[發明專利]用于測試射頻功率放大器性能的方法和裝置有效
| 申請號: | 201210440258.4 | 申請日: | 2012-11-07 |
| 公開(公告)號: | CN103166721A | 公開(公告)日: | 2013-06-19 |
| 發明(設計)人: | A·魯;D·C·孔 | 申請(專利權)人: | 蘋果公司 |
| 主分類號: | H04B17/00 | 分類號: | H04B17/00 |
| 代理公司: | 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 11038 | 代理人: | 馮玉清 |
| 地址: | 美國加*** | 國省代碼: | 美國;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 測試 射頻 功率放大器 性能 方法 裝置 | ||
1.一種用于使用測試站來測試被測設備的方法,其中,所述測試站包括測試單元,所述方法包括:
使用所述測試單元,從所述被測設備接收在射頻信道內的資源塊的子集中已發送的射頻測試信號。
2.如權利要求1所述的方法,其中,所述射頻信道包括長期演進LTE信道。
3.如權利要求1所述的方法,其中,所接收的在資源塊的所述子集中已發送的射頻測試信號包括從所述被測設備以最大輸出功率發送的射頻測試信號。
4.如權利要求3所述的方法,其中,所述射頻信道由下邊緣和上邊緣界定,并且其中,所述射頻測試信號處于其中的資源塊的所述子集包括與所述下邊緣和上邊緣中的所選的一個邊緣相鄰地定位的連續資源塊。
5.如權利要求1所述的方法,其中,所述射頻信道由下邊緣和上邊緣界定,并且其中,所述射頻測試信號處于其中的資源塊的所述子集包括與所述下邊緣和上邊緣中的所選的一個邊緣相鄰地定位的連續資源塊。
6.如權利要求1所述的方法,還包括:
使用所述測試單元,對所接收的射頻測試信號執行射頻測量,其中,所述射頻測量包括從以下各項構成的組中選擇的測量:鄰近信道泄露比、信噪比、信號干擾比、誤差向量大小以及功率譜密度。
7.如權利要求6所述的方法,其中,所述測試站還包括測試主機,所述方法還包括:
使用所述測試主機,通過分析使用所述測試單元收集的所述射頻測量來確定所述被測設備是否滿足設計標準。
8.如權利要求1所述的方法,還包括:
將所述被測設備置于屏蔽機殼中。
9.如權利要求1所述的方法,其中,所接收的在資源塊的所述子集中已發送的射頻測試信號包括根據輸出功率電平的預定模式發送的射頻測試信號。
10.一種用于使用測試站來測試無線通信電路的方法,其中,所述測試站包括信號發生器和測試單元,所述方法包括:
使用所述信號發生器,向所述無線通信電路提供射頻測試信號以供放大;以及
使用所述測試單元,從所述無線通信電路接收在射頻信道內的資源塊的子集中已發送的放大了的射頻測試信號。
11.如權利要求10所述的方法,其中,所述無線通信電路包括功率放大器電路,并且其中,向所述無線通信電路提供射頻測試信號包括向所述功率放大器電路提供射頻測試信號以供放大。
12.如權利要求10所述的方法,其中,所述射頻信道包括長期演進LTE信道。
13.如權利要求10所述的方法,其中,所接收的在資源塊的所述子集中已發送的射頻測試信號包括從所述無線通信電路以最大輸出功率發送的射頻測試信號。
14.如權利要求10所述的方法,其中,所述射頻信道由下邊緣和上邊緣界定,并且其中,發送所述射頻測試信號的資源塊的所述子集包括與所述下邊緣和上邊緣中的所選的一個邊緣相鄰地定位的連續資源塊。
15.如權利要求10所述的方法,還包括:
使用所述測試單元,對所接收的射頻測試信號執行射頻測量,其中,所述射頻測量包括從以下各項構成的組中選擇的測量:鄰近信道泄露比、信噪比、信號干擾比、誤差向量大小、功率譜密度和電流消耗。
16.如權利要求10所述的方法,其中,所接收的在資源塊的所述子集中已發送的射頻測試信號包括根據輸出功率電平的預定模式發送的射頻測試信號。
17.一種用于使用測試站來測試被測設備的方法,其中,所述測試站包括測試單元,所述方法包括:
使用所述測試單元,在第一時段期間從所述被測設備接收第一射頻信號,其中,所述第一射頻信號在射頻信道內的資源塊的第一子集中發送,其中,所述射頻信道由下邊緣和上邊緣界定,并且其中,資源塊的所述第一子集位于與所述射頻信道的所述下邊緣和上邊緣中的所選的一個邊緣相鄰。
18.如權利要求17所述的方法,還包括:
使用所述測試單元,在與所述第一時段不同的第二時段期間從所述被測設備接收第二射頻信號,其中,所述第二射頻信號在所述射頻信道內的資源塊的第二子集中發送,并且其中,資源塊的所述第二子集位于與所述下邊緣和上邊緣中的不同于所選邊緣的一個邊緣相鄰。
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