[發(fā)明專利]靜電卡盤加熱方法及系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210422960.8 | 申請日: | 2012-10-30 |
| 公開(公告)號: | CN103794527A | 公開(公告)日: | 2014-05-14 |
| 發(fā)明(設計)人: | 吳狄;倪圖強;左濤濤 | 申請(專利權)人: | 中微半導體設備(上海)有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/67 | 分類號: | H01L21/67;H01L21/683;H01J37/32 |
| 代理公司: | 隆天國際知識產權代理有限公司 72003 | 代理人: | 張龍哺;馮志云 |
| 地址: | 201201 上海市浦東新*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 靜電 卡盤 加熱 方法 系統(tǒng) | ||
技術領域
本發(fā)明涉及半導體加工工藝,更具體地說,涉及一種靜電卡盤加熱方法及系統(tǒng)。
背景技術
在等離子體刻蝕或化學氣相沉積等工藝過程中,常采用靜電卡盤(Electro?Static?Chuck,簡稱ESC)來固定、支撐及傳送晶片(Wafer)等待加工件。靜電卡盤設置于反應腔室中,其采用靜電引力的方式,而非機械方式來固定晶片,可減少對晶片可能的機械損失,并且使靜電卡盤與晶片完全接觸,有利于熱傳導。
現(xiàn)有的靜電卡盤通常包括絕緣層和基座,絕緣層中設有直流電極,該直流電極通電后對晶片施加靜電引力;為使靜電卡盤具有足夠大的升溫速度,進而提高晶片刻蝕的均勻性,絕緣層中還可以鋪設一加熱器,用以通過靜電卡盤加熱晶片;基座上設有冷卻液流道,其注入冷卻液對靜電卡盤進行冷卻。
現(xiàn)有技術中,在靜電卡盤快速升溫的同時,很難保證靜電卡盤各區(qū)域溫度的均一性,各區(qū)域的溫度會有較明顯的差異甚至形成冷區(qū)和熱區(qū),從而其對晶片的加熱也是不均勻的,這將對等離子體刻蝕的工藝效果帶來不良的影響。
因此,在使靜電卡盤快速升溫的同時,保證其各區(qū)域溫度的均一性,是本發(fā)明需要解決的技術問題。
發(fā)明內容
本發(fā)明的目的在于提供一種靜電卡盤加熱方法,其在使靜電卡盤快速升溫的同時,保證其各區(qū)域溫度的均一性。
為實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明的技術方案如下:
一種靜電卡盤加熱方法,靜電卡盤用于承載晶圓,其包括上下設置的絕緣層和基座,絕緣層中設有一加熱器,用于通過對靜電卡盤的加熱來加熱晶圓,基座中設有至少一冷卻液流道,用于注入流體調節(jié)靜電卡盤的溫度,該方法包括如下步驟:a)、以加熱器將靜電卡盤自第一溫度加熱至第二溫度;b)、向冷卻液流道注入第一氣體,第一氣體經冷卻液流道放熱轉化為第一流體,以將靜電卡盤自第二溫度加熱至第三溫度。
優(yōu)選地,第二溫度與第一溫度的差值遠大于第三溫度與第二溫度的差值。
本發(fā)明提供的靜電卡盤加熱方法,在使靜電卡盤快速升溫的同時,有效保證其各區(qū)域溫度的均一性,從而使晶圓各區(qū)域溫度均一,有利于等離子體刻蝕工藝的進行,提高了晶圓的制成良率。
本發(fā)明的另一目的在于提供一種靜電卡盤加熱系統(tǒng),其利于實現(xiàn)靜電卡盤各區(qū)域溫度的均一性。
為實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明的又一技術方案如下:
一種靜電卡盤加熱系統(tǒng),包括:靜電卡盤,其包括上下設置的絕緣層和基座,絕緣層中設有一加熱器用于將靜電卡盤自第一溫度加熱至第二溫度,基座中設有至少一冷卻液流道;溫控單元,用于向冷卻液流道注入第一氣體,第一氣體經冷卻液流道放熱轉化為第一流體,以將靜電卡盤自第二溫度加熱至第三溫度;第一導管,連接溫控單元和冷卻液流道,第一氣體經第一導管注入冷卻液流道;以及第二導管,第二導管連接冷卻液流道和溫控單元,第一流體經第二導管流向溫控單元;溫控單元將流向溫控單元的第一流體轉化為第一氣體。
本發(fā)明還公開了一種等離子體處理裝置,用于對放置在其中的待加工件進行等離子體處理工藝,包括:反應腔室,用于在其中進行等離子體處理工藝;靜電卡盤加熱系統(tǒng),靜電卡盤位于反應腔室中,用于固定待加工件。
附圖說明
圖1示出本發(fā)明第一實施例的靜電卡盤加熱方法流程示意圖;
圖2示出本發(fā)明第二實施例的靜電卡盤加熱方法流程示意圖;
圖3示出本發(fā)明第三實施例的靜電卡盤加熱方法流程示意圖;
圖4示出本發(fā)明第四實施例的靜電卡盤加熱系統(tǒng)結構示意圖。
具體實施方式
下面結合附圖,對本發(fā)明的具體實施方式作進一步的詳細說明。
需要說明的是,本發(fā)明任一實施例提供的靜電卡盤加熱方法以及系統(tǒng)均用于對晶圓進行等離子體處理工藝,該工藝在一反應腔室中進行,靜電卡盤設于反應腔室下部,用于承載晶圓。靜電卡盤包括上下設置的絕緣層和基座,絕緣層中設有加熱器,加熱器通過對靜電卡盤的加熱來加熱晶圓,促成晶圓與反應腔室中的等離子體進行反應,從而實現(xiàn)對晶圓的加工制造;基座中設有冷卻液流道,其通常用于注入冷卻液對靜電卡盤進行冷卻。在本發(fā)明中,通過向冷卻液流道注入氣體,通過氣體的熱傳導或氣體的液化來進一步加熱靜電卡盤。。
如圖1所示,本發(fā)明第一實施例的靜電卡盤加熱方法包括如下步驟:
步驟S11、加熱器將靜電卡盤加熱至第二溫度。
具體地,以靜電卡盤中的加熱器將靜電卡盤自第一溫度加熱至第二溫度。
步驟S12、向冷卻液流道注入第一氣體,第一氣體在冷卻液流道中放熱轉化為第一流體,并將靜電卡盤自第二溫度加熱至第三溫度。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
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H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





