[發明專利]測量方法、測量裝置及計算機程序產品

無效

• 申請號: 201210447502.X
• 申請日: 2012-11-09
• 公開（公告）號: CN103364432A
• 公開（公告）日: 2013-10-23
• 發明（設計）人: 簡恒杰;戴明吉;吳升財;謝慧霖;黃菁儀
• 申請（專利權）人: 財團法人工業技術研究院
• 主分類號: G01N25/20
• 分類號: G01N25/20
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 史新宏

1.一種測量方法，其特征在于，用以測量熱電模塊，該測量方法包括：

提供穩定溫度至該熱電模塊；

施加電流至該熱電模塊，以使該熱電模塊的兩端分別成為熱端及冷端，其中該熱端的溫度大于該冷端的溫度；

在第一時間內的多個時間點的每一該時間點上測量該熱電模塊的端電壓、該熱端的熱端溫度及該冷端的冷端溫度；

根據該第一時間內的這些時間點所測得的這些端電壓、這些熱端溫度及這些冷端溫度，計算這些熱端溫度與對應的這些冷端溫度的多個差值，以得到這些端電壓相對于這些差值的熱電關系；以及

根據該熱電關系估計該熱電模塊的至少一第一參數值。

2.如權利要求1所述的測量方法，其特征在于得到該熱電關系的方法包括：根據該第一時間內的這些時間點所測得的這些端電壓與這些端電壓對應的這些差值作線性回歸，以得到熱電關系方程式。

3.如權利要求2所述的測量方法，其特征在于根據該熱電關系估計該熱電模塊的該至少一第一參數值的方法包括：

以該熱電關系方程式所代表的直線的斜率作為該熱電模塊的席貝克系數。

4.如權利要求3所述的測量方法，其特征在于該熱電模塊包括第一基板、第二基板及M對彼此電性連接的熱電引腳，其中M為正整數，每一對該熱電引腳連接該第一基板與該第二基板，該測量方法還包括：

將該熱電模塊的席貝克系數除以2M，以得到每一該熱電引腳的平均席貝克系數。

5.如權利要求2所述的測量方法，其特征在于根據該熱電關系估計該熱電模塊的該至少一第一參數值的方法包括：

以該熱電關系方程式與坐標軸的截距除以該電流的大小后所得到的值作為該熱電模塊的內電阻值，其中該坐標軸為該熱電關系方程式中該熱端溫度與該冷端溫度的該差值為零的軸。

6.如權利要求5所述的測量方法，其特征在于該熱電模塊包括第一基板、第二基板及M對彼此電性連接的熱電引腳，其中M為正整數，每一對該熱電引腳連接該第一基板與該第二基板，該測量方法還包括：

將該熱電模塊的該內電阻值乘以A，除以h，再除以2M，以得到每一該熱電引腳的電阻率，其中A為單一個該熱電引腳在垂直于該電流方向上的截面積，且h為該熱電引腳在平行于該電流方向上的高度。

7.如權利要求1所述的測量方法，其特征在于，還包括在該第一時間之后的第二時間內，測量該冷端的該冷端溫度或該熱端的該熱端溫度，并根據該至少一第一參數值且根據該第二時間內的該冷端溫度或該熱端溫度來估計出第二參數值。

8.如權利要求7所述的測量方法，其特征在于該第二時間內所測量的該熱端溫度與對應的該冷端溫度的該差值、該冷端溫度及該熱端溫度分別為ΔT、T_c及T_h，且該電流為I，得到該熱電關系的方法包括：根據這些第一時間點所測得的這些端電壓與這些端電壓對應的這些差值作線性回歸，以得到該熱電關系方程式，且根據該熱電關系方程式來估計該熱電模塊的該至少一第一參數值的方法包括：

以該熱電關系方程式所代表的直線的斜率作為該熱電模塊的席貝克系數S；以及

以該熱電關系方程式與坐標軸的截距除以該電流的大小后所得到的值作為該熱電模塊的內電阻值R，其中該坐標軸為該熱電關系方程式中該熱端溫度與該冷端溫度的該差值為零的軸；且

根據該至少一第一參數值，且根據該第二時間內的該冷端溫度或該熱端溫度來估計出該第二參數值的方法包括：

根據S、I、T_c、R及ΔT或根據S、I、T_h、R及ΔT來估計該熱電模塊的熱導值。

9.如權利要求8所述的測量方法，其特征在于提供該穩定溫度至該熱電模塊的方法包括：

在該冷端上設置熱絕緣體；以及

在該熱端上設置控溫元件，以調控該熱端的溫度，且

根據S、I、T_c、R及ΔT或根據S、I、T_h、R及ΔT來估計該熱電模塊的該熱導值的方法包括：

計算(SIT_c-I²R／2)／ΔT的結果，以得到該熱電模塊的該熱導值。