[發(fā)明專利]光學(xué)檢測系統(tǒng)及其光學(xué)檢測裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210427992.7 | 申請日： | 2012-10-31 |
| 公開（公告）號： | CN103674490A | 公開（公告）日： | 2014-03-26 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 鄭陳嵚;林建憲;周敏杰;陳于堂 | 申請（專利權(quán)）人： | 財團(tuán)法人工業(yè)技術(shù)研究院 |
| 主分類號： | G01M11/02 | 分類號： | G01M11/02;G02B7/02 |
| 代理公司： | 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 11021 | 代理人： | 宋焰琴 |
| 地址： | 中國臺*** | 國省代碼： | 中國臺灣;71 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 光學(xué) 檢測 系統(tǒng) 及其 裝置 | ||
1.一種光學(xué)檢測裝置，包含：
一殼體，其內(nèi)部具有一檢測腔室以及連通該檢測腔室的一通道，該殼體上具有一開口連通該通道；
一反射層，布設(shè)于該檢測腔室的一內(nèi)壁面；以及
一集光透鏡組，設(shè)置于該通道內(nèi)，該光學(xué)檢測裝置用以供一光束由該開口進(jìn)入該通道內(nèi)，該光束穿過該集光透鏡組而射入該檢測腔室。
2.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)檢測裝置，另包含一供電接頭，位于該開口處。
3.如權(quán)利要求2所述的光學(xué)檢測裝置，另包含一電源供應(yīng)器，連接該供電接頭。
4.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)檢測裝置，另包含一感測運算器，連接該檢測腔室。
5.如權(quán)利要求4所述的光學(xué)檢測裝置，另包含一擋板，該檢測腔室具有一腔室入口及一腔室出口，該腔室入口連接該通道，該腔室出口連接該感測運算器，該擋板設(shè)置于該檢測腔室內(nèi)，且該擋板介于該腔室入口及該腔室出口之間。
6.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)檢測裝置，其中該殼體包含一第一殼件及一第二殼件，該第一殼件具有自其一表面向下凹陷的一第一凹部及連接該第一凹部的一第一凹槽，該第二殼件具有自其一表面向下凹陷的一第二凹部及連接該第二凹部的一第二凹槽，該第一殼件及該第二殼件相結(jié)合，使該第一凹部與該第二凹部形成該檢測腔室，該第一凹槽與該第二凹槽形成該通道。
7.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)檢測裝置，其中該集光透鏡組包含至少二正透鏡。
8.如權(quán)利要求7所述的光學(xué)檢測裝置，其中該二正透鏡的至少其一為一非球面透鏡。
9.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)檢測裝置，其中該集光透鏡組的一光軸通過該檢測腔室的一幾何中心點。
10.一種光學(xué)檢測系統(tǒng)，包含：
一基座；
多個光學(xué)檢測裝置，設(shè)置于該基座，每一該光學(xué)檢測裝置包含：
一殼體，其內(nèi)部具有一檢測腔室以及連通該檢測腔室的一通道，該殼體上具有一開口連通該通道；
一反射層，布設(shè)于該檢測腔室的一內(nèi)壁面；以及
一集光透鏡組，設(shè)置于該通道內(nèi)；
多個供電接頭，分別位于該些開口處；以及
至少一感測運算器，連接該些檢測腔室。
11.如權(quán)利要求10所述的光學(xué)檢測系統(tǒng)，其中該基座上還具有一對位孔，該對位孔處還設(shè)有另一該供電接頭。
12.如權(quán)利要求10所述的光學(xué)檢測系統(tǒng)，其中該基座上還具有多個貫通的組配孔，每一該供電接頭設(shè)置于該基座，且分別對應(yīng)該些組配孔，使得該些供電接頭分別位于該些光學(xué)檢測裝置的該些開口處。
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