[發(fā)明專利]一種線損集中器無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201210459025.9 | 申請(qǐng)日: | 2012-11-14 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN102928721A | 公開(kāi)(公告)日: | 2013-02-13 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 葉巍峰;高補(bǔ)林;陸陽(yáng);楊偉炳;陳濤;葛昭 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 余姚市供電局;國(guó)家電網(wǎng)公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/00 | 分類號(hào): | G01R31/00;G08C17/02 |
| 代理公司: | 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227 | 代理人: | 王寶筠 |
| 地址: | 315400 浙江*** | 國(guó)省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 集中器 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及線損測(cè)算技術(shù)領(lǐng)域,更具體的說(shuō)是涉及一種線損集中器。
背景技術(shù)
在輸配電過(guò)程中,電能的傳送和電磁能量的轉(zhuǎn)換都是通過(guò)電流來(lái)實(shí)現(xiàn)的。電流通過(guò)導(dǎo)線時(shí)會(huì)產(chǎn)生損耗,且電力的傳輸網(wǎng)絡(luò)中有大量的變壓器、開(kāi)關(guān)、儀表等設(shè)備,這些設(shè)備也會(huì)消耗一定的能量,一般的,將電力系統(tǒng)供電過(guò)程中的能量損耗稱為線損。目前,節(jié)能降耗研究、線損分壓統(tǒng)計(jì)、線損到戶統(tǒng)計(jì),電力行業(yè)對(duì)線損精細(xì)化管理提出了更高的要求。
現(xiàn)有的400V配電網(wǎng)的線損依靠軟件計(jì)算的方式進(jìn)行測(cè)算,通過(guò)軟件的方式進(jìn)行計(jì)算,計(jì)算的準(zhǔn)確度不高,且軟件計(jì)算的方式便攜性較差。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明實(shí)施例的目的在于提供一種線損集中器,以解決通過(guò)軟件的方式進(jìn)行計(jì)算,計(jì)算的準(zhǔn)確度不高且便攜性較差的問(wèn)題。
一種線損集中器,包括嵌入式微處理器、同步動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器、Nand?Flash、交采及載波通道模塊,電源和實(shí)時(shí)時(shí)鐘;
所述同步動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器、所述Nand?Flash、所述交采及載波通道模塊、所述電源以及所述實(shí)時(shí)時(shí)鐘均與所述嵌入式微處理器連接,其中所述電源與所述實(shí)時(shí)時(shí)鐘連接。
優(yōu)選的,在上述的線損集中器,還包括點(diǎn)陣LCD,所述點(diǎn)陣LCD與所述嵌入式微處理器連接。
優(yōu)選的,在上述的線損集中器,還包括6鍵鍵盤,所述6鍵鍵盤與所述嵌入式微處理器連接。
優(yōu)選的,在上述的線損集中器,還包括USB數(shù)據(jù)接口,所述USB數(shù)據(jù)接口與所述嵌入式微處理器連接。
優(yōu)選的,在上述的線損集中器,還包括無(wú)線模塊,所述無(wú)線模塊與所述嵌入式微處理器連接。
優(yōu)選的,在上述的線損集中器,還包括調(diào)試串口,所述調(diào)試串口與所述嵌入式微處理器連接。
優(yōu)選的,在上述的線損集中器,所述嵌入式微處理器為32位嵌入式微處理器。
優(yōu)選的,在上述的線損集中器,所述嵌入式微處理器為64位嵌入式微處理器。
上述技術(shù)方案具有如下有益效果:
硬件裝置與軟件計(jì)算在計(jì)算的準(zhǔn)確度和便捷性上相比,硬件裝置具有較大的優(yōu)勢(shì),另外,硬件裝置還能實(shí)現(xiàn)快速部署,本發(fā)明實(shí)施例提供一種線損集中器,能夠解決通過(guò)軟件的方式進(jìn)行計(jì)算,計(jì)算的準(zhǔn)確度不高且便攜性較差的問(wèn)題。
附圖說(shuō)明
為了更清楚地說(shuō)明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案,下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹,顯而易見(jiàn)地,下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的實(shí)施例,對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講,在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下,還可以根據(jù)提供的附圖獲得其他的附圖。
圖1為本發(fā)明實(shí)施例提供的線損集中器的一種結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2為本發(fā)明實(shí)施例提供的線損集中器的另一結(jié)構(gòu)示意圖;
圖3為本發(fā)明實(shí)施例提供的線損集中器的另一結(jié)構(gòu)示意圖;
圖4為本發(fā)明實(shí)施例提供的線損集中器的另一結(jié)構(gòu)示意圖;
圖5為本發(fā)明實(shí)施例提供的線損集中器的另一結(jié)構(gòu)示意圖;
圖6為本發(fā)明實(shí)施例提供的線損集中器的另一結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖,對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例,而不是全部的實(shí)施例。基于本發(fā)明中的實(shí)施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒(méi)有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例,都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
參考圖1所示,本發(fā)明提供一種線損集中器,包括嵌入式微處理器101、同步動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器102、Nand?Flash?103、交采及載波通道模塊104,電源105和實(shí)時(shí)時(shí)鐘106;
其中,同步動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器102、Nand?Flash?103、交采及載波通道模塊104、電源105以及實(shí)時(shí)時(shí)鐘106均與嵌入式微處理器101連接,其中電源105與實(shí)時(shí)時(shí)鐘106連接。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試





