[發明專利]粗略分段的檢測器架構及其制造方法無效
| 申請號: | 201210431799.0 | 申請日: | 2012-11-02 |
| 公開(公告)號: | CN103083034A | 公開(公告)日: | 2013-05-08 |
| 發明(設計)人: | A.伊赫列夫;J.A.考策爾 | 申請(專利權)人: | 通用電氣公司 |
| 主分類號: | A61B6/03 | 分類號: | A61B6/03;G01N23/04 |
| 代理公司: | 中國專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 姜甜;朱海煜 |
| 地址: | 美國*** | 國省代碼: | 美國;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 粗略 分段 檢測器 架構 及其 制造 方法 | ||
1.?一種CT系統,包括:
具有用于接納要掃描的對象的開口的可旋轉門架,所述可旋轉門架具有檢測器安裝表面;
附接到所述門架且配置成向所述對象投影X射線束的X射線源;
各安裝在一個視場(FOV)內以及直接安裝到所述可旋轉門架的所述檢測器安裝表面的多個檢測器模塊;
配置成從所述多個檢測器模塊的至少其中之一接收輸出的數據采集系統(DAS);以及
計算機,其編程為:
????從所述DAS獲取所述對象的成像數據的投影;以及
????使用所述成像數據生成所述對象的圖像。
2.?如權利要求1所述的CT系統,其中所述計算機編程為在幾何上校正所述多個檢測器模塊的其中之一內像素的角度位置,所述校正是所述像素沿著所述CT系統的x方向的位置的函數。
3.?如權利要求1所述的CT系統,其中所述檢測器安裝表面與所述可旋轉門架的旋轉軸線正交。
4.?如權利要求3所述的CT系統,其中所述多個檢測器模塊中的一個檢測器模塊由具有第一分支和第二分支的安裝托架組成,所述第一和第二分支按L的形狀形成,其中所述第一分支由附接到所述檢測器安裝表面的模塊安裝表面組成。
5.?如權利要求4所述的CT系統,其中所述一個檢測器模塊安裝成使得所述第二分支包括與始于所述X射線源、穿過其中的X射線大致正交的電子板安裝表面。
6.?如權利要求5所述的CT系統,包括電子板,所述電子板具有附接到所述第二分支的所述電子板安裝表面的平面安裝表面。
7.?如權利要求6所述的CT系統,包括:
耦合到所述電子板的二極管陣列,所述二極管陣列由一個或數個前光二極管陣列或背光二極管陣列組成;以及
耦合到所述二極管陣列的閃爍器。
8.?如權利要求7所述的CT系統,其中所述電子板配置成使得所述CT系統可選地包括如下陣列的二者兼有:
耦合到所述電子板的所述二極管陣列在切片方向上具有第一像素量以及與所述第一像素量對應的所述DAS的第一電子讀出能力;或
耦合到所述電子板的所述二極管陣列在所述切片方向上具有兩倍于所述第一像素量的第二像素量以及與所述第二像素量對應的所述DAS的第二電子讀出能力。
9.?如權利要求6所述的CT系統,其中所述DAS包括數個A/D轉換芯片(ASIC)和附接到所述電子板的散熱器。
10.?如權利要求9所述的CT系統,包括附接到所述電子板且配置成封蓋住所有所述ASIC和所述散熱器的蓋子。
11.?一種制造CT系統的方法,包括:
制造具有檢測器安裝表面的門架;
將X射線源附接到所述門架以使X射線從所述X射線源發射且穿過所述旋轉軸線;以及
在一個視場(FOV)內將每個檢測器模塊直接附接到所述檢測器安裝表面,以使所述X射線也發射到所述檢測器模塊。
12.?如權利要求11所述的方法,包括:
將并入所述檢測器模塊的DAS配置成獲取所述對象的圖像投影數據;以及
將計算機編程為作為沿著所述CT系統的通道方向的位置的函數、在幾何上校正所獲取的圖像投影數據的角度位置。
13.?如權利要求11所述的方法,包括:當所述門架繞著旋轉軸線以及繞著要成像的對象旋轉時,所述檢測器安裝表面與所述旋轉軸線成直角。
14.?如權利要求13所述的方法,包括制造所述檢測器模塊,所述檢測器模塊各具有:
第一分支,包括附接到所述檢測器安裝表面的模塊安裝表面;以及
第二分支,其具有與之附接的電子板,所述電子板與穿過其中且始于所述X射線源的X射線大致正交。
15.?如權利要求14所述的方法,包括:
將由數個前光二極管陣列和背光二極管陣列組成的二極管陣列耦合到所述電子板,以使所述X射線與所述二極管陣列的表面大致正交地通過;以及
將閃爍器耦合到所述一個二極管陣列的所述表面。
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