[發(fā)明專利]用于承載待測(cè)試電子裝置的治具

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201210442446.0
• 申請(qǐng)日: 2012-11-08
• 公開（公告）號(hào): CN103808976A
• 公開（公告）日: 2014-05-21
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 呂理清;向健華
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 富泰華工業(yè)（深圳）有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司
• 主分類號(hào): G01R1/04
• 分類號(hào): G01R1/04
• 代理公司: 暫無(wú)信息
• 代理人: 暫無(wú)信息

1.一種用于承載待測(cè)試電子裝置的治具，包括托盤，該托盤設(shè)置有收容腔，該收容腔用于容納該待測(cè)試電子裝置，其特征在于，還包括一插頭組件、一導(dǎo)電接觸組件和一第一蓋板；

該插頭組件滑動(dòng)地連接于該托盤，該插頭組件包括插頭承載部、第二蓋板和插頭，該插頭承載部和第二蓋板形成一腔體，該插頭固定在該腔體內(nèi)，該第二蓋板可拆卸地固定于該插頭承載部；

該導(dǎo)電接觸組件位于該托盤的末端的容置腔中，該第一蓋板可拆卸地固定在該托盤上，該第一蓋板用于遮蓋該容置腔，該導(dǎo)電接觸組件包括多個(gè)導(dǎo)電片，每個(gè)導(dǎo)電片與該導(dǎo)電端子部分的一導(dǎo)電端子通過導(dǎo)線相連接，該多個(gè)導(dǎo)電片用于與一測(cè)試裝置的探針接觸，從而將該待測(cè)試電子裝置電連接到該測(cè)試裝置，使得該待測(cè)試電子裝置能夠接收到測(cè)試裝置的測(cè)試信號(hào)。

2.如權(quán)利要求1所述的用于承載待測(cè)試電子裝置的治具，其特征在于，該托盤設(shè)置一與該收容腔相連通的滑槽，該插頭組件滑動(dòng)地收容于該滑槽中。

3.如權(quán)利要求2所述的用于承載待測(cè)試電子裝置的治具，其特征在于，該滑槽的相對(duì)的兩個(gè)側(cè)壁上設(shè)置有導(dǎo)向肋，該插頭承載部和第二蓋板的兩側(cè)均包括向外伸出的伸出部，該承載部的伸出部和該第二蓋板的伸出部之間形成有導(dǎo)向槽，該導(dǎo)向肋與該導(dǎo)向槽相配合，從而將插頭組件滑動(dòng)地連接于該托盤。

4.如權(quán)利要求1所述的用于承載待測(cè)試電子裝置的治具，其特征在于，該導(dǎo)電接觸組件包括導(dǎo)電片承載部，該多個(gè)導(dǎo)電片固定在該導(dǎo)電片承載部上，該插頭承載部、該導(dǎo)電片承載部和該連接部通過一體成型方式成型。

5.如權(quán)利要求4所述的用于承載待測(cè)試電子裝置的治具，其特征在于，該導(dǎo)電片承載部設(shè)置多個(gè)卡槽，該多個(gè)導(dǎo)電片分別收容在該多個(gè)卡槽中。

6.如權(quán)利要求5所述的用于承載待測(cè)試電子裝置的治具，其特征在于，每個(gè)導(dǎo)電片包括相互平行的頂部和底部以及連接于頂部的一端和底部的一端的隔離部，每個(gè)卡槽中設(shè)置有卡塊，該頂部、底部和隔離部的內(nèi)表面分別與卡塊的頂部、底部及端部相抵觸，該第一蓋板與該容置腔的底部均設(shè)置有與該多個(gè)導(dǎo)電端子相對(duì)應(yīng)的通孔，該頂部與該第一蓋板的一通孔對(duì)齊，該底部與該容置腔的底部的一通孔對(duì)齊。