[發明專利]一種PCB板檢測方法、裝置及系統

有效

• 申請號: 201210455022.8
• 申請日: 2012-11-13
• 公開（公告）號: CN102937595A
• 公開（公告）日: 2013-02-20
• 發明（設計）人: 李少騰;姚力;胡瑛俊;樓軼;吳幸
• 申請（專利權）人: 浙江省電力公司電力科學研究院;國家電網公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 王寶筠

1.一種PCB板檢測方法，其特征在于，包括：

獲取待檢測的PCB板的PCB圖像；

對所述PCB圖像進行對齊預處理；

將預處理后的PCB圖像與預先創建的標準模板進行匹配，當滿足匹配條件時，確定所述預處理后的PCB圖像的待檢測區域；

提取所述待檢測區域中元器件的特征；

利用預先訓練好的支持向量機SVM對所述元器件的特征進行分類識別，通過分類識別結果判定所述待檢測區域是否存在指定元器件。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述對所述PCB圖像進行對齊預處理包括：

將所述PCB圖像與預先構造的背景圖像利用背景差法獲取PCB板對象；

將所述PCB板對象二值化得到前景對象，并對所述前景對象進行形態學處理；

從進行形態學處理后的前景對象中確定邊緣像素，并利用哈夫變換結合所述邊緣像素確定直線；

獲取所述直接的斜率，并依據所述直線的斜率旋轉圖像。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，將預處理后的PCB圖像與所述標準模板進行匹配，當滿足匹配條件時，確定所述預處理后的PCB圖像的待檢測區域具體為:

利用序貫相似性檢測算法SSDA確定所述預處理后的PCB圖像的待檢測區域。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，提取所述待檢測區域的元器件特征包括：

提取所述待檢測區域的元器件的顏色特征、形狀特征和紋理特征。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述提取所述待檢測區域的元器件的形狀特征具體為：

采用8-鄰域跟蹤算法提取元器件的輪廓。

6.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述提取所述待檢測區域的元器件的紋理特征具體為：

將圖像灰度和梯度信息相結合，從灰度-梯度共生矩陣中提取元器件的紋理特征。

7.一種PCB板檢測裝置，其特征在于，包括：獲取單元、預處理單元、匹配單元、確定單元、提取單元、分類單元和判定單元；

所述獲取單元，用于獲取待檢測的PCB板的PCB圖像；

所述預處理單元，用于對所述獲取單元獲取的PCB圖像進行對齊預處理；

所述匹配單元，用于將所述預處理單元進行預處理后的PCB圖像與預先創建的標準模板進行匹配；

所述確定單元，用于當滿足匹配條件時，確定所述預處理后的PCB圖像的待檢測區域；

所述提取單元，用于提取所述確定單元確定的待檢測區域中元器件的特征；

所述分類單元，用于利用預先訓練好的支持向量機SVM對所述提取單元提取的元器件的特征進行分類識別，得到分類識別結果；

所述判定單元，用于通過所述分類單元的分類識別結果判定所述待檢測區域是否存在指定元器件。

8.根據權利要求7所述的裝置，其特征在于，所述預處理單元包括：第一獲取子單元、第一圖像處理子單元、確定子單元、第二獲取子單元和第二圖像處理子單元；

所述第一獲取子單元，用于將所述PCB圖像與預先構造的背景圖像利用背景差法獲取所述PCB板對象；

所述第一圖像處理子單元，用于將所述第一獲取子單元獲取的PCB板對象二值化，得到前景對象，對所述前景對象進行形態學處理；

所述確定子單元，用于從所述第一圖像處理子單元處理后的前景對象中確定邊緣像素，并利用哈夫變換結合所述邊緣像素確定直線；

所述第二獲取子單元，用于獲取所述確定子單元確定的直接的斜率；

所述第二圖像處理子單元，用于依據所述第二獲取子單元獲取的直線的斜率旋轉圖像。

9.一種PCB板檢測系統，其特征在于，包括：如權利要求7至8中任意一項所述的PCB板檢測裝置。