[發明專利]一種分光光度計掃描機構

無效

• 申請號: 201210467023.4
• 申請日: 2012-11-19
• 公開（公告）號: CN102928078A
• 公開（公告）日: 2013-02-13
• 發明（設計）人: 孫杰;趙園園;樊玉嬴;安亮
• 申請（專利權）人: 天津理工大學
• 主分類號: G01J3/06
• 分類號: G01J3/06;G01J3/18
• 代理公司: 天津佳盟知識產權代理有限公司 12002
• 代理人: 侯力

1.一種分光光度計掃描機構，其特征在于該掃描機構中的點接觸凸輪、推桿、凹面衍射光柵、入射狹縫和出射狹縫的相對位置；入射狹縫和出射狹縫固定，推桿一端與安裝凹面衍射光柵的光柵臺中心固定并剛性連接，推桿另一端與凸輪相切接觸，其中凸輪的矢徑R與凸輪旋轉角度之間的關系為線性關系，在0-270度之間旋轉，使得凸輪加工復雜程度大大減??；

平行光束從入射狹縫入射到凹面衍射光柵，反射光從出射狹縫射出并由接收裝置接收；將凸輪均勻轉動，由推桿帶動凹面衍射光柵轉動，從而使出射光發生變化，根據凸輪的旋轉角度位移和位置位移來設定凸輪輪廓線，使輸出波長為線性變化。

2.根據權利要求1所述的分光光度計掃描機構，其特征在于所述凹面衍射光柵是反射光柵。