[發(fā)明專利]一種印制線路板微電阻庫(kù)方阻值的測(cè)試方法

無(wú)效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201210457180.7
• 申請(qǐng)日: 2012-11-14
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN102967762A
• 公開(kāi)（公告）日: 2013-03-13
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王澤東;趙占波;馬庭峰
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 大連太平洋電子有限公司
• 主分類號(hào): G01R27/02
• 分類號(hào): G01R27/02
• 代理公司: 大連東方專利代理有限責(zé)任公司 21212
• 代理人: 李洪福

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及印制線路板微電阻庫(kù)方阻值的測(cè)試方法的改進(jìn)。

背景技術(shù)

印制板在加工制造過(guò)程中組，為保證成品板的電性能，在交付客戶使用前，需要對(duì)板邊庫(kù)方進(jìn)行微電阻測(cè)試，用以檢驗(yàn)生產(chǎn)板基銅、鍍銅、激光孔、通孔以及線條狀況。在微電阻測(cè)試時(shí)，測(cè)試裝置的使用必不可少。現(xiàn)在我們公司使用的微電阻測(cè)試裝置是從專業(yè)制造廠商采購(gòu)而來(lái)，采購(gòu)成本相對(duì)較高，使用過(guò)程中容易損壞，不便于維修。而且在測(cè)試過(guò)程中要使用雙手測(cè)試，不便于記錄數(shù)據(jù)，因而降低了生產(chǎn)效率。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明針對(duì)以上問(wèn)題的提出，而研制一種印制線路板微電阻庫(kù)方阻值的測(cè)試方法。所述的方法可以準(zhǔn)確的測(cè)試庫(kù)方的阻值，精度達(dá)到±0.1mΩ，既能滿足了客戶要求，又節(jié)約了生產(chǎn)成本，而且所述的測(cè)試裝置可以使用單手測(cè)試，方便操作，提高了加工效率。本發(fā)明采用的技術(shù)手段如下：

一種印制線路板微電阻庫(kù)方阻值的測(cè)試方法，其特征在于包括如下步驟：

1）印制線路板按照設(shè)計(jì)的工藝流程加工至銑外形前；

2）阻值測(cè)試庫(kù)方銑加工：

a、在印制線路板的板邊非有效圖形區(qū)域，設(shè)有微電阻測(cè)試的測(cè)試庫(kù)方，包括通孔測(cè)試庫(kù)方和激光孔測(cè)試庫(kù)方；

b、對(duì)印制線路板進(jìn)行銑加工作業(yè)，包括對(duì)阻值測(cè)試庫(kù)方的銑加工；

c、銑外形作業(yè)完成后，阻值測(cè)試庫(kù)方作為一個(gè)獨(dú)立的部件從印制線路板上分離下來(lái)；

3）微電阻測(cè)試：一手持待測(cè)阻值測(cè)試庫(kù)方，一手持微電阻測(cè)試裝置，將微電阻測(cè)試裝置的彈簧測(cè)試針的針尖對(duì)準(zhǔn)待測(cè)的阻值測(cè)試庫(kù)方上，垂直方向下壓直到微電阻測(cè)試儀顯示值穩(wěn)定后開(kāi)始讀數(shù)，并記錄阻值測(cè)試數(shù)據(jù)。

