[發(fā)明專(zhuān)利]用于閃爍探測(cè)器的位置表生成方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201210436594.1 | 申請(qǐng)日: | 2012-11-05 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN102981179A | 公開(kāi)(公告)日: | 2013-03-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王海鵬;柴培;劉雙全;黃先超;李道武;張玉包;章志明;單保慈;魏龍 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 中國(guó)科學(xué)院高能物理研究所 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01T1/202 | 分類(lèi)號(hào): | G01T1/202;G01T3/06;G06T7/00 |
| 代理公司: | 隆天國(guó)際知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 72003 | 代理人: | 張龍哺;馮志云 |
| 地址: | 100049 北*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 閃爍 探測(cè)器 位置 生成 方法 | ||
1.一種閃爍探測(cè)器的位置表生成方法,其特征在于,包括:
步驟S1:根據(jù)閃爍探測(cè)器的散點(diǎn)圖的數(shù)據(jù),采用區(qū)域提取的方式,尋找該閃爍探測(cè)器中的每個(gè)晶體條在散點(diǎn)圖中對(duì)應(yīng)的標(biāo)記點(diǎn);
步驟S2:根據(jù)所述標(biāo)記點(diǎn)在散點(diǎn)圖中的二維坐標(biāo),對(duì)所有的標(biāo)記點(diǎn)進(jìn)行相對(duì)位置二維排序;
步驟S3:確定散點(diǎn)圖中的位置表邊界點(diǎn),每個(gè)所述位置表邊界點(diǎn)是由四個(gè)相鄰的標(biāo)記點(diǎn)的平均位置而確定;
步驟S4:依次連接各個(gè)位置表邊界點(diǎn),生成位置表。
2.如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,該步驟S1包括:
采用區(qū)域提取的方式,將散點(diǎn)圖劃分為與晶體條對(duì)應(yīng)的互不連通的多個(gè)區(qū)域;
將每個(gè)區(qū)域提取出來(lái),并計(jì)算各區(qū)域的幾何中心作為與區(qū)域?qū)?yīng)的晶體條的標(biāo)記點(diǎn)。
3.如權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,該步驟S1包括:
在散點(diǎn)圖的各像素中,提取出光子入射事例計(jì)數(shù)值大于平均值的像素,
從提取出的像素中進(jìn)一步篩選出光子入射事例計(jì)數(shù)值大于預(yù)設(shè)臨界值的像素,取值為特定值A(chǔ);而散點(diǎn)圖中的其余像素取值為特定值B;以獲得散點(diǎn)圖的二值圖像;其中,A與B取值不同;
采用遞歸的方法在該二值圖像中計(jì)算每個(gè)晶體條的標(biāo)記點(diǎn),計(jì)算方法包括:
當(dāng)搜索到一像素的取值為A時(shí),記錄該像素的坐標(biāo)并置為B,判斷其周?chē)?個(gè)像素的取值情況;
若該8個(gè)像素中的某一像素取值為A,則記錄該像素的坐標(biāo)并置為B,并繼續(xù)判斷它周?chē)?個(gè)像素的取值情況,若取值為A則進(jìn)行記錄并置為B;循環(huán)執(zhí)行上述步驟,直到周?chē)?個(gè)像素都為B時(shí)停止,被記錄的各像素構(gòu)成本次提取的區(qū)域;
將該區(qū)域內(nèi)的各像素的坐標(biāo)取平均得到一平均坐標(biāo),將該平均坐標(biāo)作為該區(qū)域所對(duì)應(yīng)的晶體條的標(biāo)記點(diǎn)的坐標(biāo)。
4.如權(quán)利要求3所述的方法,其特征在于,該計(jì)算方法中,若提取到的一區(qū)域中只有一個(gè)像素點(diǎn),則將該區(qū)域視為假峰排除。
5.如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,該步驟S2包括:
對(duì)各標(biāo)記點(diǎn)進(jìn)行二維排序時(shí),根據(jù)前一個(gè)標(biāo)記點(diǎn)的位置排序后一個(gè)標(biāo)記點(diǎn);該排序方法包括:
按照各標(biāo)記點(diǎn)的縱坐標(biāo)將各標(biāo)記點(diǎn)排列成m×n陣列;
循環(huán)執(zhí)行以下步驟,依次對(duì)每行標(biāo)記點(diǎn)進(jìn)行排序:
提取陣列中第i行和i+1行的標(biāo)記點(diǎn);(i=0,1,2,…,m–2);
從提取的標(biāo)記點(diǎn)中選取距離該散點(diǎn)圖的二維坐標(biāo)原點(diǎn)最近的點(diǎn)作為(i,0)點(diǎn);
循環(huán)執(zhí)行以下步驟依次對(duì)各標(biāo)記點(diǎn)進(jìn)行排序:
從提取的第j到2n個(gè)標(biāo)記點(diǎn)中選擇滿(mǎn)足以下情況的兩個(gè)點(diǎn):橫坐標(biāo)大于(i,j–1)點(diǎn)的橫坐標(biāo),與(i,j–1)點(diǎn)的橫坐標(biāo)距離大于縱坐標(biāo)距離;(j=1,2,…,n–1);
設(shè)兩個(gè)點(diǎn)中距離(i,j–1)點(diǎn)最近的為P1,次近的為P2;判斷P1和P2的橫坐標(biāo)間距Δx和縱坐標(biāo)間距Δy;若Δx>Δy,則取P1點(diǎn)為(i,j)點(diǎn);否則,取P1、P2中縱坐標(biāo)較小的作為(i,j)點(diǎn)。
6.如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,該步驟S3包括:
在選取位置表邊界點(diǎn)時(shí),計(jì)算相鄰四個(gè)標(biāo)記點(diǎn)的平均位置,并采用向上或向下取整的方式得到位置表邊界點(diǎn)。
7.如權(quán)利要求6所述的方法,其特征在于,還包括:
進(jìn)行邊界分配,若選取位置表邊界點(diǎn)時(shí)采用了向上取整的方式,則將每個(gè)區(qū)域的左邊界和下邊界歸在該區(qū)域,右邊界和上邊界歸在其相鄰的區(qū)域;若選取位置表邊界點(diǎn)采用了向下取整,則將每個(gè)區(qū)域的右邊界和上邊界歸在該區(qū)域,左邊界和下邊界歸在其相鄰的區(qū)域。
8.如權(quán)利要求3所述的方法,其特征在于,在獲得散點(diǎn)圖的二值圖像之前,還包括:對(duì)所述提取出的光子入射事例計(jì)數(shù)值大于平均值的像素,進(jìn)行局部歸一化處理、均衡化處理和平滑濾波處理。
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