[發明專利]一種深腔壁厚測量裝置及方法

在審

• 申請號: 201210424333.8
• 申請日: 2012-10-31
• 公開（公告）號: CN103791796A
• 公開（公告）日: 2014-05-14
• 發明（設計）人: 唐水英;昝林;俞玉明;潘華東;徐敏;趙毅良
• 申請（專利權）人: 上海航天精密機械研究所
• 主分類號: G01B5/06
• 分類號: G01B5/06
• 代理公司: 上海航天局專利中心 31107
• 代理人: 徐鈁

1.一種深腔壁厚測量裝置，其特征在于，包括：上支臂；下支臂；芯軸組件貫穿所述上支臂的一端與所述下支臂的一端以及杠桿的一端，將上支臂、下支臂以及杠桿連接；所述上支臂和下支臂的另外一端分別套有第一量頭和第二量頭，不測量時，所述第一量頭和第二量頭緊密貼合；所述杠桿的另外一端安裝有頂頭，測量時，所述頂頭撞擊量角、所述量角與固定于支座上的百分表相連，所述百分表又固定于下支臂；所述杠桿轉動時帶動百分表的指針偏轉；所述杠桿、芯軸組件、頂頭、量角封裝于罩殼內；所述罩殼上安裝有手柄。

2.依據權利要求1所述的深腔壁厚測量裝置，其特征在于，所述杠桿中部經由圓柱銷固定于上支臂與下支臂連接端的一點。

3.依據權利要求1所述的深腔壁厚測量裝置，其特征在于，所述上支臂與下支臂相連的一端具有扳手，按下所述扳手時，上支臂和下支臂分離。

4.依據權利要求1所述的深腔壁厚測量裝置，其特征在于，所述芯軸組件包括芯軸、墊圈、螺釘，用于連接并固定上、下支臂和杠桿。

5.依據權利要求1所述的深腔壁厚測量裝置，其特征在于，所述上支臂與下支臂上第一量頭和第二量頭軸線之間的夾角不大于0.1度。

6.依據權利要求1所述的深腔壁厚測量裝置，其特征在于，第一量頭設計成圓形結構，第二量頭設計成小平面。

7.一種深腔壁厚測量方法，其特征在于，包括：

步驟一、按壓所述扳手將上支臂和下支臂張開，使所述第一量頭和第二量頭于待測產品的待測位置齊平，將所述第一量頭貼在待測產品的內壁，將所述第二量頭貼在待測產品的外壁；

步驟二、讀取所述第一量頭貼在待測產品的內壁，將所述第二量頭貼在待測產品的外壁時，百分表的讀數，所述讀數即為待測產品待測位置的厚度。