[發(fā)明專利]一種用于優(yōu)化數(shù)據(jù)庫(kù)查詢計(jì)劃的系統(tǒng)及其方法

無(wú)效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201210420638.1
• 申請(qǐng)日: 2012-10-24
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN102930003A
• 公開(kāi)（公告）日: 2013-02-13
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 陳明新;楊俊杰;王斌
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 浙江圖訊科技有限公司
• 主分類號(hào): G06F17/30
• 分類號(hào): G06F17/30
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• 代理人: 暫無(wú)信息

1.一種用于優(yōu)化數(shù)據(jù)庫(kù)查詢計(jì)劃的系統(tǒng)，其特征在于包括：數(shù)據(jù)庫(kù)、統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)庫(kù)、查詢優(yōu)化器、查詢組件、查詢計(jì)劃優(yōu)化組件；所述的查詢計(jì)劃優(yōu)化組件包括監(jiān)聽(tīng)組件、調(diào)整組件；所述的監(jiān)聽(tīng)組件檢測(cè)數(shù)據(jù)庫(kù)的變化情況，調(diào)整組件根據(jù)監(jiān)聽(tīng)組件的反饋信息提交一個(gè)基于中間過(guò)程的查詢完成統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)庫(kù)的更新，查詢優(yōu)化器根據(jù)統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)庫(kù)構(gòu)建查詢計(jì)劃并通過(guò)查詢組件完成查詢計(jì)劃。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于優(yōu)化數(shù)據(jù)庫(kù)查詢計(jì)劃的系統(tǒng)，其特征在于所述的監(jiān)聽(tīng)組件包括升序監(jiān)聽(tīng)組件、降序監(jiān)聽(tīng)組件。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種用于優(yōu)化數(shù)據(jù)庫(kù)查詢計(jì)劃的系統(tǒng)，其特征在于所述的調(diào)整組件包括上限監(jiān)測(cè)器、下限監(jiān)測(cè)器、統(tǒng)計(jì)調(diào)節(jié)器。

4.一種用于優(yōu)化數(shù)據(jù)庫(kù)查詢計(jì)劃的方法，其特征在于包括以下步驟：

1)設(shè)置預(yù)定閥值最大值P_max和預(yù)定閥值最小值P_min，預(yù)定閥值通過(guò)操作界面進(jìn)行設(shè)置；

2)監(jiān)聽(tīng)組件分為升序監(jiān)聽(tīng)組件和降序監(jiān)聽(tīng)組件，系統(tǒng)刷新統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)i+1次；

3)升序監(jiān)聽(tīng)組件和降序監(jiān)聽(tīng)組件分別對(duì)刷新后的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)和舊的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，計(jì)算第i次刷新統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)時(shí)統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)的表的基數(shù)TCi、統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)變化的數(shù)量Mi、統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)最大列的值Cmaxi、統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)最小列的值Cmini；

4)計(jì)算閥值大小：

(41)比較第i+1次的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)和第i次的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)，當(dāng)?shù)趇+1次的列數(shù)量G(i+1)大于Cmaxi，最大的閥值確定為：

Kmax=2G(i+1)M(i+1)+TC(i+1)-M(i)-TC(i)---(1);]]>

(42)比較第i+1次的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)和第i次的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)，當(dāng)?shù)趇+1次的列數(shù)量L(i+1)小于Cmini，最小的閥值確定為：

Kmin=2L(i+1)M(i+1)-TC(i+1)-M(i)+TC(i)---(2);]]>

5)調(diào)整組件的上限監(jiān)測(cè)器比較K_max和P_max的大小：

(51)當(dāng)K_max＞P_max時(shí)，標(biāo)記該列為升序排列；

(52)當(dāng)K_max≤P_max時(shí)，正常更新統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)；

6)調(diào)整組件的下限監(jiān)測(cè)器比較K_min和P_min的大小：

(61)當(dāng)K_min＞P_min時(shí)，標(biāo)記該列為降序排列；

(62)當(dāng)K_min≤P_min時(shí)，正常更新統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)；

7)查詢優(yōu)化器檢測(cè)到升序排列標(biāo)記或降序排列標(biāo)記，系統(tǒng)執(zhí)行選擇查詢用于監(jiān)測(cè)當(dāng)前列的升序列最大值或降序列最小值；

8)統(tǒng)計(jì)調(diào)節(jié)器調(diào)用升序列最小值或降序列最大值修正統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)；

9)更新后的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)優(yōu)化查詢計(jì)劃，優(yōu)化后的查詢計(jì)劃被查詢優(yōu)化器選擇、執(zhí)行并響應(yīng)。