[發(fā)明專利]三維非易失性存儲(chǔ)器件、存儲(chǔ)系統(tǒng)及其制造方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201210442592.3 | 申請(qǐng)日: | 2012-11-08 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN103165618B | 公開(kāi)(公告)日: | 2017-05-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 盧侑炫;崔鍾武;安泳洙 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 愛(ài)思開(kāi)海力士有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L27/11582 | 分類號(hào): | H01L27/11582 |
| 代理公司: | 北京弘權(quán)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙)11363 | 代理人: | 石卓瓊,郭放 |
| 地址: | 韓國(guó)*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 三維 非易失性存儲(chǔ)器 存儲(chǔ)系統(tǒng) 及其 制造 方法 | ||
1.一種三維非易失性存儲(chǔ)器件,包括:
溝道結(jié)構(gòu),所述溝道結(jié)構(gòu)每個(gè)都包括層疊在襯底之上的溝道層并沿第一方向延伸,其中,所述溝道層分別包括阱區(qū);
垂直柵,所述垂直柵位于所述溝道結(jié)構(gòu)之間并且彼此間隔開(kāi);
阱拾取線,所述阱拾取線與所述溝道層的所述阱區(qū)接觸,并且沿著與所述溝道結(jié)構(gòu)交叉的第二方向延伸;以及
字線,所述字線與所述垂直柵電耦接,并且沿著與所述溝道結(jié)構(gòu)交叉的所述第二方向延伸。
2.如權(quán)利要求1所述的三維非易失性存儲(chǔ)器件,還包括:
存儲(chǔ)層,所述存儲(chǔ)層插入在所述溝道結(jié)構(gòu)與所述垂直柵之間,以及插入在所述溝道結(jié)構(gòu)與所述字線中的每個(gè)之間。
3.如權(quán)利要求1所述的三維非易失性存儲(chǔ)器件,還包括:結(jié),所述結(jié)形成在暴露在所述垂直柵之間的所述溝道層中。
4.如權(quán)利要求3所述的三維非易失性存儲(chǔ)器件,其中,所述溝道層包括低濃度的P型雜質(zhì),所述結(jié)包括N型雜質(zhì),以及所述阱區(qū)包括高濃度的P型雜質(zhì)。
5.如權(quán)利要求1所述的三維非易失性存儲(chǔ)器件,還包括:
源極區(qū),所述源極區(qū)形成在所述溝道層中的每個(gè)中;以及
源極線,所述源極線與所述溝道層的所述源極區(qū)接觸,并且沿與所述溝道結(jié)構(gòu)交叉的所述第二方向延伸。
6.如權(quán)利要求5所述的三維非易失性存儲(chǔ)器件,其中,所述溝道層包括低濃度的P型雜質(zhì),所述源極區(qū)包括N型雜質(zhì),以及所述阱區(qū)包括高濃度的P型雜質(zhì)。
7.一種存儲(chǔ)系統(tǒng),包括:
三維非易失性存儲(chǔ)器件,所述三維非易失性存儲(chǔ)器件包括溝道結(jié)構(gòu)、垂直柵、字線以及阱拾取線,所述溝道結(jié)構(gòu)每個(gè)都具有層疊在襯底之上的溝道層并且包括各個(gè)阱區(qū),所述垂直柵位于所述溝道結(jié)構(gòu)之間并且彼此間隔開(kāi),所述字線與所述垂直柵電耦接并且沿著與所述溝道結(jié)構(gòu)交叉的第二方向延伸,所述阱拾取線與所述溝道層的所述阱區(qū)接觸,并且沿著與所述溝道結(jié)構(gòu)交叉的方向延伸;以及
存儲(chǔ)控制器,所述存儲(chǔ)控制器被配置成控制所述三維非易失性存儲(chǔ)器件。
8.如權(quán)利要求7所述的存儲(chǔ)系統(tǒng),還包括:結(jié),所述結(jié)形成在暴露在所述垂直柵之間的所述溝道層中。
9.如權(quán)利要求7所述的存儲(chǔ)系統(tǒng),還包括:
源極區(qū),所述源極區(qū)形成在所述溝道層中的每個(gè)中;以及
源極線,所述源極線與所述溝道層的所述源極區(qū)接觸,并且沿著與所述溝道結(jié)構(gòu)交叉的方向延伸。
10.一種制造三維非易失性存儲(chǔ)器件的方法,所述方法包括以下步驟:
形成溝道結(jié)構(gòu),所述溝道結(jié)構(gòu)每個(gè)都包括交替層疊在襯底之上的溝道層和層間絕緣層,其中,所述溝道層分別包括阱區(qū);
形成垂直柵和字線,所述垂直柵在所述溝道結(jié)構(gòu)之間彼此間隔開(kāi),所述字線與所述垂直柵電耦接并且沿著與所述溝道結(jié)構(gòu)交叉的方向延伸;以及
形成阱拾取線,所述阱拾取線與所述溝道層的所述阱區(qū)接觸,并且沿著與所述溝道結(jié)構(gòu)交叉的方向延伸。
11.如權(quán)利要求10所述的方法,其中,形成所述溝道結(jié)構(gòu)的步驟包括以下步驟:
在所述襯底之上交替地形成所述層間絕緣層和所述溝道層;以及
刻蝕所述層間絕緣層和所述溝道層,以形成沿著一個(gè)方向平行延伸的所述溝道結(jié)構(gòu)。
12.如權(quán)利要求11所述的方法,其中,形成所述層間絕緣層和所述溝道層的步驟包括以下步驟:
在形成所述溝道層中的每個(gè)的步驟之后,用雜質(zhì)摻雜所述溝道層中的每個(gè)的一部分以形成阱區(qū)。
13.如權(quán)利要求11所述的方法,其中,形成所述溝道結(jié)構(gòu)的步驟還包括以下步驟:
形成掩模圖案,所述掩模圖案暴露出與所述溝道層的所述阱區(qū)相對(duì)應(yīng)的所述溝道結(jié)構(gòu)的部分;以及
通過(guò)利用所述掩模圖案作為阻擋層,用雜質(zhì)摻雜所述溝道層,在所述溝道層中形成所述阱區(qū)。
14.如權(quán)利要求10所述的方法,其中,形成所述垂直柵和所述字線的步驟包括以下步驟:
在所述溝道結(jié)構(gòu)的整個(gè)表面之上形成存儲(chǔ)層;
在所述存儲(chǔ)層上形成導(dǎo)電層;以及
通過(guò)刻蝕所述導(dǎo)電層和所述存儲(chǔ)層,來(lái)形成所述垂直柵和所述字線。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的多個(gè)半導(dǎo)體或其他固態(tài)組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無(wú)源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導(dǎo)體組件并且至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的;包括至少有一個(gè)躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的無(wú)源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對(duì)紅外輻射、光、較短波長(zhǎng)的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或適用于通過(guò)這樣的輻射控制電能的半導(dǎo)體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發(fā)射并且包括至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結(jié)點(diǎn)的熱電元件的;包括有熱磁組件的
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