[發(fā)明專利]測試片外驅(qū)動器的阻抗的電路與方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210438328.2 | 申請日： | 2012-11-06 |
| 公開（公告）號： | CN103383416A | 公開（公告）日： | 2013-11-06 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 布雷特羅伯特·戴爾;奧利弗·基爾 | 申請（專利權(quán)）人： | 南亞科技股份有限公司 |
| 主分類號： | G01R27/14 | 分類號： | G01R27/14 |
| 代理公司： | 深圳新創(chuàng)友知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44223 | 代理人： | 江耀純 |
| 地址： | 中國臺*** | 國省代碼： | 中國臺灣;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 測試 驅(qū)動器 阻抗 電路 方法 | ||
1.一種測試電路，包含：
多個片外驅(qū)動器，每一片外驅(qū)動器包含：
一上拉驅(qū)動器，耦接到一電源；
一下拉驅(qū)動器，耦接于所述上拉驅(qū)動器與一接地端之間；以及
一硅通孔，耦接于所述上拉驅(qū)動器與所述下拉驅(qū)動器之間；以及
多個輸入緩沖器，所述多個輸入緩沖器中的每一輸入緩沖器包含一正輸入與一負輸入，其中每一輸入緩沖器的所述正輸入通過每一個別的片外
驅(qū)動器的所述硅通孔而分別耦接到所述多個片外驅(qū)動器的其中之一；
所述測試電路的特征在于還包含：
多個前驅(qū)動器，所述多個前驅(qū)動器中的每一前驅(qū)動器分別耦接到所述多個片外驅(qū)動器的其中之一；
一參考電流測試墊，耦接到所述多個前驅(qū)動器；
一參考電壓測試墊，耦接到每一輸入緩沖器的所述負輸入；以及
一掃描輸出測試墊，耦接到所述多個輸入緩沖器。
2.如權(quán)利要求1所述的測試電路，其特征在于，還包含：
多個傳輸門，其中每一個別的傳輸門耦接到所述多個前驅(qū)動器中的至少一前驅(qū)動器。
3.如權(quán)利要求2所述的測試電路，其特征在于，還包含：
一參考電流上拉驅(qū)動器，耦接到所述參考電流測試墊以及所述多個傳輸門。
4.如權(quán)利要求2所述的測試電路，其特征在于，還包含：
一參考電流下拉驅(qū)動器，耦接到所述參考電流測試墊以及所述多個傳輸門。
5.如權(quán)利要求1所述的測試電路，其特征在于，還包含：
一掃描鏈，耦接于所述多個輸入緩沖器與所述掃描輸出測試墊之間，并且所述掃描鏈還耦接到一時鐘輸入。
6.如權(quán)利要求5所述的測試電路，其特征在于，所述掃描鏈是被設(shè)定來將一輸出傳送到所述掃描輸出測試墊。
7.一種用來驗證多個片外驅(qū)動器的一阻抗的方法，包含：
驅(qū)動一電流到所述多個片外驅(qū)動器，其中每一片外驅(qū)動器包含：
一上拉驅(qū)動器，耦接到一電源；
一下拉驅(qū)動器，耦接于所述上拉驅(qū)動器與一接地端之間；以及
一硅通孔，耦接于所述上拉驅(qū)動器與所述下拉驅(qū)動器之間；
所述的方法的特征在于還包含：
開啟所述多個片外驅(qū)動器，其中每一個別的片外驅(qū)動器是耦接到所述多個前驅(qū)動器中的至少一前驅(qū)動器，以及開啟所述多個片外驅(qū)動器會在每一硅通孔產(chǎn)生一電壓降；
在多個輸入緩沖器處接收一參考電壓，其中所述多個輸入緩沖器中的每一輸入緩沖器包含多個輸入，并且每一輸入緩沖器是被設(shè)定來比較所述多個輸入以及輸出一比較結(jié)果；
在每一輸入緩沖器中，將所述參考電壓與所述多個片外驅(qū)動器的其中之一的所述硅通孔的電壓做比較；以及
使用每一輸入緩沖器的所述比較結(jié)果來驗證每一片外驅(qū)動器的所述組抗，以判斷每一片外驅(qū)動器的所述阻抗是否是落在一所要的范圍內(nèi)。
8.如權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于，接收所述參考電壓的步驟包含：自一參考電壓測試墊接收所述參考電壓。
9.如權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于，驅(qū)動所述電流到所述多個片外驅(qū)動器的步驟還包含：
鏡射所述電流來驅(qū)動一鏡射電流到所述多個片外驅(qū)動器。
10.如權(quán)利要求9所述的方法，其特征在于，驅(qū)動所述電流到所述多個片外驅(qū)動器的步驟還包含：
驅(qū)動所述電流通過一上拉驅(qū)動器以及一參考電流測試墊；以及
驅(qū)動所述鏡射電流的步驟包含：
驅(qū)動所述鏡射電流到每一片外驅(qū)動器的所述上拉驅(qū)動器。
11.如權(quán)利要求9所述的方法，其特征在于，驅(qū)動所述電流到所述多個片外驅(qū)動器的步驟包含：
驅(qū)動所述電流通過一下拉驅(qū)動器以及一參考電流測試墊；以及
驅(qū)動所述鏡射電流的步驟包含：
驅(qū)動所述鏡射電流到每一片外驅(qū)動器的所述下拉驅(qū)動器。
12.如權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于，驗證每一片外驅(qū)動器的所述組抗的步驟還包含：
傳送多個比較結(jié)果到一掃描鏈；
在所述掃描鏈處接收一時鐘信號，其中所述掃描鏈是被設(shè)定來依序地儲存所述多個比較結(jié)果；以及
將依序儲存的所述多個比較結(jié)果傳送到一輸出。
13.如權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于，還包含：
使用每一輸入緩沖器的所述比較結(jié)果來驗證每一片外驅(qū)動器的一最小阻抗與一最大阻抗。
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