[發明專利]偏振分光鏡熱畸變的測量裝置及測量方法

有效

• 申請號: 201210466875.1
• 申請日: 2012-11-19
• 公開（公告）號: CN102967445A
• 公開（公告）日: 2013-03-13
• 發明（設計）人: 劉麗娜;安振杰
• 申請（專利權）人: 核工業理化工程研究院
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 天津市宗欣專利商標代理有限公司 12103
• 代理人: 胡恩河

1.一種偏振分光鏡熱畸變的測量裝置，其特征在于：包括固體激光器、聚焦透鏡、能量光纖、光纖整形鏡片組、分光棱鏡、透射平面鏡、偏振分光鏡、零度濾色片、衰減濾光片、斐索干涉儀以及與斐索干涉儀相連的計算機；固體激光器發出的激光經聚焦透鏡耦合到能量光纖，再經光纖整形鏡片組、分光棱鏡，以θ角照射到偏振分光鏡表面中心位置；斐索干涉儀發出的He-Ne光經衰減濾光片、零度濾色片垂直照射到偏振分光鏡受激光照射區域，并可通過偏振分光鏡到達透射平面鏡，其中0<θ<90°。

2.根據權利要求1所述的偏振分光鏡熱畸變的測量裝置，其特征在于：所述θ為45°。

3.一種偏振分光鏡熱畸變的測量方法，包括以下步驟：

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按照測量裝置安裝各元器件，并調整位置關系：使得固體激光器發出的激光經聚焦透鏡耦合到能量光纖，再經光纖整形鏡片組、分光棱鏡，以θ角照射到偏振分光鏡表面中心位置；同時使斐索干涉儀發出的He-Ne光經衰減濾光片、零度濾色片垂直照射到偏振分光鏡受激光照射區域，并可通過偏振分光鏡到達透射平面鏡；

ⅱ）透射空白測量

在光纖整形鏡片組前臨時放置擋光板，啟動斐索干涉儀，使其發出的He-Ne光照射到偏振分光鏡上，并經偏振分光鏡到達透射平面鏡，斐索干涉儀記錄偏振分光鏡受光照過程中的干涉條紋圖樣，計算機對圖樣進行處理；

ⅲ）透射波前熱畸變測量

移去擋光板，將固體激光器增加到要求的功率后，對固體激光照射下偏振分光鏡的透射波前熱畸變進行測量；

ⅳ）反射空白測量

步驟3）完成后，在光纖整形鏡片組前臨時放置擋光板，移去透射平面鏡，進行偏振分光鏡的反射空白測量；

ⅴ）反射波前熱畸變測量

移去擋光板，一分鐘后，進行偏振分光鏡反射波前熱畸變的測量。

4.根據權利要求3所述的測量方法，其特征在于θ為45°。