[發明專利]具有改良式壓柱的測試座及其測試系統

有效

• 申請號: 201210453802.9
• 申請日: 2012-11-13
• 公開（公告）號: CN103809097A
• 公開（公告）日: 2014-05-21
• 發明（設計）人: 丁偉修
• 申請（專利權）人: 京元電子股份有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26;G01R1/04;G01D18/00
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 宋焰琴

1.一種具有改良式壓柱的測試座，包括：

一吸測盤，具有多個壓柱，每一壓柱穿設有一通道及具有一圖樣的截面部；

一套襯座，具有可容納多個待測傳感器的多個容納室，其對應該多個壓柱設置，該吸測盤的每一壓柱分別置入套設于該套襯座的每一容納室；以及

一基座，該基座上具有多個穿孔以容納多個探針。

2.如權利要求1所述的測試座，其中，該截面部為多邊形、十字形、蝴蝶結形、圓形、及其組合。

3.如權利要求1所述的測試座，其中，該通道為圓柱形、多邊形柱體、及其組合。

4.如權利要求1所述的測試座，其中，該截面部為對稱或非對稱的幾何形狀。

5.如權利要求1所述的測試座，其中，該通道對應該待測傳感器的一感應元件。

6.如權利要求1所述的測試座，其中，該截面部對應接觸該待測傳感器的一非感應元件。

7.如權利要求1所述的測試座，其中，該截面部的尺寸與該待測傳感器的尺寸相同。

8.如權利要求1所述的測試座，其中，該截面部設置有一彈性層，用以抵觸該待測傳感器。

9.如權利要求1所述的測試座，其中，該吸測盤的每一壓柱連通一真空源及一壓力源。

10.一種使用具有改良式壓柱的測試系統，包括：

一第一機臺，具有一分類模塊，其用以分類多個待測傳感器進料及依測試結果分類出料；以及

一第二機臺，設于該第一機臺的一側，其中該第一機臺通過一移行機構與該第二機臺相連接，該第二機臺包括一測試座、及一負載基板，該測試座包括：

一吸測盤，具有多個壓柱，其中每一壓柱穿設有一通道及具有一圖樣的截面部；

一套襯座，具有可容納多個待測傳感器的多個容納室，其對應該多個壓柱設置，該吸測盤的每一壓柱分別置入套設于該套襯座的每一容納室；以及

一基座，該基座上具有多個穿孔以容納多個探針。

11.如權利要求10所述的測試系統，其中，該截面部為多邊形、十字形、蝴蝶結形、圓形、及其組合。

12.如權利要求10項所述的測試系統，其中，該信道為圓柱形、多邊形柱體、及其組合。

13.如權利要求10所述的測試系統，其中，該截面部為對稱或非對稱的幾何形狀。

14.如權利要求10所述的測試系統，其中，該信道對應該待測傳感器的一感應元件。

15.如權利要求10所述的測試系統，其中，該截面部對應接觸該待測傳感器的一非感應元件。

16.如權利要求10所述的測試系統，其中，該截面部的尺寸與該待測傳感器的尺寸相同。

17.如權利要求10所述的測試系統，其中，該截面部設置有一彈性層，用以抵觸該待測傳感器。

18.如權利要求10所述的測試系統，其中，該分類模塊包括一第一本體、設于該第一本體上的一轉塔、圍繞該轉塔而設置的一進料槽、一檢視裝置、及一料盤，該料盤上具有多個凹槽。

19.如權利要求10所述的測試系統，其中，該移行機構還包含一取放器，用以吸取該吸測盤。

20.如權利要求10所述的測試系統，其中，該負載基板設有多個夾頭，用以夾持該基座。

21.如權利要求19所述的測試系統，其中，該移行機構的該取放器吸取該吸測盤移行于一第一位置與一第二位置，當該取放器位于該第一位置時對應于該料盤，當該取放器位于該第二位置時對應于該基座。

22.如權利要求10所述的測試系統，其中，該基座具有多個通孔，每一通孔連通一真空源及一壓力源。