所述微電阻測(cè)試裝置包括：測(cè)試探頭、導(dǎo)線及微電阻測(cè)試儀專用插頭；所述測(cè)試探頭由外殼、印制板、雙刀雙擲開(kāi)關(guān)、彈簧測(cè)試針針套及彈簧測(cè)試針組成；所述印制板前端焊接有6支彈簧測(cè)試針針套，每支彈簧測(cè)試針針套內(nèi)插入一支彈簧測(cè)試針，所述彈簧測(cè)試針?lè)殖勺蠼M、中組和右組三組，每組兩支彈簧測(cè)試針，每組兩支彈簧測(cè)試針的中心距為1.3mm；所述雙刀雙擲開(kāi)關(guān)為橋型開(kāi)關(guān)，焊接在印制板的導(dǎo)線焊接盤上；所述微電阻測(cè)試儀專用插頭通過(guò)導(dǎo)線連接在印制板后端的導(dǎo)線焊接盤上；所述左組和中組兩組彈簧測(cè)試針的間距同激光孔測(cè)試庫(kù)方的間距相同，所述左組和右組兩組彈簧測(cè)試針的間距同通孔測(cè)試庫(kù)方的間距相同；所述微電阻測(cè)試裝置的電連接關(guān)系如下：雙刀雙擲開(kāi)關(guān)擲于一端A時(shí)左組和中組兩組彈簧測(cè)試針同微電阻測(cè)試儀實(shí)現(xiàn)電聯(lián)接；雙刀雙擲開(kāi)關(guān)擲于另一端B時(shí)左組和右組兩組彈簧測(cè)試針同微電阻測(cè)試儀實(shí)現(xiàn)電聯(lián)接。

同現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)是顯而易見(jiàn)的具體如下：

1、外殼使用塑料材質(zhì)制作，上下外殼之間用螺絲固定，結(jié)構(gòu)緊固，便于拆卸清理和維修，經(jīng)濟(jì)環(huán)保。

2、微電阻測(cè)試裝置可以單手手持分別對(duì)通孔微電阻和激光孔微電阻進(jìn)行阻值測(cè)試，提高測(cè)試效率。

3、微電阻測(cè)試精度高達(dá)±0.1mΩ，既能滿足了客戶要求，又節(jié)約了生產(chǎn)成本。

附圖說(shuō)明

圖1是本發(fā)明微電阻測(cè)試裝置整體結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2是本發(fā)明微電阻測(cè)試裝置內(nèi)部結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3是本發(fā)明微電阻測(cè)試裝置印制板結(jié)構(gòu)示意圖；

圖4是本發(fā)明線路板結(jié)構(gòu)示意圖；

圖5是本發(fā)明激光孔微電阻測(cè)試過(guò)程示意圖；

圖6是本發(fā)明通孔微電阻測(cè)試過(guò)程示意圖。

圖中，1為外殼，1a為上外殼，1b為下外殼，1c為固定螺絲孔，2為印制板，2a為定位孔，2b為導(dǎo)線焊接盤，3為雙刀雙擲開(kāi)關(guān)，4為彈簧測(cè)試針針套，5為彈簧測(cè)試針，6為導(dǎo)線，7為微電阻測(cè)試儀專用插頭，8為微電阻測(cè)試儀，9為線路板，9a為激光孔測(cè)試庫(kù)方，9b為通孔測(cè)試庫(kù)方。

具體實(shí)施方式

如圖1至圖6所示的一種印制線路板微電阻庫(kù)方阻值的測(cè)試方法，其特征在于包括如下步驟：

1）印制線路板按照設(shè)計(jì)的工藝流程加工至銑外形前；

2）阻值測(cè)試庫(kù)方銑加工：

a、在印制線路板的板邊非有效圖形區(qū)域，設(shè)有微電阻測(cè)試的測(cè)試庫(kù)方，包括通孔測(cè)試庫(kù)方和激光孔測(cè)試庫(kù)方；

b、對(duì)印制線路板進(jìn)行銑加工作業(yè)，包括對(duì)阻值測(cè)試庫(kù)方的銑加工；

c、銑外形作業(yè)完成后，阻值測(cè)試庫(kù)方作為一個(gè)獨(dú)立的部件從印制線路板上分離下來(lái)；

3）微電阻測(cè)試：一手持待測(cè)阻值測(cè)試庫(kù)方，一手持微電阻測(cè)試裝置，將微電阻測(cè)試裝置的彈簧測(cè)試針的針尖對(duì)準(zhǔn)待測(cè)的阻值測(cè)試庫(kù)方上，垂直方向下壓直到微電阻測(cè)試儀顯示值穩(wěn)定后開(kāi)始讀數(shù)，并記錄阻值測(cè)試數(shù)據(jù)。