[發明專利]硅基液晶波長選擇開關的波長漂移檢測及校正方法

有效

• 申請號: 201210428708.8
• 申請日: 2012-11-01
• 公開（公告）號: CN102879864A
• 公開（公告）日: 2013-01-16
• 發明（設計）人: 尤全;劉子晨;謝德權;程燕
• 申請（專利權）人: 武漢郵電科學研究院
• 主分類號: G02B6/35
• 分類號: G02B6/35;G02B6/293
• 代理公司: 北京捷誠信通專利事務所(普通合伙) 11221
• 代理人: 魏殿紳;龐炳良

1.硅基液晶波長選擇開關的波長漂移檢測方法，其特征在于，包括以下步驟：

向LCOS面板中寫入特定的灰度圖，所述灰度圖只有一列像素列L_i有灰度變化，其余像素列均為黑色；

從波長選擇開關的輸入端口輸入光信號，并檢測與像素列L_i對應的輸出端口的光信號的波長λ_i1；

根據所述λ_i1與出廠時該列像素列對應的波長λ_i0的比較結果，判斷是否發生了波長漂移；如果λ_i1＝λ_i0，則說明沒有發生波長漂移；如果λ_i1≠λ_i0，說明發生了波長漂移。

2.如權利要求1所述的硅基液晶波長選擇開關的波長漂移檢測方法，其特征在于，

在波長選擇開關的公共端接上寬帶光源獲得所述輸入光信號；

在與L_i對應的波長選擇開關的輸出端口接上光譜儀獲得所述輸出光信號。

3.如權利要求1所述的硅基液晶波長選擇開關的波長漂移檢測方法，其特征在于，

將波長選擇開關的公共端口接在3端口環形器的端口2上，將所述環形器的端口1接上寬帶光源獲得所述輸入光信號，將所述環形器的端口3接上光譜儀獲得所述輸出光信號。

4.硅基液晶波長選擇開關的波長校正方法，其特征在于，包括以下步驟：

通過灰度圖生成及寫入軟件向LCOS面板中寫入特定的灰度圖，所述灰度圖只有一列像素列Li有灰度變化，其余列均為黑色；

從波長選擇開關的某一輸入端口輸入光信號，并檢測與像素列L_i對應的輸出端口的光信號的波長λ_i1；

計算所述λ_i1與出廠時該列像素列對應的波長λ_i0的差值Δλ；

根據光路設計時光柵與傅里葉透鏡的尺寸計算出一個像素列覆蓋的波長范圍并獲得漂移的像素個數

將所述灰度圖生成及寫入軟件中的像素計數器相應地平移Δp，使得像素列L_i與波長λ_i0相對應。