[發明專利]一種低破片率二極管的擴散方法有效
| 申請號: | 201210412793.9 | 申請日: | 2012-10-25 |
| 公開(公告)號: | CN102983072A | 公開(公告)日: | 2013-03-20 |
| 發明(設計)人: | 曹孫根;陶小鷗 | 申請(專利權)人: | 南通康比電子有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/306 | 分類號: | H01L21/306;H01L21/22 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 破片 二極管 擴散 方法 | ||
技術領域
本發明涉及一種二極管制作工藝,具體是一種由以下步驟制作的工藝:原硅片清洗、排磷紙、擴磷、分片、單面噴砂、涂硼前清洗、涂硼、擴硼、鍍鎳前清洗。該工藝適用于低破片率二極管的擴散方法。
背景技術
傳統的二極管芯片制作工藝為以下步驟:原硅片清洗、排磷紙、擴磷、分片、單面噴砂、涂硼前清洗、涂硼、擴硼、雙面噴砂、鍍鎳前清洗。上述步驟中雙面噴砂工序為硅片二次機械去氧化層,其中硅片的破碎率偏高一般達到1%-1.5%,使得生產成本提高,影響了經濟效益。
發明內容
本發明要解決的技術問題是提供一種低破片率二極管的擴散方法,使得硅片破碎率降低到0.4%-0.8%左右。
為解決上述技術問題,本發明的技術方案為:一種低破片率二極管的擴散方法,主要由以下步驟構成:原硅片清洗、排磷紙、擴磷、分片、單面噴砂、涂硼前清洗、涂硼、擴硼、鍍鎳前清洗、一次鍍鎳、合金、二次鍍鎳,其創新點在于:所述鍍鎳前清洗工序中先將混酸溶液中浸20秒后沖水10分鐘,再在混酸溶液中浸20秒,再進行后續清洗處理。
所述混酸溶液按體積比?硝酸9:氫氟酸9:冰醋酸12:硫酸4的比例。
本發明的優點在于:本發明用化學處理替代二次機械去氧化層方法,特別針對快恢復管,大大降低了硅片在去氧層時的破碎率。
具體實施方式
本發明的具體步驟如下:
首先,對原硅片進行清洗:將硅片置于混酸中?60秒后純水沖洗5-10min,然后進入氫氟酸中5±0.1min,再用常溫純水沖洗5-10min,接著將硅片置于哈摩粉溶液中,用頻率為2.8KHZ的超聲波超聲清洗20±1min,純水常規沖洗后進行熱純水超聲清洗20±1min,最后純水沖洗5-10min,結束清洗,最后,用常溫IPA溶液進行兩次脫水,每次脫水時間為2±0.1?min,完成本工序。
第二步,排磷紙:用鑷子取出一片磷紙放在花籃任意一側的第1片和第2片硅片之間,依次類推擺放,?小心取下夾有磷紙的硅片將其整齊放在擋片上,?排好硅片后用擋片塞緊進低溫爐。
第三步,擴磷:在低溫爐中把疊好硅片的第一舟置于石英管口,150±1℃預熱15min,把石英舟推至280℃恒溫區的后半程,把疊好硅片的第二舟置于石英管口,?150±1℃預熱15min,把第二舟推至280℃恒溫區的前半程,溫度升到后恒溫1h。時間到后,將進磷高溫爐。所用氮氣流量:6L/MIN,氧氣流量:1L/MIN。
在高溫爐中把第一舟推至500℃?恒溫區的后半程,把第二舟推至500℃恒溫區的前半程;?溫度升到1220℃后恒溫2H;恒溫時間結束,開始降溫,當溫度降至500℃時用石英鉤將第二舟逐漸拉出,拉至爐口冷卻15min后取下放在石英托架上自然冷卻待分片。?用上述同樣的方法將第一舟從石英管內拉出,并待分片。
第四步,分片:置硅片于PE籃架中并放入12000cc氫氟酸液中浸泡(磷擴后24h左右,硼擴后8h左右),時間到后取出放在流動的自來水中沖洗約60min左右取不銹鋼盤子,墊上濾紙,將分開的硅片平攤在濾紙上,將不銹鋼盤子送進烘箱烘烤30-40min。
第五步,單面噴砂:硅片以45±5cm/mi的傳動速度速進入真空吹砂室中,將未附磷面朝上,以0.9-1.3Kg/cm2的壓力進行單面噴砂即可。
第六步,涂硼前清洗:在35000cc的、溫度為90℃±10℃的純水和150g哈摩粉溶液中進行超聲清洗20±1min,清洗完畢后再進行常溫純水清洗5-10min;然后用5000cc的氫氟酸浸泡5±1min,再按上述方式進行常溫純水清洗和哈摩粉超聲清洗;在哈摩粉超聲清洗完畢后,先進行常溫純水清洗5-10min后再進行90℃±10℃熱純水超聲清洗20±1min???、常溫純水清洗5-10min。清洗完畢后,進行兩次常規的IPA脫水,最后進入烘箱以100℃的溫度烘干。
第七步,涂硼:將涂硼專用美術筆頭浸入小玻璃瓶中,沾適量的硼液:硼液配比:按體積比乙二醇乙醚:三氧化二硼=10:3,然后在旋轉的硅片未涂硼的一面均勻地涂上一層硼液,由旋轉的硅片外緣向內涂至中心,取下涂好的硅片,置于電熱板上,150℃烘5-8min,取下硅片后在附磷面上均勻輕灑適量的鋁粉,然后將硅片疊于石英舟上,并在整疊硅片的兩端須放上適量的擋片。疊好硅片的石英舟前后擋板用擋片塞緊。
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H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





