[發(fā)明專利]一種用于電阻抗映射成像的感興趣目標(biāo)體立體定位方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201210428535.X
• 申請(qǐng)日: 2012-10-30
• 公開（公告）號(hào): CN102894977A
• 公開（公告）日: 2013-01-30
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 季振宇;董秀珍;史學(xué)濤;尤富生;付峰;劉銳崗;王威;王楠;馬航
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中國人民解放軍第四軍醫(yī)大學(xué)
• 主分類號(hào): A61B5/053
• 分類號(hào): A61B5/053;A61B5/05
• 代理公司: 西安恒泰知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 61216
• 代理人: 李鄭建

1.一種用于電阻抗映射成像的感興趣目標(biāo)體立體定位估測(cè)方法，其特征在于，包括以下步驟：

1）基于電磁場計(jì)算模型計(jì)算分析，建立感興趣目標(biāo)體深度近似求解公式；

2）在電阻抗映射成像實(shí)際測(cè)量中，根據(jù)灰度圖像確定感興趣目標(biāo)體的二維空間位置；

3）建立電阻抗映射成像實(shí)際測(cè)量數(shù)值與感興趣目標(biāo)體深度近似求解公式中參數(shù)的對(duì)應(yīng)關(guān)系；

4）將感興趣目標(biāo)體的空間二維信息與目標(biāo)體的深度信息結(jié)合，獲得感興趣目標(biāo)體的空間立體定位參數(shù)。

2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述的基于電磁場計(jì)算模型建立感興趣目標(biāo)體深度近似求解公式，求解過程是：

1）在電磁場模型計(jì)算時(shí)，設(shè)定感興趣目標(biāo)體引起的電場擾動(dòng)感興趣區(qū)域主要分布在檢測(cè)電極面下的半球形區(qū)域內(nèi)，同時(shí)假設(shè)擾動(dòng)感興趣目標(biāo)體近似為球體。

2）在電磁場模型計(jì)算時(shí)，分別在檢測(cè)區(qū)域中包含感興趣目標(biāo)體和不包含感興趣目標(biāo)體這兩種條件下，求解檢測(cè)電極表面的電流密度表達(dá)式；

3）利用檢測(cè)電極平面的電流信息及相應(yīng)電極單元的位置信息表示感興趣目標(biāo)區(qū)域的深度，得到感興趣目標(biāo)體的深度求解公式。

3.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述的感興趣目標(biāo)體深度近似求解公式中的關(guān)鍵參數(shù)包括i(x₀,y₀),i⁰(x₀,y₀),i(a,b),i⁰(a,b)，其中i(x₀,y₀)是感興趣目標(biāo)體在檢測(cè)電極面上投影區(qū)中心位置的測(cè)量值其電極坐標(biāo)為（x₀,y₀），i⁰(x₀,y₀)是感興趣目標(biāo)體不存在時(shí)對(duì)應(yīng)于電極坐標(biāo)（x₀,y₀）處的測(cè)量值，i(a,b)感興趣目標(biāo)體在檢測(cè)電極面上投影區(qū)中心位置外任意坐標(biāo)（a,b）處的測(cè)量值,i⁰(a,b)是感興趣目標(biāo)體不存在時(shí)對(duì)應(yīng)于電極坐標(biāo)（a,b）處的測(cè)量值。

4.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述的建立電阻抗映射成像實(shí)際測(cè)量數(shù)值與感興趣目標(biāo)體深度近似求解公式中參數(shù)的對(duì)應(yīng)關(guān)系，其步驟如下：

1）首先根據(jù)電阻抗映射成像二維灰度圖確定感興趣目標(biāo)體在檢測(cè)電極平面的投影區(qū)域范圍；

2）求解感興趣目標(biāo)體在檢測(cè)電極平面投影區(qū)域以外的所有測(cè)量值的平均值I_mean；

3）確定感興趣目標(biāo)體所對(duì)應(yīng)的最大測(cè)量值I_max，及該最大測(cè)量值所對(duì)應(yīng)的電極單元坐標(biāo)(X_max,Y_max)；

4）確定感興趣目標(biāo)體在檢測(cè)電極平面投影區(qū)域內(nèi)實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)曲線的半峰值I_half，即I_half＝1/2(I_max-I_mean)，并進(jìn)一步尋找接近I_half值的實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)所對(duì)應(yīng)檢測(cè)電極單元的坐標(biāo)（X_half,Y_half）；

5）建立實(shí)際測(cè)量數(shù)值與深度近似求解公式中各參數(shù)的對(duì)應(yīng)關(guān)系。

5.如權(quán)利要求3或4所述方法，其特征在于，所述的建立實(shí)際測(cè)量數(shù)值與深度近似求解公式中各參數(shù)的對(duì)應(yīng)關(guān)系是將實(shí)際測(cè)量數(shù)值帶入深度近似求解公式計(jì)算時(shí)，用I_max替代i(x₀,y₀)，用I_half替代i(a,b)，用I_mean替代i⁰(x₀,y₀)和i⁰(a,b)。