[發明專利]一種凸臺斜面高度檢具

無效

• 申請號: 201210459957.3
• 申請日: 2012-11-16
• 公開（公告）號: CN102997803A
• 公開（公告）日: 2013-03-27
• 發明（設計）人: 蔣新芬
• 申請（專利權）人: 無錫麥鐵精密機械制造有限公司
• 主分類號: G01B5/02
• 分類號: G01B5/02
• 代理公司: 無錫盛陽專利商標事務所(普通合伙) 32227
• 代理人: 劉瑞平

技術領域

本發明涉及產品檢測領域，具體為一種凸臺斜面高度檢具。

背景技術

一些工件上會設置有凸臺，對于一些側面為斜面的凸臺，有時候需要檢測斜面上某一處到底面的距離，現在有的量具無法對其直接進行檢測，需要分步測量，在測量過程中容易產生加大誤差，且檢測過程比較復雜，影響檢測效率。

發明內容

為了解決上述問題，本發明提供了一種凸臺斜面高度檢具，其能夠快速準確地檢測出凸臺斜面高度是否符合規格。

其技術方案是這樣的：其特征在于，其包括基準座，所述基準座下端內部設置有與所檢工件凸臺斜面配合的可浮動的測量塊，所述測量塊內側邊沿保留尖角，所述測量塊上端連接機械表，所述測量塊上端與所述基準座內壁間設置有彈簧，所述基準座下端設置有可拆卸的校準件。

其進一步特征在于，所述機械表通過表座安裝于所述基準座上。

采用本發明的結構后，基準座下端內部設置有與所檢工件凸臺斜面配合的可浮動的測量塊，測量塊內側邊沿保留尖角，測量塊上端連接機械表，測量塊上端與基準座內壁設置有彈簧，由基準座定位后通過測量塊即可快速準確地檢測出凸臺斜面高度是否符合規格。

附圖說明

圖1為本發明結構主視圖；

圖2為圖1中測量塊內側邊沿與凸臺斜面接觸放大示意圖；

圖3為校準件示意圖。

具體實施方式

見圖1，圖2，圖3所示，其包括基準座1，基準座1下端內部設置有與所檢工件7凸臺8斜面配合的可浮動的測量塊2，測量塊2內側邊沿保留尖角，測量塊2上端連接機械表3，測量塊2上端與基準座1內壁間設置有彈簧4，基準座1下端設置有可拆卸的校準件5，機械表3通過表座6安裝于基準座1上。

其檢測過程如下所述：先將基準座1放置于校準件5上，對機械表3進行校準，然后將基準座1放置于所檢工件7上，測量塊2內側邊沿與凸臺8接觸，為了保證測量的準確度，將測量塊2內側邊沿保留尖角，測量塊2的浮動改變機械表3的讀數，通過機械表3讀數可以快速檢測出凸臺8斜面的高度。