[發(fā)明專利]一種小孔徑孔掃描規(guī)

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201210463718.5
• 申請日: 2012-11-18
• 公開（公告）號: CN102980505A
• 公開（公告）日: 2013-03-20
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 蔣新芬
• 申請（專利權(quán)）人: 無錫麥鐵精密機械制造有限公司
• 主分類號: G01B5/28
• 分類號: G01B5/28
• 代理公司: 無錫盛陽專利商標事務(wù)所(普通合伙) 32227
• 代理人: 劉瑞平

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及測量檢驗工具的技術(shù)領(lǐng)域，具體為一種小孔徑孔掃描規(guī)。

背景技術(shù)

當(dāng)小孔徑孔內(nèi)側(cè)的跳動進行檢測時，由于孔徑較小，普通的掃描規(guī)難以檢測，影響了小孔徑孔的檢測、加工質(zhì)量。

發(fā)明內(nèi)容

針對上述問題，本發(fā)明提供了一種小孔徑孔掃描規(guī)，可以簡單、方便、快速對小孔徑孔內(nèi)側(cè)跳動進行檢測，保證了小孔徑孔的檢測、加工質(zhì)量。

其技術(shù)方案是這樣的：一種小孔徑孔掃描規(guī)，其包括掃描規(guī)規(guī)體，所述掃描規(guī)規(guī)體內(nèi)設(shè)置有測量儀，所述掃描規(guī)規(guī)體內(nèi)設(shè)置有測量桿，所述測量桿一端連接所述測量儀，其特征在于：所述測量桿另一端為斜面，所述掃描規(guī)規(guī)體對應(yīng)所述斜面處設(shè)置有通孔，所述通孔內(nèi)設(shè)置有測量頭，所述測量頭長度小于所述測量桿直徑，所述測量頭上設(shè)置有與所述斜面配合的V形槽，所述測量頭斜面端伸出或者與所述測量桿在一平面上。

其進一步特征在于：所述斜面呈45度角；所述掃描規(guī)規(guī)體上對應(yīng)所述測量桿設(shè)置有限位孔，所述限位孔上設(shè)置有限位銷，所述限位銷連接所述測量桿，所述限位銷直徑小于所述限位孔直徑。

本發(fā)明的上述結(jié)構(gòu)中，測量桿另一端為斜面，掃描規(guī)規(guī)體對應(yīng)所述斜面處設(shè)置有通孔，通孔內(nèi)設(shè)置有測量頭，測量頭長度小于所述測量桿直徑，測量頭上設(shè)置有與斜面配合的V形槽，測量頭斜面端伸出或者與測量桿在一平面上，孔內(nèi)側(cè)的位置度通過測量頭頂出測量桿，從測量儀上簡單、方便、快速對小孔徑孔內(nèi)側(cè)跳動進行檢測，保證了小孔徑孔的檢測、加工質(zhì)量。

附圖說明

圖1為本發(fā)明小孔徑孔掃描規(guī)的主視結(jié)構(gòu)圖。

具體實施方式

見圖1，一種小孔徑孔掃描規(guī)，其包括掃描規(guī)規(guī)體1，掃描規(guī)規(guī)體1內(nèi)設(shè)置有測量儀2，掃描規(guī)規(guī)體1內(nèi)設(shè)置有測量桿3，測量桿3一端連接測量儀2，測量桿3另一端為呈45度角的斜面4，掃描規(guī)規(guī)體1對應(yīng)斜面4處設(shè)置有通孔5，通孔5內(nèi)設(shè)置有測量頭6，測量頭6長度小于所述測量桿3直徑，測量頭6上設(shè)置有與斜面4配合的V形槽7，測量頭斜面端10伸出或者與測量桿在一平面上，測量頭6通過V形槽7和斜面的配合把橫向的跳動轉(zhuǎn)換成豎直方向的位置變化，從而檢測出小孔內(nèi)徑的跳動，V形槽7與斜面4呈45度的配合，是把橫向的跳動1:1轉(zhuǎn)換成豎直的位置變化。

掃描規(guī)規(guī)體1上對應(yīng)測量桿3設(shè)置有限位孔8，限位孔8上設(shè)置有限位銷9，限位銷9連接測量桿3，限位銷9直徑小于限位孔8直徑，限位銷9是為了限制測量桿3的上下運動，使得V形槽7與斜面4的運動更加靈敏。?