[發明專利]檢測LED的磷光體的位置的設備和方法以及安裝透鏡的方法

有效

• 申請號: 201210427982.3
• 申請日: 2012-10-31
• 公開（公告）號: CN103512491A
• 公開（公告）日: 2014-01-15
• 發明（設計）人: 樸在鉉
• 申請（專利權）人: 三星泰科威株式會社
• 主分類號: G01B11/00
• 分類號: G01B11/00;G02B7/02;F21V17/00;F21Y101/02
• 代理公司: 北京銘碩知識產權代理有限公司 11286
• 代理人: 韓明星

本申請要求于2012年6月18日提交到韓國知識產權局的第10-2012-0065245號韓國專利申請的利益，所述韓國專利申請的全部公開內容通過引用包含于此。

技術領域

示例性實施例涉及用于檢測發光二極管的磷光體的位置的技術和安裝透鏡的方法。

背景技術

發光二極管是通過借助化合物半導體的PN結構造發光源來實現各種顏色的半導體裝置。發光二極管具有較長壽命，可小型化并且重量輕，并且由于較強的光方向性而可以以低壓被驅動。此外，發光二極管對撞擊和振動有很強的抵抗能力，不需要預熱時間和復雜的驅動，并且可應用于各種用途，因為它們可按照各種類型封裝。

近來，已嘗試用發光二極管替代用作LCD電視的背光的白熾燈、熒光燈和鹵素燈。

公開號為2012-0002430的韓國專利申請公開了一種用于檢測發光二極管芯片的密封樹脂單元的缺陷的技術。

發明內容

一個或多個示例性實施例提供了一種用于檢測發光二極管的磷光體的位置的設備和一種檢測發光二極管的磷光體的位置的方法。

根據示例性實施例的一方面，提供了一種磷光體位置檢測設備，包括：第一照明光照射單元，把第一照明光照射到其上布置具有磷光體的至少一個發光二極管的基底上；拍攝設備，拍攝基底的圖像；光學濾波器，布置在入射到拍攝設備的圖像光的路徑上并且不讓第一照明光透射；控制單元，通過使用由拍攝設備拍攝的圖像來檢測發光二極管的磷光體的位置。

磷光體位置檢測設備可還包括支撐基底的支撐單元。

接收第一照明光的磷光體可發射透射穿過光學濾波器的光。

第一照明光可以是藍光。

藍光可具有在從大約400nm到大約470nm的范圍中的波長。

第一照明光照射單元可沿垂直于基底的方向照射藍光。

從第一照明光照射單元照射的第一照明光的光軸可與入射到拍攝設備的圖像光的光軸一致。

磷光體位置檢測設備可還包括：第二照明光照射單元，把白光照射到基底上。

根據示例性實施例的另一方面，提供了一種包括上述磷光體位置檢測設備的部件安裝裝置。

根據另一示例性實施例的一方面，提供了一種檢測發光二極管的磷光體的位置的方法，該方法包括：把第一照明光照射到其上布置具有磷光體的至少一個發光二極管的基底上；通過把不讓第一照明光透射的光學濾波器布置在圖像光的路徑上，拍攝基底；以及通過使用拍攝到的圖像檢測發光二極管的磷光體的位置。

接收第一照明光的磷光體可發射透射穿過光學濾波器的光。

第一照明光可以是藍光。

藍光可具有在從大約400nm到大約470nm的范圍中的波長。

可沿垂直于基底的方向照射第一照明光。

第一照明光可具有與圖像光的光軸一致的光軸。

磷光體的位置的檢測可包括：通過參考形成在基底上的預定參考標記，計算磷光體的位置。

根據另一示例性實施例的一方面，提供了一種安裝透鏡的方法，該方法包括：把第一照明光照射到其上布置具有磷光體的至少一個發光二極管的基底上；通過把不讓第一照明光透射的光學濾波器布置在圖像光的路徑上來拍攝基底；通過使用拍攝到的圖像來檢測發光二極管的磷光體的位置；通過檢測發光二極管的磷光體的位置來確定發光二極管的安裝坐標；基于發光二極管的安裝坐標把透鏡安裝在發光二極管上。

接收第一照明光的磷光體可發射透射穿過光學濾波器的光。

第一照明光可以是藍光。

藍光可具有在從大約400nm到大約470nm的范圍中的波長。

可沿垂直于基底的方向照射第一照明光。

第一照明光可具有與圖像光的光軸一致的光軸。

磷光體的位置的檢測可包括：通過參考形成在基底上的預定參考標記來計算磷光體的位置。

附圖說明

通過參照附圖詳細描述本發明的示例性實施例，以上和其它方面將會變得更加清楚，其中：

圖1是根據示例性實施例的其上布置發光二極管的基底的剖視圖；

圖2是根據示例性實施例的用于檢測發光二極管的磷光體的位置的設備的示意圖；

圖3是示出根據示例性實施例的從第一照明光照射單元把第一照明光照射到基底上的示意圖；

圖4是示出當第一照明光照射單元把第一照明光照射到基底上時在發光二極管周圍的第一照明光的照射的示意圖；

圖5是示出根據示例性實施例的通過使用拍攝設備拍攝基底的照片的示意圖；