[發(fā)明專利]一種CMOS圖像傳感器及其制造方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210436969.4 | 申請日: | 2012-11-05 |
| 公開(公告)號: | CN103066084B | 公開(公告)日: | 2017-11-07 |
| 發(fā)明(設計)人: | 顧學強;周偉 | 申請(專利權)人: | 上海集成電路研發(fā)中心有限公司 |
| 主分類號: | H01L27/146 | 分類號: | H01L27/146 |
| 代理公司: | 上海天辰知識產權代理事務所(特殊普通合伙)31275 | 代理人: | 吳世華,林彥之 |
| 地址: | 201210 上*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 cmos 圖像傳感器 及其 制造 方法 | ||
技術領域
本發(fā)明涉及圖像傳感器領域,特別涉及一種CMOS圖像傳感器。
背景技術
通常,圖像傳感器是指將光信號轉換為電信號的裝置。圖像傳感器包括電荷耦合器件(CCD)和互補金屬氧化物半導體(CMOS)圖像傳感器芯片。
CMOS圖像傳感器和傳統的CCD傳感器相比具有的低功耗,低成本和與CMOS工藝兼容等特點,因此得到越來越廣泛的應用。現在CMOS圖像傳感器不僅用于消費電子領域,例如微型數碼相機(DSC),手機攝像頭,攝像機和數碼單反(DSLR)中,而且在汽車電子,監(jiān)控,生物技術和醫(yī)學等領域也得到了廣泛的應用。
對普通的CMOS圖像傳感器而言,通常使用濾色層(color filter array)的拜亞(Bayer)形式排列來分別得到紅,綠,藍三種顏色,然后通過后續(xù)的信號處理來合成最終的圖像。這種結構的每個像素單元只對應紅,綠,藍三種顏色中的一種,因此降低了圖像傳感器的空間分辨率,增加了顏色之間的串擾,同時濾色層的使用增加了入射光到光電二極管感光區(qū)的距離,使得傳感器靈敏度降低。如圖1所示,現有的CMOS圖像傳感器包括位于半導體襯底100上用于光電轉換的光電二極管101,金屬互連線105,106和107,用于金屬互連線之間隔離的層間介質層108,用于分色的紅色濾色層102,綠色濾色層103和藍色濾色層104,以及用于光線聚焦的微透鏡109。每個像素單元只對應紅綠藍三種顏色中的一種,因此降低了圖像的空間分辨率,增加了顏色之間的串擾。此外,由于濾色層的使用,使得入射光到達光電二極管表面的距離變大,導致圖像傳感器的靈敏度降低。同時紅綠藍三色光在光電二極管的耗盡區(qū)被收集,由于波長不一樣,它們在半導體襯底中的吸收深度是不一樣的,波長越長,光線穿透能力也越強,因此會在比較深的位置被吸收。例如藍光的波長為450納米,綠 光波長為550納米,紅光波長為650納米,因此紅光的吸收位置最深,藍光最淺,若使用一種光電二極管來收集三種不同波長的光線,會使得紅光這樣具有較長波長的顏色的吸收系數較低,而無法實現不同波長光線的收集效率都達到最優(yōu)。
發(fā)明內容
本發(fā)明的主要目的在于克服現有技術的缺陷,提供一種CMOS圖像傳感器及其制造方法,無需通過濾色層即可產生彩色圖像,有效地降低了工藝成本。
為達成上述目的,本發(fā)明提供了一種CMOS圖像傳感器,包括形成于半導體襯底上的光電二極管區(qū)域,還包括:淺槽隔離區(qū)域,形成于所述光電二極管區(qū)域中;深槽隔離區(qū)域,形成于所述光電二極管區(qū)域中;其中,所述淺槽隔離區(qū)域與所述深槽隔離區(qū)域填充透光介質;光電二極管及光電二極管耗盡區(qū),形成于所述光電二極管區(qū)域中;以及層間介質層,金屬互連線及微透鏡,形成于所述半導體襯底上方。
可選的,所述透光介質為二氧化硅。
可選的,所述光電二極管區(qū)域還包括摻雜區(qū),所述摻雜區(qū)與所述半導體襯底之間構成PN結,以形成所述光電二極管及所述光電二極管耗盡區(qū)。
可選的,所述淺槽隔離區(qū)域底部至其下方的所述光電二極管耗盡區(qū)的深度對應于綠色光在所述半導體襯底的吸收深度。
可選的,所述深槽隔離區(qū)域底部至其下方的所述光電二極管耗盡區(qū)的深度對應于藍色光在所述半導體襯底的吸收深度。
可選的,所述半導體襯底表面至其下方的所述光電二極管的耗盡區(qū)的深度對應于紅色光在所述半導體襯底的吸收深度。
本發(fā)明進一步提供一種CMOS圖像傳感器制造方法,包括如下步驟:提供半導體襯底,所述半導體襯底具有光電二極管區(qū)域;在所述光電二極管區(qū)域光刻和刻蝕淺槽隔離區(qū)域;在所述光電二極管區(qū)域光刻和刻蝕深槽隔離區(qū)域;在所述淺槽隔離區(qū)域及所述深槽隔離區(qū)域填充透光介質并平坦化;在所述光電二極管區(qū)域形成光電二極管及光電二極管耗盡區(qū);以及在所述襯底上方形成層間介質層,金屬互連線及微透鏡。
可選的,所述透光介質為二氧化硅。
可選的,在所述光電二極管區(qū)域形成光電二極管及光電二極管耗盡區(qū)的步驟包括:在所述光電二極管區(qū)域進行雜質離子注入形成摻雜區(qū),所述摻雜區(qū)與所述半導體襯底之間構成PN結,以形成所述光電二極管及所述光電二極管耗盡區(qū)。
可選的,所述淺槽隔離區(qū)域底部至其下方的所述光電二極管耗盡區(qū)的深度對應于綠色光在所述半導體襯底的吸收深度;所述深槽隔離區(qū)域底部至其下方的所述光電二極管耗盡區(qū)的深度對應于藍色光在所述半導體襯底的吸收深度;可選的,所述半導體襯底表面至其下方的所述光電二極管的耗盡區(qū)的深度對應于紅色光在所述半導體襯底的吸收深度。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個共用襯底內或其上形成的多個半導體或其他固態(tài)組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導體組件并且至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的;包括至少有一個躍變勢壘或者表面勢壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發(fā)射并且包括至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的半導體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結點的熱電元件的;包括有熱磁組件的





