[發明專利]一種界面測量裝置及方法

無效

• 申請號: 201210450294.9
• 申請日: 2012-11-12
• 公開（公告）號: CN102967342A
• 公開（公告）日: 2013-03-13
• 發明（設計）人: 張英飛;楊曉東;樊江波;周曉東;李蘇寧
• 申請（專利權）人: 鞍鋼集團工程技術有限公司
• 主分類號: G01F23/284
• 分類號: G01F23/284
• 代理公司: 鞍山嘉訊科技專利事務所 21224
• 代理人: 張群

技術領域

本發明涉及工業儀表測量領域，尤其涉及一種界面測量裝置及方法。

背景技術

目前，在液位測量方法中主要有差壓法、超聲波法、雷達法、導波雷達等幾種方法，但是對于界面測量（二種介質）及液面上有泡沫或其它雜質的情況下，測量就變為極難，且測不準確，甚至測量不了。

發明內容

為克服現有技術的不足，本發明的目的是提供一種界面測量裝置及方法，精確測量該介質液位，測量有泡沫的液位。

為實現上述目的，本發明通過以下技術方案實現：

一種界面測量裝置，包括膜片、導波桿，膜片與導波桿滑動連接；所述的膜片密度比下面的被測介質密度小，比上面的被測介質密度大；

利用界面測量裝置測量界面的方法，包括以下步驟：

1）測量待測界面的二種液體密度；

2）制作膜片，采用密度小于下面液體密度、大于上面液體密度的材料，制作一外徑80-110mm，內徑大于導波雷達導波桿直徑，厚度2~3mm的膜片；

3）將膜片穿在雷達導波桿上，可在導波桿上自由滑動，同時在導波桿最下端設置限位裝置，使膜片滑動時不能脫離導波桿；

4）將界面測量裝置插入裝載被測介質的容器中，膜片浮在上下二種介質的分界面上，調整雷達反射波，使之在膜片上產生反射，即可得到界面液位。

與現有技術相比，本發明的有益效果是：

結構簡單，測量方法快速、簡單、方便、可靠，能精確測量界面液位，可同時測量二種介質的高度，特別是可以測量有泡沫的液位。

附圖說明

圖1是本發明的結構示意圖。

圖中：1-導波雷達??2-膜片??3-導波桿。

具體實施方式

下面結合說明書附圖對本發明進行詳細地描述，但是應該指出本發明的實施不限于以下的實施方式。

見圖1，一種界面測量裝置，包括膜片2、導波桿3，膜片2與導波桿3滑動連接；所述的膜片2密度比下面的被測介質密度小，比上面的被測介質密度大。

利用界面測量裝置測量界面的方法，包括以下步驟：

1）測量待測界面的二種液體密度；

2）制作膜片2，采用密度小于下面液體密度、大于上面液體密度的材料，制作一外徑80-110mm，內徑大于導波雷達導波桿直徑，厚度2~3mm的膜片2；

3）將膜片2穿在雷達導波桿3上，可在導波桿3上自由滑動，同時在導波桿3最下端設置限位裝置，使膜片2滑動時不能脫離導波桿3；

4）將界面測量裝置插入裝載被測介質的容器中，膜片2浮在上下二種介質的分界面上，調整雷達反射波，使之在膜片2上產生反射，即可得到界面液位。

利用此種方法還可精確測量泡沫下面的液位；如果想同時測量二種介質的高度，就調整導波雷達在最上表面和界面的二個反射波，即可同時測量界面及最上面液面高度了。

本發明裝置結構簡單，測量方法快速、簡單、方便、可靠，能精確測量界面液位，可同時測量二種介質的高度，特別是可以測量有泡沫的液位。