[發明專利]轉換電路及芯片

有效

• 申請號: 201210472164.5
• 申請日: 2012-11-20
• 公開（公告）號: CN102938647A
• 公開（公告）日: 2013-02-20
• 發明（設計）人: 鄧開平;熊濤
• 申請（專利權）人: 華為技術有限公司
• 主分類號: H03M1/10
• 分類號: H03M1/10
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 劉芳

技術領域

本發明實施例涉及電路技術，尤其涉及一種轉換電路及芯片。

背景技術

在產業應用中，需要計算模擬數字轉換器（Analog-to-Digital?Converter，簡稱ADC）的靜態參數，計算ADC的靜態參數需要采集ADC的輸出碼及對應的輸入電壓，但是由于ADC的傳輸特性曲線是多對一的對應函數，這就使得現有的測試ADC的測試電路比較繁瑣，需要的測試時間非常長。

舉例來說，現有技術中采用多點采樣的線性階梯直方圖法或柱狀圖法等方法測試ADC的靜態參數，如積分非線性值（Integral?nonlinearity，簡稱INL），差分非線性值（Differential?Nonlinearity，簡稱DNL），增益誤差（Gain?Error）等。

采用線性階梯直方圖或柱狀圖法屬于統計方法，其具有隨機性和粗略性，且從ADC輸出的輸出碼并不能確定輸入ADC的輸入電壓值。在測試ADC的過程中，只有在采樣點足夠多的條件下，才能有較精準的測試結果，由此導致測試時間非常長。

舉例來說：對10bit的ADC，如用直方圖測試法，其采樣點的數量為(2¹⁰)x16=1024x16=16384，采樣時間會很長。

由此，如何設計一種可以縮短ADC的測試時間的轉換電路成為當前需要解決的技術問題。

發明內容

有鑒于此，針對現有技術中的缺陷，本發明提供一種轉換電路及芯片，用于解決現有技術中測試ADC需要較長測試時間的問題。

第一方面，本發明實施例提供一種轉換電路，所述轉換電路包括輸入單元，數字模擬轉換器DAC，模擬數字轉化器ADC，比較單元，校正單元及測試數據采集單元，所述輸入單元，用于向數字模擬轉換器DAC的輸入端輸入第一標準測試碼集中的標準測試碼；所述數字模擬轉換器DAC，用于接收所述所述輸入單元輸入的所述標準測試碼，將接收的標準測試碼進行數模轉換處理，并通過輸出端輸出轉換后得到的模擬信號；所述模擬數字轉換器ADC，用于通過輸入端接收所述DAC輸出的所述模擬信號，并將所述模擬信號進行模數轉換處理，生成由數字信號構成的測試碼集；所述比較單元，用于將所述ADC輸出的測試碼集與第二標準測試碼集進行比較，若比較結果在預設的誤差范圍內，則所述比較單元通知測試數據采集單元；若所述比較結果超出預設的誤差范圍，則所述比較單元將所述比較結果輸出至校正單元；所述校正單元，用于在所述比較單元中的比較結果超出預設的誤差范圍時，根據所述比較結果獲取補償碼集，并將所述補償碼集輸入至所述輸入單元，以使所述輸入單元根據所述補償碼集對所述第一標準測試碼集進行更新；所述測試數據采集單元，用于在所述比較單元中的比較結果處于預設的誤差范圍內時，獲取所述ADC的輸入端的電壓值，以根據所述電壓值計算所述ADC的靜態參數，其中，所述輸入單元還用于：接收所述校正單元輸出的補償碼集，根據所述補償碼集對所述第一標準測試碼集進行更新，獲取更新后的第一標準測試碼集，將更新后的第一標準測試碼集中的測試碼輸入至所述DAC的輸入端。

結合第一方面，在一種可能的實現方式中，所述DAC的輸出端和所述ADC的輸入端通過測試板連接。

結合第一方面以及上述可能的實現方式，在第二種可能的實現方式中，所述標準測試碼為十進制的線性階梯碼。

結合第一方面以及上述可能的實現方式，在第三種可能的實現方式中，轉換電路還包括：

運算放大器，用于將所述DAC輸出的模擬信號進行放大，并將放大的模擬信號輸入所述ADC；

其中，所述運算放大器的第一輸入端連接所述DAC的輸出端，所述運算放大器的第二輸入端接地，所述運算放大器的輸出端連接所述ADC的輸入端。

結合第一方面以及上述可能的實現方式，在第四種可能的實現方式中，所述測試數據采集單元包括數字轉換器和寄存器，所述數字轉換器用于在ADC的所述輸入端采集所述電壓值，并將在所述ADC的輸入端采集到的所述電壓值存儲在所述寄存器中。

結合第一方面以及上述可能的實現方式，在第五種可能的實現方式中，所述測試數據采集單元，還用于獲取所述DAC輸出端的用于計算所述DAC的靜態參數的電壓值。