[發(fā)明專利]一種基于計(jì)算機(jī)視覺的齒輪缺陷檢測(cè)方法及系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201210460169.6 | 申請(qǐng)日: | 2012-11-15 |
| 公開(公告)號(hào): | CN102914545A | 公開(公告)日: | 2013-02-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王文成 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 濰坊學(xué)院 |
| 主分類號(hào): | G01N21/88 | 分類號(hào): | G01N21/88;G01B11/00 |
| 代理公司: | 濰坊正信專利事務(wù)所 37216 | 代理人: | 石譽(yù)虎 |
| 地址: | 261061 山*** | 國(guó)省代碼: | 山東;37 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 計(jì)算機(jī) 視覺 齒輪 缺陷 檢測(cè) 方法 系統(tǒng) | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于圖像處理技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種基于計(jì)算機(jī)視覺的齒輪缺陷檢測(cè)方法及系統(tǒng)。
背景技術(shù)
齒輪作為一種典型的動(dòng)力傳遞器件,在工業(yè)發(fā)展的歷程中發(fā)揮了十分重要的作用,其質(zhì)量的好壞直接影響著機(jī)械產(chǎn)品的性能。因此,在齒輪生產(chǎn)制造的過程中必須對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量進(jìn)行嚴(yán)格的檢測(cè)和控制。由于齒輪本身的幾何形狀特點(diǎn),對(duì)于齒崩、缺齒、齒歪等缺陷的測(cè)量過程復(fù)雜,常規(guī)的測(cè)量設(shè)備如三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)、齒輪綜合誤差檢查儀等結(jié)構(gòu)復(fù)雜,價(jià)格昂貴,對(duì)測(cè)試人員的要求也較高。現(xiàn)代制造業(yè)的發(fā)展對(duì)齒輪產(chǎn)品的缺陷檢測(cè)提出了更高的要求。
目前,基于計(jì)算機(jī)視覺的齒輪檢測(cè)方法一般需要首先確定齒輪的圓心坐標(biāo)作為基準(zhǔn),因此,圓心坐標(biāo)的確立直接影響到齒輪參數(shù)測(cè)量的精度,在傳統(tǒng)的圖像方法檢測(cè)中,圓心中心檢測(cè)算法有一般需要邊緣檢測(cè)方法確定齒輪的邊緣,然后采用重心法、中值法及Hough變換法確定圓心。
前兩種算法要求圖像分布比較均勻,否則產(chǎn)生較大的誤差;后一種算法需要逐點(diǎn)投票、記錄,所用的時(shí)間較多,而且精度也不夠高。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種基于計(jì)算機(jī)視覺的齒輪缺陷檢測(cè)方法,旨在解決現(xiàn)有技術(shù)提供的齒輪缺陷檢測(cè)算法的效率和精度較低的問題。
本發(fā)明是這樣實(shí)現(xiàn)的,一種基于計(jì)算機(jī)視覺的齒輪缺陷檢測(cè)方法,所述方法包括下述步驟:
通過PCI插槽獲取圖像采集卡采集到的被測(cè)齒輪的源圖像;
對(duì)獲取得到的被測(cè)齒輪的源圖像進(jìn)行包括灰度變換、濾波去噪和閾值分割在內(nèi)的預(yù)處理操作,得到被測(cè)齒輪的齒輪參數(shù);
對(duì)得到的被測(cè)齒輪的齒輪參數(shù)進(jìn)行形態(tài)學(xué)參數(shù)分析,獲取包含可能存在缺陷的齒數(shù)的分析結(jié)果。
