[發明專利]砂巖儲層非均勻損害深度的計算方法

有效

• 申請號: 201210448956.9
• 申請日: 2012-11-12
• 公開（公告）號: CN103806904A
• 公開（公告）日: 2014-05-21
• 發明（設計）人: 王新海;張福祥;李公讓;孫玉;劉洪
• 申請（專利權）人: 中國石油天然氣集團公司;長江大學;中國石油大學（北京）
• 主分類號: E21B49/00
• 分類號: E21B49/00;E21B47/00;E21B47/04
• 代理公司: 北京市中實友知識產權代理有限責任公司 11013
• 代理人: 熊成香

技術領域：

本發明涉及一種砂巖儲層非均勻損害深度的計算方法，屬油氣勘探開發儲層保護技術領域。

背景技術：

在油氣勘探開發過程中，儲層損害是指近井壁帶流出或注入的流體的流動阻力增加或流動速度下降，使儲層達不到預定的產量或注入量。儲層損害的核心問題是由于鉆井液、完井液、修井液等的性質不佳，使用不當，改變了儲層的巖石結構、表面性質、甚至引起潤濕性和流體相態的變化；或由于各種工作液的濾液和儲層中的流體發生化學反應，造成各種垢的沉淀聚集，或由于外部各種固相顆粒的侵入及各種原因引起儲層微粒的分散運動等。探井在鉆開儲集層后，鉆井作業方式和鉆井液的優劣將直接影響到儲層的產能。

目前，通常用來計算儲層的損害深度，但該式假設儲層為均勻損害，即損害區內的滲透率為常數。而實際上儲層損害是非均勻的，即損害區內的滲透率為變數,越靠近井壁儲層損害越嚴重。儲層損害深度是決定增產措施的依據。

發明內容：

為了克服現有技術的不足，本發明的目的在于提供一種砂巖儲層非均勻損害深度的計算方法，可計算砂巖儲層非均勻損害的損害深度，使其更加符合實際，對儲層保護效果評價具有重要意義。

本發明是通過如下技術方案來實現上述目的的。

（1）資料數據的收集

收集井身參數、邊界參數、地層參數、流體參數、射孔參數、生產參數；

收集的具體參數名稱為：井名、井段、井型、井斜角、井半徑、兩相區外半徑、總表皮系數、單相與兩相滲透率的比值、邊界類型、邊界夾角、距第1條邊界距離、距第2條邊界距離、地層特性、孔隙度、幾何形狀因子、地層厚度、打開的地層厚度、綜合壓縮系數、地層壓力敏感系數、外域滲透率、垂直滲透率、水平滲透率、原始滲透率、流體體積系數、流體粘度、流體地面密度、紊流系數、非達西流系數、射孔相位角、充填礫石滲透率、射孔深度、射孔總數、子彈半徑、井底流壓、地層原始壓力、霍納斜率、生產時間、產量。

（2）地層損害表皮系數的求得

將總表皮系數S進行分解，求得地層損害表皮系數S_d，即

S_d＝S-S_pt-S_pf-S_nD-S_CA-S_θ-S_cp-S_an-S_b-S_vq-S_p

式中：S-總表皮系數；S_pt-部分打開表皮系數；S_pf-射孔表皮系數；S_nD-非達西表皮系數；S_CA-油藏形狀表皮系數；S_θ-井斜表皮系數；S_cp-相變表皮系數；S_an-各向異性表皮系數；S_b-邊界表皮系數；S_vq-變產量表皮系數；S_p-壓敏表皮系數。

①部分打開表皮系數

Spt=(hhp-1)[ln(hrwkkv)-2]]]>

式中：h-地層厚度，m；h_p-打開的地層厚度，m；k-水平滲透率，μm²；k_v-垂向滲透率，μm²。

②井斜表皮系數