/65 | 分類號: | G01N21/65;G06F17/50 |
| 代理公司: | 華中科技大學(xué)專利中心 42201 | 代理人: | 李智 |
| 地址: | 430074 湖北*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 laplacian markov 光譜 恢復(fù) 方法 | ||
1.一種基于Laplacian-Markov場的光譜恢復(fù)方法,按照以下步驟進(jìn)行:
(1)對離散化的光譜進(jìn)行歸一化處理得到歸一化后光譜強(qiáng)度fi,i=1,2,3…n,n為光譜總數(shù);
(2)計(jì)算歸一化后光譜強(qiáng)度fi的一階導(dǎo)數(shù)fi′;
(3)計(jì)算每一個(gè)光譜點(diǎn)fi的鄰域fi-3,fi-2,fi-1,fi,fi+1,fi+2,fi+3]的標(biāo)準(zhǔn)差Si,從中找出最大標(biāo)準(zhǔn)差Smax和最小標(biāo)準(zhǔn)差Smin,構(gòu)建n×n維加權(quán)矩陣Q,加權(quán)矩陣Q的對角線元素其余元素置0,其中,ln為自然對數(shù),e為自然常數(shù);
(4)采用分裂迭代法求解拉曼光譜:
(41)初始化分裂法求解參數(shù):光譜初始值f0=f,過度去噪補(bǔ)償初始值b0=0,替代變量初始值d0=0,迭代次數(shù)k=0;
(42)更新計(jì)算fk+1和dk+1:
其中,max為求取最大值,H為儀器響應(yīng)函數(shù),HT為H的轉(zhuǎn)置,Δt為時(shí)間步長,光譜的n×n維差分矩陣歸一化后光譜強(qiáng)度集i=1,2,…,n,正則參數(shù)λ∈(0,1)和β∈(0,1);
(43)更新計(jì)算bk+1=bk+((Df)k+1-dk+1);
(44)判斷fk+1是否滿足迭代停止條件(‖fk+1-fk‖/‖fk‖)>ε,ε為迭代停止閾值,若不滿足,則返回步驟(42),否則輸出拉曼光譜fk+1。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光譜恢復(fù)方法,其特征在于,所述儀器響應(yīng)函數(shù)H為高斯函數(shù)或洛倫茲函數(shù)。
3.一種基于Laplacian-Markov場的光譜恢復(fù)系統(tǒng),包括
第一模塊,用于對離散化的光譜進(jìn)行歸一化處理得到歸一化后光譜強(qiáng)度fi,i=1,2,3…n,n為光譜總數(shù);
第二模塊,用于計(jì)算歸一化后光譜強(qiáng)度fi的一階導(dǎo)數(shù)fi′;
第三模塊,用于計(jì)算每一個(gè)光譜點(diǎn)fi的鄰域[fi-3,fi-2,fi-1,fi,fi+1,fi+2,fi+3]的標(biāo)準(zhǔn)差Si,從中找出最大標(biāo)準(zhǔn)差Smax和最小標(biāo)準(zhǔn)差Smin,構(gòu)建n×n維加權(quán)矩陣Q,加權(quán)矩陣Q的對角線元素其余元素置0,其中,ln為自然對數(shù),e為自然常數(shù);
第四模塊,用于采用分裂迭代法求解拉曼光譜,包括:
第一子模塊,用于初始化分裂法求解參數(shù):光譜初始值f0=f,過度去噪補(bǔ)償初始值b0=0,替代變量初始值d0=0,迭代次數(shù)k=0;
第二子模塊,用于更新計(jì)算fk+1和dk+1:
其中,max為求取最大值,H為儀器響應(yīng)函數(shù),HT為H的轉(zhuǎn)置,Δt為時(shí)間步長,光譜的n×n維差分矩陣歸一化后光譜強(qiáng)度集i=1,2,…,n,正則參數(shù)λ∈(0,1)和β∈(0,1);
第三子模塊,用于更新計(jì)算bk+1=bk+((Df)k+1-dk+1);
第四子模塊,用于判斷fk+1是否滿足迭代停止條件(‖fk+1-fk‖/‖fk‖)>ε,ε為迭代停止閾值,若不滿足,則返回步驟(42),否則輸出拉曼光譜fk+1。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
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