[發明專利]厚薄兩用鍍層厚度測量儀

有效

• 申請號: 201210413727.3
• 申請日: 2012-10-25
• 公開（公告）號: CN102980521A
• 公開（公告）日: 2013-03-20
• 發明（設計）人: 陳顯東;陳生販;江裕捺;陳生鎮;陳發杰
• 申請（專利權）人: 上海宏昊企業發展有限公司
• 主分類號: G01B11/06
• 分類號: G01B11/06
• 代理公司: 上海精晟知識產權代理有限公司 31253
• 代理人: 何新平

技術領域

本發明涉及測量技術領域，具體涉及一種鍍層厚度測量技術。

背景技術

在生活、生產中經常會用到鍍膜產品，鍍膜技術在工業生產中是材料技術中的重要技術領域。

對于鍍膜產品質量鑒定的重要指標是鍍層的厚度，以及鍍層的均勻性。因為鍍層厚度往往極薄，給測量帶來了很大難度。

現有的技術中往往是通過檢測鍍層的透光性，來測定鍍層的厚度。通過光對射檢測裝置的發光光源對鍍層的一側進行照射，將光對射檢測裝置的光敏器件設置在鍍層的另一側，從而獲得鍍層透光性數據，進而測定鍍層的厚度。現有的光對射檢測裝置尚存在精度低、易受外界光線干擾等不足。

現有的光對射檢測裝置使用參數相對固定，往往只能用于一種厚度范圍的鍍層，對于超出厚度范圍上限或者下限的鍍層無法精準測量。

發明內容

本發明的目的在于，提供一種厚薄兩用鍍層厚度測量儀，以解決上述技術問題。

本發明所解決的技術問題可以采用以下技術方案來實現：

厚薄兩用鍍層厚度測量儀，包括一設備支架，至少一固定在所述設備支架上的光檢測裝置，所述光檢測裝置連接一微型處理器系統，其特征在于，

所述光檢測裝置設有一光源，所述光源采用紅外激光器；

所述光檢測裝置設有一光敏元件，所述光敏元件采用紅外光敏二極管；

所述設備支架設有一條狀開口，所述紅外激光器與所述紅外光敏二極管分別位于所述條狀開口兩側，呈對射關系；

所述紅外激光器通過一功率調整機構連接供電電源，通過所述功率調整機構調整發光強度。

將需要檢測的鍍有鍍層的鍍膜薄膜穿過所述條狀開口，打開光檢測裝置，通過檢測投射光線的強度參數。光檢測裝置將所檢測到的數據傳送給微型處理器系統，經過數據分析最終獲得鍍層的厚度。激光具有光照面集中、光強度強，具有穿透較厚的鍍層的能力，可以適用于厚鍍層。又因為具有亮度可調的特點，在降低亮度后，也可以適用于厚度較薄的鍍層。

所述功率調整機構包括兩個限流電阻，兩個限流電阻分別通過一選擇開關連接所述紅外激光器，通過選擇開關選擇與所述紅外激光器進行電路連接的限流電阻。實驗證明本發明可以適用于1~60nm，以及1~20nm。

所述紅外激光器采用發光波段為860nm~960nm的紅外激光器。

所述紅外光敏二極管采用敏感波段為860nm~960nm的紅外光敏二極管。860nm~960nm的紅外光在自然界難以自然發出，因此可以有效減少外界光線對設備的干擾。

所述光檢測裝置設有一振蕩信號發射模塊，所述振蕩信號發射模塊通過所述功率調整機構連接所述紅外激光器，從而使所述紅外激光器的點亮與熄滅狀態交替，產生閃爍；所述紅外光敏二極管連接一AD轉換器，通過所述AD轉換器連接所述微型處理器系統，所述微型處理器系統記錄所述AD轉換器傳送的數值，受到所述紅外激光器閃爍的影像，所述AD轉換器會產生交變的數值，所述微型處理器系統對所述AD轉換器產生的交變的數值進行求差，用所求得的差值作為反映鍍層厚度的數值。通過差值的方式可以有效消除外界光線干擾。

所述光檢測裝置設有一與所述振蕩信號發射模塊頻率對應的選頻模塊，所述選頻模塊連接所述紅外光敏二極管。通過為紅外激光器加載振蕩頻率，使光線產生閃爍。可以更加有效的降低外界干擾，并提供檢測精度。

所述微型處理器系統還連接一人機交互機構，以及一顯示器。所述人機交互機構可以采用一鍵盤，也可以采用一觸摸屏。所述微型處理器系統連接所述功率調整機構的控制端，通過對人機交互機構進行操作控制微型處理器系統，進而控制所述功率調整機構，再進而控制紅外激光器的發射功率。

所述設備支架上設有至少8個所述光檢測裝置，至少8個所述光檢測裝置沿所述條狀開口排列。

兩個所述光檢測裝置之間的距離小于8cm。以便于密集檢測鍍層面的各個位置的厚度。

附圖說明

圖1，為本發明的結構示意圖。

具體實施方式

為了使本發明實現的技術手段、創作特征、達成目的與功效易于明白了解，下面結合具體圖示進一步闡述本發明。