[發明專利]圖像識別方法在審
| 申請號: | 201210439246.X | 申請日: | 2012-11-07 |
| 公開(公告)號: | CN103810458A | 公開(公告)日: | 2014-05-21 |
| 發明(設計)人: | 王婳懿;喬鳳斌 | 申請(專利權)人: | 上海航天設備制造總廠 |
| 主分類號: | G06K9/00 | 分類號: | G06K9/00;G06K9/20 |
| 代理公司: | 上海航天局專利中心 31107 | 代理人: | 金家山 |
| 地址: | 200245 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 圖像 識別 方法 | ||
1.一種圖像識別方法,其在經采集的采集圖像中識別出將銀導線焊接在銀箔表面上的焊點,所述采集圖像包括至少一個對應于所述銀箔的第一區域和至少一個對應于所述銀導線的第二區域,其特征在于,包括如下步驟:
(a)獲取所述第一區域和所述第二區域中各像素的灰度值;
(b)基于所述第一區域中各像素的灰度值,獲取所述第一區域的特征點;及
(c)基于所述特征點,根據所述第二區域中各像素的灰度值在所述第二區域中找尋所述焊點。
2.根據權利要求1所述的識別方法,其特征在于,步驟(a)還包括:
(A)對所述第一區域和所述第二區域的各像素的灰度值進行灰度變換,以增大所述第一區域中各像素的灰度值與所述第二區域中各像素的灰度值之間的差異,
并且,步驟(A)包括減小所述第一區域中各像素的灰度值,并且增大所述第二區域中各像素的灰度值。
3.根據權利1所述的識別方法,其特征在于,所述步驟(b)包括:
(b1)根據第一預定灰度值,確定所述第一區域的像素面積,從而確定出所述第一區域的面積區域;且
(b2)獲得所述第一區域的面積區域的質心,作為所述特征點。
4.根據權利3所述的識別方法,其特征在于,所述步驟(b1)包括:
(b11)對所述采集圖像進行區域分割;
(b12)從各分割區域的起始像素進行區域生長,其中所述區域生長準則為,當像素的灰度值超過預定生長閾值時,則進行區域生長,當像素的灰度值低于預定生長閾值時,則即停止生長;且
(b13)篩選所述生長得到的區域,并對篩選結果進行面積統計,以確定所述第一區域的面積區域。
5.根據權利1所述的識別方法,其特征在于,所述步驟(c)中,所述基于所述特征點包括以所述特征點的橫坐標點或縱坐標點為基準。
6.根據權利5所述的識別方法,其特征在于,所述步驟(c)中,在以所述橫坐標點為基準的情況下,沿縱坐標軸在縱坐標遍歷范圍內進行縱坐標遍歷,比較某一縱坐標周圍預定縱坐標范圍(M1)內的縱坐標所在像素與所述某一縱坐標所在像素的灰度值;若灰度值的差超過設定閾值,則代表所述某一縱坐標所在像素有灰度突變,并且該縱坐標與所述作為基準的橫坐標點所確定所在像素為突變點;對所述突變點進行計算,其中,當所述突變點的計數到達某一預定值時,則將該突變點所對應的縱坐標點與所述橫坐標點確定為所述焊點的坐標點。
7.根據權利5所述的識別方法,其特征在于,所述步驟(c)中,在以所述縱坐標點為基準的情況下,沿橫坐標軸在縱坐標遍歷范圍內進行橫坐標遍歷,比較某一橫坐標周圍預定縱坐標范圍(M2)內的橫坐標所在像素與所述某一橫坐標所在像素的灰度值;若灰度值的差超過設定閾值,則代表所述某一橫坐標所在像素有灰度突變,并且該橫坐標與所述作為基準的縱坐標點所確定所在像素為突變點;對所述突變點進行計算,其中,當所述突變點的計數到達某一預定值時,則將該突變點所對應的橫坐標點與所述作為基準的縱坐標點確定為所述焊點的坐標點。
8.一種太陽能電池陣的焊接系統,其特征在于,包括:
圖像采集模塊,其用于采集需要焊接的銀導線和銀箔的圖像;
圖像識別模塊,其接收所述圖像采集模塊所采集的采集圖像,并識別出銀導線焊接在銀箔表面上的焊點,并且所述圖像識別模塊如前述權利要求1~7中任一項所述的圖像識別裝置;
焊接機構,其在所述焊點處對所述銀導線和所述銀箔進行焊接;及
運動控制模塊,其根據所述圖像識別模塊所識別出的焊點,控制所述焊接機構運動到所述焊點所在位置,完成所述焊點的焊接。
9.根據權利8所述的焊接系統,其特征在于,所述圖像采集模塊包括低角度光源,以在采集時利用所述低角度光源對所述銀導線和銀箔進行照明。
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