[發明專利]一種提高激光測距儀精度的方法無效
| 申請號: | 201210471891.X | 申請日: | 2012-11-20 |
| 公開(公告)號: | CN103017729A | 公開(公告)日: | 2013-04-03 |
| 發明(設計)人: | 王振興 | 申請(專利權)人: | 王振興 |
| 主分類號: | G01C3/00 | 分類號: | G01C3/00 |
| 代理公司: | 深圳市凱達知識產權事務所 44256 | 代理人: | 劉大彎 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市寶*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 提高 激光 測距儀 精度 方法 | ||
1.一種提高激光測距儀精度的方法,包括半導體激光發射器LD和APD組成的發射和接收系統,其特征在于,包括如下步驟:
S10:將環境對LD造成的影響進行補償消除;
S11:將環境對APD造成的影響進行補償消除;
其中,步驟S11進一步包括:
S110:獲取APD的溫度漂移系數;
S111:采用NTC對光敏元件的環境溫度采樣,得到一個溫度值;根據APD的溫度補償的系數,計算出溫度每上升一度,APD的偏置電壓上升多少伏;
S112:用單片機的PWM控制器控制升壓電路,ADC采樣電壓給PWM控制升壓電路,得到相應的偏置電壓,再用APD溫度補償率補償APD的偏壓。
2.如權利要求1所述提高激光測距儀精度的方法,其特征在于:在步驟S110中,首先將APD蓋住,不讓光照到APD上,然后通過調節PWM1的值調節APD的偏置電壓,用ADC1采樣偏置電壓;而通過改變APD的偏置電壓改變APD的偏置電流,用跨導放大器將APD的暗電流放大,并化為電壓,用ADC2采樣電壓值,從而調節PWM1的值就能改變ADC2的電壓,同時也能改變APD的放大倍數。
3.如權利要求2所述提高激光測距儀精度的方法,其特征在于:在步驟S110中,在0攝氏度時,設置PWM1值,調節APD偏置電壓,調節到偏值電流達到設定值,從而得到需求的放大倍數所須的偏置電壓V0;用ADC采樣得到當時的溫度T0;另一個溫度環境,重復0攝氏度的操作,得到該溫度環境下的溫度T1和偏置電壓V2,根據溫漂系數=(V1-V0)/(T0-T1)即可得到溫度漂移系數。
4.如權利要求3所述提高激光測距儀精度的方法,其特征在于:在步驟S10中,將LD回路的地線端或電源端的電流信號引出,進行放大、混頻、鑒相得到相位;同時LD的發射出去的測量信號由APD接收也進行放大、混頻、鑒相處理得到相位,再將兩次的相位相減,這樣得到信號就是沒有環境影響的真實相位。
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