[發明專利]光測定裝置

有效

• 申請號: 201210427737.2
• 申請日: 2012-10-31
• 公開（公告）號: CN103095368A
• 公開（公告）日: 2013-05-08
• 發明（設計）人: 牧達幸
• 申請（專利權）人: 安立股份有限公司
• 主分類號: H04B10/071
• 分類號: H04B10/071
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 李芳華

技術領域

本發明涉及一種進行OTDR測定及光強度測定的光測定裝置。

背景技術

作為用于光纖的鋪設、保養的測定裝置，已知有OTDR(Optical?Time?Domain?Reflectometer)（例如，參考專利文獻1。）。專利文獻1的光測定裝置具備：連接部，能夠與被測定光纖連接；激光模塊，產生光脈沖；及光接收器，接收入射于被測定光纖的光脈沖的回光，所述測定裝置進行OTDR測定。

在鋪設、保養光纖的現場，實際上向被測定光纖的一端入射信號光，且在被測定光纖的另一端接收該信號光，并使用光強度測定裝置還進行光強度的測定。如此，鋪設、保養的負責人除了OTDR測定以外，不得不準備信號光的光源裝置或光強度測定裝置等多個測定裝置并攜帶到現場。

作為一體化光源、OTDR測定裝置及光強度測定裝置的光測定裝置，例如有如專利文獻2中公開的光測定裝置。

專利文獻1：日本專利公開平6-167417號公報

專利文獻2：日本專利申請2010-146727號

發明內容

作為光接入網的方式之一，有PON（Passive?Optical?Network）。在采用該PON的光接入網中，以OLT（Optical?Line?Terminal）與ONU（Optical?Network?Unit）采用1對N（N為正數）的結構。作為用于該PON的數據通信用波長，規定有上行（從ONU向OLT）為1310nm，且下行（從OLT向ONU）為1490nm的不同波長。并且最近，除了上述波長之外，作為用于從OLT發送視頻信號的波長，還使用1550nm的情況越來越多。因此，在建設或保養PON時，需辨別各個波長光來測定其功率。

并且，通常光纖根據通信光波長而特性不同，有時即使在某種波長的光中損失在容許范圍但在其他波長的光中損失不在容許范圍。因此，在鋪設或保養PON時，通常以多個通信光的波長進行OTDR測定。

但是，在專利文獻2的光測定裝置中，無法辨別多個不同波長的光來測定光強度或以多個通信光的波長進行OTDR測定。若是僅用于辨別多個不同波長的光來測定該光強度的用途，則能夠利用稱作OPN功率計的測定裝置，但若僅靠該裝置則無法進行OTDR測定，并且也無法用作光源，因此不得不另行準備OTDR測定裝置或光源。

因此本發明的目的在于提供1臺能夠辨別多個不同波長的光來進行光強度測定或以多個通信光的波長進行OTDR測定且能夠用作光源的光測定裝置。