[發(fā)明專利]磁共振彈性成像精確度檢測方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201210460717.5
• 申請日: 2012-11-15
• 公開（公告）號: CN102920457A
• 公開（公告）日: 2013-02-13
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 丁玉瓊;黃文慧;鐘耀祖;張麗娟;劉新;鄭海榮
• 申請（專利權(quán)）人: 中國科學(xué)院深圳先進技術(shù)研究院
• 主分類號: A61B5/055
• 分類號: A61B5/055
• 代理公司: 廣州華進聯(lián)合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 吳平

1.一種磁共振彈性成像精確度檢測方法，其特征在于，包括以下步驟：

獲取在預(yù)定外力作用下，通過磁共振彈性成像所得的預(yù)定成像區(qū)域的成像位移值；

獲取所述預(yù)定外力及所述預(yù)定成像區(qū)域的彈性模量的大小；

根據(jù)所述預(yù)定外力大小，得到所述預(yù)定成像區(qū)域的應(yīng)力大小；

由所述預(yù)定成像區(qū)域的應(yīng)力及彈性模量的大小，得到所述預(yù)定成像區(qū)域的理論位移值；

將所述預(yù)定成像區(qū)域的理論位移值與通過磁共振彈性成像所得的成像位移值進行比較，檢測出磁共振彈性成像的精確度。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁共振彈性成像精確度檢測方法，其特征在于，所述由所述預(yù)定成像區(qū)域的應(yīng)力及彈性模量的大小，得到所述預(yù)定成像區(qū)域的理論位移值的步驟具體為：由所述預(yù)定成像區(qū)域的應(yīng)力及彈性模量的大小，經(jīng)有限體積元法，并通過彈性力學(xué)方程得到所述預(yù)定成像區(qū)域的理論位移值。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的磁共振彈性成像精確度檢測方法，其特征在于，所述由所述預(yù)定成像區(qū)域的應(yīng)力及彈性模量的大小，經(jīng)有限體積元法，并通過彈性力學(xué)方程得到所述預(yù)定成像區(qū)域的理論位移值的步驟具體包括以下步驟：

將所述預(yù)定成像區(qū)域進行三角剖分，得到原始單元；

對三角剖分后的所述預(yù)定成像區(qū)域進行對偶剖分，得到多個對偶單元；

對三角剖分后的所述預(yù)定成像區(qū)域建立試探函數(shù)，對對偶剖分后的所述預(yù)定成像區(qū)域建立檢驗函數(shù)；

由試探函數(shù)及檢驗函數(shù)得到有限體積元格式的彈性力學(xué)方程；

對每一個對偶單元求解所述有限體積元格式的彈性力學(xué)方程，得到所述預(yù)定成像區(qū)域的理論位移值。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的磁共振彈性成像精確度檢測方法，其特征在于，所述對偶剖分為外心對偶剖分。

5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的磁共振彈性成像精確度檢測方法，其特征在于，所述試探函數(shù)為：

其中，u_h為原始單元上的試探函數(shù)，u_i是u_i(x)在第i個節(jié)點x_i的值。

6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的磁共振彈性成像精確度檢測方法，其特征在于，所述檢驗函數(shù)為：

ψP0(P)=1,P∈KP0*0,P∉KP0*]]>

其中，P為原始單元的節(jié)點，為P₀上的特征函數(shù)。

7.根據(jù)權(quán)利要求3所述的磁共振彈性成像精確度檢測方法，其特征在于，所述有限體積元格式的彈性力學(xué)方程為：

a(uh,ψj)=(f,ψj)+∫Γ1hP‾ψjds,j=1,2,···,N1]]>

其中，f為應(yīng)力，ψ_j為單元上的檢驗函數(shù)，u_h為原始單元上的試探函數(shù)。