[發明專利]基于同步載頻移相的共光路干涉檢測裝置與方法有效
| 申請號: | 201210424239.2 | 申請日: | 2012-10-30 |
| 公開(公告)號: | CN102954842A | 公開(公告)日: | 2013-03-06 |
| 發明(設計)人: | 鐘志;單明廣;郝本功;張雅彬;竇崢;刁鳴 | 申請(專利權)人: | 哈爾濱工程大學 |
| 主分類號: | G01J9/02 | 分類號: | G01J9/02 |
| 代理公司: | 哈爾濱市松花江專利商標事務所 23109 | 代理人: | 張宏威 |
| 地址: | 150001 黑龍江*** | 國省代碼: | 黑龍江;23 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 基于 同步 載頻 共光路 干涉 檢測 裝置 方法 | ||
1.基于同步載頻移相的共光路干涉檢測裝置,它包括光源(1),其特征在于:它還包括偏振片(2)、準直擴束系統(3)、兩個λ/4波片(4)、待測物體(5)、矩形窗口(6)、第一透鏡(7)、一維周期光柵(8)、第二透鏡(9)、偏振片組(10)、圖像傳感器(11)和計算機(12),其中λ為光源(1)發射光束的光波長,
光源(1)發射的光束經偏振片(2)入射至準直擴束系統(3)的光接收面,經該準直擴束系統(3)準直擴束后的出射光束經過兩個λ/4波片(4)、待測物體(5)及矩形窗口(6)后入射至第一透鏡(7),經第一透鏡(7)匯聚后的出射光束通過一維周期光柵(8)后入射至第二透鏡(9),經第二透鏡(9)透射后的衍射光束入射至偏振片組(10),該偏振片組(10)的出射光束由圖像傳感器(11)的光接收面接收,圖像傳感器(11)的圖像信號輸出端連接計算機(12)的圖像信號輸入端;
以光軸的方向為z軸方向建立xyz三維直角坐標軸,所述矩形窗口(6)沿垂直于光軸的方向設置,并且沿x軸方向均分為兩個小窗口;
兩個λ/4波片(4)均與矩形窗口(6)平行設置,所述兩個λ/4波片(4)沿x軸方向并行等間距排布在同一平面內;
第一透鏡(7)和第二透鏡(9)的焦距都為f;
矩形窗口(6)位于第一透鏡(7)的前焦面上;一維周期光柵(8)位于第一透鏡(7)的后焦f-Δf處并且位于第二透鏡(9)的前焦f+Δf處,其中Δf為離焦量,Δf大于0并且小于f;
圖像傳感器(11)位于第二透鏡(9)的后焦面上;
一維周期光柵(8)的周期d與矩形窗口(6)沿x軸方向的寬度D之間滿足關系:d=2λf/D。
2.根據權利要求1所述基于同步載頻移相的共光路干涉檢測裝置,其特征在于,一維周期光柵(8)為二值一維周期光柵、正弦一維周期光柵或余弦一維周期光柵。
3.根據權利要求1所述基于同步載頻移相的共光路干涉檢測裝置,其特征在于,偏振片組(10)由兩片偏振片組成,該兩片偏振片形成1×2陣列,該兩片偏振片的透光軸與x軸分別呈0°和45°。
4.根據權利要求1所述基于同步載頻移相的共光路干涉檢測裝置,其特征在于,兩個λ/4波片(4)中一個λ/4波片(4)快軸沿x軸方向放置,另一個λ/4波片(4)快軸沿y軸方向放置。
5.根據權利要求1所述基于同步載頻移相的共光路干涉檢測裝置,其特征在于,偏振片(2)的透光軸與x軸呈45°角。
6.根據權利要求1所述基于同步載頻移相的共光路干涉檢測裝置,其特征在于,待測物體(5)放置在矩形窗口(6)內、矩形窗口(6)的光束入射側或矩形窗口(6)的光束出射側,待測物體(5)沿x軸方向的長度小于或等于D/2,待測物體(5)位于其中一個λ/4波片(4)的正后方。
7.基于權利要求1所述基于同步載頻移相的共光路干涉檢測裝置的檢測方法,其特征在于:它的實現過程如下:
打開光源(1),使光源(1)發射的光束經偏振片(2)和準直擴束系統(3)準直擴束后形成平行偏振光束,該平行偏振光束通過兩個λ/4波片(4)、待測物體(5)和矩形窗口(6)后,再依次經過第一透鏡(7)、一維周期光柵(8)和第二透鏡(9)產生0級和±1級衍射光束,該衍射光束通過偏振片組(10)濾波后,在圖像傳感器(11)平面上產生干涉,將計算機(12)采集獲得的干涉圖樣根據矩形窗口(6)的小窗口的尺寸分割獲得兩幅干涉圖樣,通過計算得到待測物體(5)的相位分布
其中,O'為待測物體的復振幅分布,Im()表示取虛部,Re()表示取實部,
O'=FT-1{FT{(I1-I2)·RE}·HW},
其中,FT表示傅里葉變換,FT-1表示逆傅里葉變換,HW為低通濾波器的傳遞函數,RE為根據一維周期光柵(8)的離焦量Δf得到的數字參考波函數RE(x,y):
RE(x,y)=exp(-i2πxΔf/f/d),
I1為由偏振片組(10)中一片偏振片濾波得到的干涉圖強度分布,該偏振片的透光軸與x軸呈0°,I2為由偏振片組(10)中另一片偏振片濾波得到的干涉圖強度分布,該另一片偏振片的透光軸與x軸呈45°,
I1(x,y)=|R|2+|O|2+R*O+RO*,
I2(x,y)=|R|2+|O|2+exp(-iα)R*O+exp(iα)RO*,
其中,R表示參考光,R*表示R的復共軛,O表示物光,O*表示O的復共軛,α=π/2為載波相移量。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于哈爾濱工程大學,未經哈爾濱工程大學許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201210424239.2/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:燃料電池膜電極及測試樣件制備夾具
- 下一篇:拉床





