[發(fā)明專利]線路和分用器的缺陷檢測方法、缺陷檢測裝置和顯示面板有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210422647.4 | 申請日： | 2012-10-30 |
| 公開（公告）號： | CN103137050B | 公開（公告）日： | 2018-01-12 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 賈智鉉;鄭鎮(zhèn)泰 | 申請（專利權(quán)）人： | 三星顯示有限公司 |
| 主分類號： | G09G3/00 | 分類號： | G09G3/00 |
| 代理公司： | 北京銘碩知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司11286 | 代理人： | 韓明星 |
| 地址： | 韓國京畿*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 線路 分用器 缺陷 檢測 方法 裝置 顯示 面板 | ||
1.一種使用分用器的缺陷檢測裝置，分用器將多條數(shù)據(jù)線中的對應(yīng)的數(shù)據(jù)線連接到多條線路，所述缺陷檢測裝置包括：
第一DC線路至第三DC線路，向第一DC線路至第三DC線路提供第一DC電壓至第三DC電壓；
多個第一開關(guān)，所述多個第一開關(guān)連接到第一DC線路至第三DC線路，并被構(gòu)造為根據(jù)通過第一柵極線發(fā)送的第一柵極信號而將第一DC電壓至第三DC電壓中的一個DC電壓發(fā)送到所述多條數(shù)據(jù)線中的多條第一數(shù)據(jù)線；
多個第二開關(guān)，所述多個第二開關(guān)連接到第一DC線路至第三DC線路，并被構(gòu)造為根據(jù)通過第二柵極線發(fā)送的第二柵極信號而將第一DC電壓至第三DC電壓中的一個DC電壓發(fā)送到所述多條數(shù)據(jù)線中的多條第二數(shù)據(jù)線，
其中，所述缺陷檢測裝置被構(gòu)造為檢測所述多條線路中的缺陷，
其中，分用器包括：
多個第一TFT，所述多個第一TFT連接所述多條線路和所述多條數(shù)據(jù)線中的對應(yīng)的數(shù)據(jù)線；
多個第二TFT，所述多個第二TFT連接所述多條線路和所述多條數(shù)據(jù)線中的對應(yīng)的數(shù)據(jù)線，
其中，所述缺陷檢測裝置被構(gòu)造為在當(dāng)所述多個第一開關(guān)和所述多個第二開關(guān)處于導(dǎo)通狀態(tài)、且僅所述多個第一TFT或所述多個第二TFT中的一個TFT處于導(dǎo)通狀態(tài)時的狀態(tài)下，檢測所述多條線路中的短路缺陷，
其中，所述多條線路連接到發(fā)送多個數(shù)據(jù)信號的多個焊盤。
2.如權(quán)利要求1所述的缺陷檢測裝置，其中：
當(dāng)所述多個第一TFT處于導(dǎo)通狀態(tài)時，所述多條線路和所述多條數(shù)據(jù)線中的對應(yīng)的線路和數(shù)據(jù)線分別通過所述多個第一TFT連接，
當(dāng)所述多條線路中的一條線路短路時，經(jīng)所述多條數(shù)據(jù)線中的對應(yīng)的數(shù)據(jù)線連接到該短路的線路的多個像素根據(jù)因短路的線路而導(dǎo)致的短路電壓而發(fā)光。
3.如權(quán)利要求1所述的缺陷檢測裝置，其中：
當(dāng)所述多個第二TFT處于導(dǎo)通狀態(tài)時，所述多條線路和所述多條數(shù)據(jù)線中的對應(yīng)的線路和數(shù)據(jù)線分別通過所述多個第二TFT連接，
當(dāng)所述多條線路中的一條線路短路時，經(jīng)所述多條數(shù)據(jù)線中的對應(yīng)的數(shù)據(jù)線連接到該短路的線路的多個像素根據(jù)因短路的線路而導(dǎo)致的短路電壓而發(fā)光。
4.如權(quán)利要求1所述的缺陷檢測裝置，
其中，所述缺陷檢測裝置還被構(gòu)造為在當(dāng)所述多個第一TFT和所述多個第二TFT處于導(dǎo)通狀態(tài)、且僅所述多個第一開關(guān)或所述多個第二開關(guān)中的一個開關(guān)處于導(dǎo)通狀態(tài)時的狀態(tài)下，檢測所述多個第一TFT和所述多個第二TFT中的缺陷。
5.如權(quán)利要求4所述的缺陷檢測裝置，其中：
當(dāng)所述多個第一開關(guān)處于導(dǎo)通狀態(tài)、且所述多個第一TFT和所述多個第二TFT處于導(dǎo)通狀態(tài)時，對應(yīng)地連接到處于導(dǎo)通狀態(tài)的所述多個第一開關(guān)的第一數(shù)據(jù)線通過所述多個第一TFT和/或所述多個第二TFT中的對應(yīng)的TFT而連接到所述多條第二數(shù)據(jù)線中的對應(yīng)的第二數(shù)據(jù)線。
6.如權(quán)利要求5所述的缺陷檢測裝置，其中：
當(dāng)所述多個第一TFT和所述多個第二TFT中的至少一個TFT有缺陷時，所述多條第二數(shù)據(jù)線中的對應(yīng)的第二數(shù)據(jù)線不接收和/或發(fā)送第一DC電壓至第三DC電壓中的對應(yīng)的DC電壓。
7.如權(quán)利要求4所述的缺陷檢測裝置，其中：
當(dāng)所述多個第二開關(guān)處于導(dǎo)通狀態(tài)、且所述多個第一TFT和所述多個第二TFT處于導(dǎo)通狀態(tài)時，對應(yīng)地連接到處于導(dǎo)通狀態(tài)的所述多個第二開關(guān)的第二數(shù)據(jù)線通過所述多個第一TFT和/或所述多個第二TFT中的對應(yīng)的TFT而連接到所述多條第一數(shù)據(jù)線中的對應(yīng)的第一數(shù)據(jù)線。
8.如權(quán)利要求7所述的缺陷檢測裝置，其中：
當(dāng)所述多個第一TFT和所述多個第二TFT中的至少一個TFT有缺陷時，所述多條第一數(shù)據(jù)線中的對應(yīng)的第一數(shù)據(jù)線不接收和/或發(fā)送第一DC電壓至第三DC電壓中的對應(yīng)的DC電壓。
9.如權(quán)利要求1所述的缺陷檢測裝置，其中：
所述多個第一開關(guān)中的每個第一開關(guān)包括被構(gòu)造為接收第一柵極信號的柵電極、連接到第一DC線路至第三DC線路中的對應(yīng)的DC線路的第一電極、以及連接到所述多條第一數(shù)據(jù)線中的對應(yīng)的數(shù)據(jù)線的第二電極。
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