[發(fā)明專利]一種在離子阱中進行的串級質(zhì)譜分析方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201210468599.2
• 申請日: 2012-11-20
• 公開（公告）號: CN102937622A
• 公開（公告）日: 2013-02-20
• 發(fā)明（設計）人: 王亮;徐福興;丁傳凡
• 申請（專利權(quán)）人: 復旦大學
• 主分類號: G01N27/64
• 分類號: G01N27/64
• 代理公司: 上海正旦專利代理有限公司 31200
• 代理人: 陸飛;盛志范

1.一種在離子阱中進行的串級質(zhì)譜分析方法，依次包括離子選擇隔離、碰撞誘導解離和質(zhì)量掃描分析三階段，其中所述離子選擇隔離階段，被選擇的母體離子被隔離，被隔離的離子在離子阱工作電壓產(chǎn)生的電場作用下，通過與中性氣體分子的碰撞冷卻被束縛在離子阱中；所述質(zhì)量掃描分析階段，當離子經(jīng)碰撞誘導解離過程后，碎片離子在偶極激發(fā)電壓的作用下，發(fā)生共振激發(fā)，最終從離子引出電極的引出孔或引出槽中被逐出，被安置在離子阱外的離子探測器檢測獲得離子的質(zhì)譜信號，其特征在于：

所述碰撞誘導解離階段，在離子阱中的用于離子彈出方向的一對電極上，施加非對稱波形的偶極激發(fā)電壓，非對稱波形的偶極激發(fā)電壓產(chǎn)生偶極直流電壓，母體離子在直流電場的作用下，獲得能量被激發(fā),?被激發(fā)的母體離子與離子阱中的中性分子發(fā)生碰撞并解離，產(chǎn)生碎片離子，碎片離子在離子阱中經(jīng)過冷卻后被束縛。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的串級質(zhì)譜分析方法，其特征在于：在所述碰撞誘導解離階段，施加的非對稱波形的偶極激發(fā)電壓可以是正弦波電壓，也可以是數(shù)字方波電壓，或者其它形式的非對稱波形。?

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的串級質(zhì)譜分析方法，其特征在于：在所述碰撞誘導解離階段，非對稱偶極激發(fā)電壓的波形,?其波形的非對稱程度或占空比的值，將根據(jù)實驗需要加以改變和調(diào)節(jié)。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的串級質(zhì)譜分析方法，其特征在于：在所述碰撞誘導解離階段，離子的束縛電壓的頻率和幅度為定值。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的串級質(zhì)譜分析方法，其特征在于：在所述碰撞誘導解離階段，偶極激發(fā)電壓與束縛電壓頻率比值為任意值。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的串級質(zhì)譜分析方法，其特征在于：該方法可以適用于三維離子阱，也可以適用于二維線形離子阱，或者其它幾何形狀的離子阱。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的串級質(zhì)譜分析方法，其特征在于：非對稱波形的偶極激發(fā)電壓施加的時間在零到幾百毫秒范圍。