作為一種改進(jìn)的方案,所述對(duì)獲取得到的被測(cè)齒輪的源圖像進(jìn)行包括灰度變換、濾波去噪和閾值分割在內(nèi)的預(yù)處理操作,得到被測(cè)齒輪的齒輪參數(shù)的步驟具體包括下述步驟:
將采集到的被測(cè)齒輪的24位彩色源圖像進(jìn)行灰度變換處理,得到8位灰度齒輪圖像;
利用中值濾波算法,對(duì)所述8位灰度齒輪圖像進(jìn)行噪音去除;
利用圖像二值化算法,對(duì)灰度齒輪圖像進(jìn)行閾值分割,得到分離的齒輪和背景圖像。
作為一種改進(jìn)的方案,所述對(duì)得到的被測(cè)齒輪的齒輪參數(shù)進(jìn)行形態(tài)學(xué)參數(shù)分析,獲取包含可能存在缺陷的齒數(shù)的分析結(jié)果的步驟具體包括下述步驟:
利用填充算法,對(duì)所述二值化算法得到的齒輪圖像的孔洞進(jìn)行填充;
對(duì)孔洞填充后的二值化圖像作為目標(biāo),確定計(jì)算所述二值化圖像的圓心坐標(biāo)、齒根圓半徑和齒頂圓半徑;
根據(jù)計(jì)算得到的所述二值化圖像的圓心坐標(biāo)、齒根圓半徑和齒頂圓半徑,對(duì)齒頂和齒根進(jìn)行分離,檢測(cè)齒輪輪齒缺陷,獲得齒根圖像和齒頂圖像;
通過區(qū)域標(biāo)號(hào)法,對(duì)獲得的齒根圖像和齒頂圖像進(jìn)行缺陷分析,計(jì)算齒輪的齒數(shù),確定所述齒根和齒頂圖像的缺陷區(qū)域。
作為一種改進(jìn)的方案,所述對(duì)孔洞填充后的二值化圖像作為目標(biāo),確定計(jì)算所述二值化圖像的圓心坐標(biāo)、齒根圓半徑和齒頂圓半徑的步驟具體包括下述步驟:
讀入孔洞填充后的二值化圖像,記錄齒輪上的坐標(biāo);
在所述二值化圖像上查找距離所述圖像中心最遠(yuǎn)點(diǎn)集合和最近點(diǎn)集合,獲取分別能包含齒輪的最小凸多邊形的坐標(biāo);
根據(jù)最小凸多邊形的坐標(biāo),分別繪制出凸多邊形;
對(duì)所述凸多邊形分別進(jìn)行最小二乘法的圓曲線擬合,計(jì)算齒輪的圓心坐標(biāo)、齒根圓半徑和齒頂圓半徑。
作為一種改進(jìn)的方案,所述根據(jù)計(jì)算得到的所述二值化圖像的圓心坐標(biāo)、齒根圓半徑和齒頂圓半徑,對(duì)齒頂和齒根進(jìn)行分離,檢測(cè)齒輪輪齒缺陷,獲得齒根圖像和齒頂圖像的步驟具體包括下述步驟:
在二值化圖像中,以介于齒根圓半徑與齒頂圓半徑之間的某個(gè)數(shù)值為半徑繪制一個(gè)計(jì)算輔助圓;
設(shè)置一蒙板圖像,所述蒙板圖像大小與齒輪圖像大小相同,所述蒙板圖像的半徑等于齒頂圓半徑與齒根圓半徑之和的一半;
將畫計(jì)算輔助圓后的齒輪圖像與所述蒙板圖像做差運(yùn)算,得到齒頂圖圖像;
將所述蒙板圖像與畫計(jì)算輔助圓后的齒輪圖像做差運(yùn)算,得到齒根圖圖像。
作為一種改進(jìn)的方案,所述通過區(qū)域標(biāo)號(hào)法,對(duì)獲得的齒根圖像和齒頂圖像進(jìn)行缺陷分析,計(jì)算齒輪的齒數(shù),確定所述齒根和齒頂圖像的缺陷區(qū)域的步驟具體包括:
分別對(duì)獲得的齒根圖像和齒頂圖像進(jìn)行區(qū)域標(biāo)記,獲得偽色彩方式顯示的齒根圖像和齒頂圖像;
對(duì)偽色彩方式顯示的齒根圖像和齒頂圖像分別進(jìn)行個(gè)數(shù)和單個(gè)面積計(jì)算;
對(duì)齒頂和齒根面積進(jìn)行統(tǒng)計(jì),分別求取齒頂面積和齒根面積的平均值;
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于濰坊學(xué)院,未經(jīng)濰坊學(xué)院許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
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