[發(fā)明專利]一種光纖的宏彎損耗測試工裝

有效

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• 申請日: 2012-11-19
• 公開（公告）號: CN102980745A
• 公開（公告）日: 2013-03-20
• 發(fā)明（設計）人: 曹珊珊;薛馳
• 申請（專利權）人: 中天科技光纖有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發(fā)明涉及光纖制造業(yè)，具體涉及一種光纖的宏彎損耗測試工裝。

背景技術

在光纖制造業(yè)中，光纖的宏彎損耗檢測是非常重要的，現(xiàn)有的光纖在宏彎損耗測試過程中通常是將光纖纏繞在普通的柱狀的測試輪軸上，由于光纖在纏繞過程中，其本身就處于受力緊繃的狀態(tài)，這樣就導致了測試結果不準確，人為測試誤差較高。

發(fā)明內容

發(fā)明目的：本發(fā)明為了解決現(xiàn)有技術不足，提供一種測試結果誤差小、測試效率高的光纖的宏彎損耗測試工裝。

技術方案：一種光纖的宏彎損耗測試工裝，包括搖桿、法蘭和測試輪軸；所述的測試輪軸設在兩個法蘭之間，在測試輪軸上設有可打開和關閉的凹槽，在所述的法蘭設有用于控制凹槽打開和關閉的搖桿。

作為優(yōu)化，在所述凹槽底部設有用于控制所述凹槽打開和關閉的的合頁。

有益效果：本發(fā)明所述的光纖的宏彎損耗測試工裝，與現(xiàn)有技術相比，有效的降低操作影響，提高測試效率，本發(fā)明首先將光纖纏繞在測試輪軸上，繞好后，按動搖桿，則可凹陷槽從圓柱狀態(tài)變成局部凹陷狀態(tài)，將光纖從受力緊繃的狀態(tài)調整成不受力狀態(tài)，測試后能夠有效降低人為測試誤差，同時效率較普通柱狀工裝有提高，本發(fā)明結構簡單，實用性強，適合行業(yè)內的廣泛使用。

附圖說明

圖1為本發(fā)明的結構示意圖。

具體實施方式

下面結合附圖對本發(fā)明具體實施例進行詳細闡述：

如圖1所示，一種光纖的宏彎損耗測試工裝，包括搖桿1、法蘭2和測試輪軸3；測試輪軸3設在兩個法蘭2之間，在測試輪軸3上設有可打開和關閉的凹槽4，在法蘭2設有用于控制凹槽4打開和關閉的搖桿1，凹槽4底部設有用于控制凹槽4打開和關閉的的合頁。

工作原理：先將待測光纖纏繞在測試輪軸上，繞好后，按動搖桿，則可凹陷槽從圓柱狀態(tài)變成局部凹陷狀態(tài)，將光纖從受力緊繃的狀態(tài)調整成不受力狀態(tài)，開始測試后能夠有效降低人為測試誤差，同時效率較普通柱狀工裝有提高。

以上所述僅是本發(fā)明的優(yōu)選實施方式，應當指出：對于本技術領域的普通技術人員來說，在不脫離本發(fā)明原理的前提下，還可以做出若干改進和潤飾，這些改進和潤飾也應視為本發(fā)明的保護范圍。