[發明專利]適用于激光測距儀的光學系統

有效

• 申請號: 201210415818.0
• 申請日: 2012-10-26
• 公開（公告）號: CN102967856A
• 公開（公告）日: 2013-03-13
• 發明（設計）人: 陳武;周其偉
• 申請（專利權）人: 南京德朔實業有限公司
• 主分類號: G01S7/48
• 分類號: G01S7/48;G02F1/29
• 代理公司: 南京縱橫知識產權代理有限公司 32224
• 代理人: 董建林

1.適用于激光測距儀的光學系統，包括：入射光路系統，其特征在于，還包括出射光路系統，上述出射光路系統包括：用于產生激光光源的激光管、用于將上述激光光源產生的激光轉換為沿第一方向射出的直線激光束的準直透鏡組、用于對上述準直透鏡組產生的直線激光束進行光路切換的光路切換組件，上述光路切換組件包括：能改變自身折射率的折變晶體，上述折變晶體形成有：與上述第一方向傾斜相交的用于接受激光束的入射界面、用于出射激光束的第一出射界面；上述入射光路系統還包括：用于進行光電轉換的光電轉換器。

2.根據權利要求1所述的適用于激光測距儀的光學系統，其特征在于，上述折變晶體還形成有：用于出射作為參考信號的激光束的第二出射界面。

3.根據權利要求2所述的適用于激光測距儀的光學系統，其特征在于，上述第二出射界面垂直于上述入射界面。

4.根據權利要求3所述的適用于激光測距儀的光學系統，其特征在于，上述第二出射界面與上述第一方向傾斜相交。

5.根據權利要求1至4任意一項所述的適用于激光測距儀的光學系統，其特征在于，上述第一出射界面與上述入射界面平行。

6.根據權利要求5所述的適用于激光測距儀的光學系統，其特征在于，上述折變晶體包括：折射率因入射的激光束功率變化而變化的光折變晶體以及折射率因加載的電場變化而變化的電光晶體。

7.根據權利要求6所述的適用于激光測距儀的光學系統，其特征在于，上述入射光路系統包括：用于接收激光束的光學窄帶濾波片。

8.根據權利要求7所述的適用于激光測距儀的光學系統，其特征在于，上述入射光路系統還包括：用于聚集散射光的聚光鏡。

9.激光測距儀，其特征在于，包括如權利要求1至8任意一項所述的光學系統。

10.根據權利要求9所述的激光測距儀，其特征在于，還包括：用于控制上述激光管的激光調制模塊、用于接收和處理上述光電轉換器信號的信號處理模塊。

11.根據權利要求10所述的激光測距儀，其特征在于，還包括：與上述激光調制模塊和信號處理模塊電連接的主控模塊。

12.根據權利要求11所述的激光測距儀，其特征在于，還包括：與上述主控模塊電連接的人機界面。