[發明專利]一種表征高碳鋼盤條中心偏析的方法無效
| 申請號： | 201210418952.6 | 申請日： | 2012-10-26 |
| 公開（公告）號： | CN102914628A | 公開（公告）日： | 2013-02-06 |
| 發明（設計）人： | 王世芳;王雷;麻晗 | 申請（專利權）人： | 江蘇省沙鋼鋼鐵研究院有限公司 |
| 主分類號： | G01N33/20 | 分類號： | G01N33/20 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 215625 江蘇省蘇州*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 表征 高碳鋼 中心 偏析 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種表征高碳鋼盤條中心偏析的方法，其特征在于，該方法包括以下步驟：
(1)樣品和取樣位置
樣品含碳量大于0.60wt％，組織為珠光體，由鐵素體和滲碳體兩個相組成；從盤條中取出針尖狀樣品的位置至少包含一個偏析嚴重處和一個無偏析處；
(2)檢測過程和數據處理
3DAP需同時測量到鐵素體和滲碳體兩個相，測試結果包含的原子數量大于100萬個；采用等濃度面分析方法區分出鐵素體相和滲碳體相，再利用3DAP測量出鐵素體中元素含量；
(3)中心偏析的定量化評價
珠光體盤條的中心偏析等于盤條偏析嚴重處鐵素體中碳含量與無偏析處鐵素體中的碳含量之比，對于不存在偏析的盤條，比值接近1；該比值越大，偏析越嚴重。
2.根據權利要求1所述的表征高碳鋼盤條中心偏析的方法，其特征在于，步驟(1)中所述的偏析嚴重處為盤條中心處。
3.根據權利要求1所述的表征高碳鋼盤條中心偏析的方法，其特征在于，步驟(1)中所述的無偏析處為盤條1/4半徑到3/4半徑之間的某處。
4.根據權利要求1所述的表征高碳鋼盤條中心偏析的方法，其特征在于，步驟(2)中所述的等濃度面分析方法中等濃度面的碳原子濃度選取范圍為5～20at％。
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