[發(fā)明專利]18顆粒任意位寬存儲接口的單顆粒容錯方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201210423061.X
• 申請日: 2012-10-29
• 公開（公告）號: CN102929742A
• 公開（公告）日: 2013-02-13
• 發(fā)明（設計）人: 高劍剛;徐江川;姚玉良;宋新亮;吳智;施得君;胡舒凱
• 申請（專利權(quán)）人: 無錫江南計算技術(shù)研究所
• 主分類號: G06F11/10
• 分類號: G06F11/10
• 代理公司: 北京眾合誠成知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11246
• 代理人: 龔燮英

1.一種18顆粒任意位寬存儲接口的單顆粒容錯方法，其特征在于包括：采用256+32編碼形式的糾錯編碼矩陣，并采用數(shù)據(jù)縱向積累校驗字的方式進行校驗；其中，糾錯編碼矩陣包括288行32列，其中糾錯編碼矩陣自上而下分為18個子矩陣，每個子矩陣包括16行32列；其中，在用Hi表示糾錯編碼矩陣的第i行、用Erj和Eri以及Ebi和Ebj表示單位矩陣情況下，糾錯編碼矩陣H滿足以下3個條件：

第一，任意子矩陣內(nèi)各行向量線性不相關(guān)；

第二，任意兩個子矩陣滿足Hi*Eri!=Hj*Erj(i!=j),Erj和Eri的取值范圍為{1,2,3,4,5,6,…255}；

第三，任意三個子矩陣滿足Hi*Ebi+Hj*Ebj!=Hk*Erk(i!=j),Ebi，Ebj取值范圍為{1,2,4,8,16,32,…128}。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的18顆粒任意位寬存儲接口的單顆粒容錯方法，其特征在于，通過256+32編碼的糾錯編碼矩陣H進行單塊數(shù)據(jù)錯定位及雙塊數(shù)據(jù)錯檢出；其中，將256位數(shù)據(jù)和32位校驗碼一起發(fā)送到目標方；目標方收到數(shù)據(jù)和校驗碼后，依照相同的糾錯編碼矩陣H，從收到的數(shù)據(jù)重新計算得到新校驗碼，并根據(jù)新校驗碼計算同步字；然后根據(jù)同步字計算特征碼；并根據(jù)特征碼判斷在傳輸中是否發(fā)生了誤碼。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的18顆粒任意位寬存儲接口的單顆粒容錯方法，其特征在于，對于18片X4顆粒組成的存儲接口，前16片顆粒提供數(shù)據(jù)，后2片顆粒提供校驗位，其中將前8片顆粒提供數(shù)據(jù)與倒數(shù)第2片顆粒提供的校驗位合并為一個校驗字，將第9至第16片顆粒提供數(shù)據(jù)與最后一片顆粒提供的校驗位合并為一個校驗字。

4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的18顆粒任意位寬存儲接口的單顆粒容錯方法，其特征在于，對于18片X8顆粒組成的存儲接口，前16片顆粒提供數(shù)據(jù)，后2片顆粒提供校驗位，其中將前4片顆粒提供數(shù)據(jù)與倒數(shù)第2片顆粒提供的校驗位的前半部分合并為一個校驗字，將第5至第8片顆粒提供數(shù)據(jù)與倒數(shù)第2片顆粒提供的校驗位的后半部分合并為一個校驗字，將第9至第12片顆粒提供數(shù)據(jù)與最后一片顆粒提供的校驗位的前半部分合并為一個校驗字，將第13至第16片顆粒提供數(shù)據(jù)與最后一片顆粒提供的校驗位的后半部分合并為一個校驗字。

5.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的18顆粒任意位寬存儲接口的單顆粒容錯方法，其特征在于，對于18片X16顆粒組成的存儲接口，前16片顆粒提供數(shù)據(jù)，后2片顆粒提供校驗位，其中將前2片顆粒提供數(shù)據(jù)與倒數(shù)第2片顆粒提供的前兩拍校驗位合并為一個校驗字，將第3至第4片顆粒提供數(shù)據(jù)與倒數(shù)第2片顆粒提供的第三拍至第四拍校驗位合并為一個校驗字，將第5至第6片顆粒提供數(shù)據(jù)與倒數(shù)第2片顆粒提供的第五拍至第六拍校驗位合并為一個校驗字，將第7至第8片顆粒提供數(shù)據(jù)與倒數(shù)第2片顆粒提供的后兩拍校驗位合并為一個校驗字；將第9至第10片顆粒提供數(shù)據(jù)與最后一片顆粒提供的前兩拍校驗位合并為一個校驗字，將第11至第12片顆粒提供數(shù)據(jù)與最后一片顆粒提供的第三拍至第四拍校驗位合并為一個校驗字，將第13至第14片顆粒提供數(shù)據(jù)與最后一片顆粒提供的第五拍至第六拍校驗位合并為一個校驗字，將第15至第16片顆粒提供數(shù)據(jù)與最后一片顆粒提供的后兩拍校驗位合并為一個校驗字。