[發(fā)明專利]基于雙閾值二值化的在線式AOI圖像檢索方法

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201210412289.9
• 申請日: 2012-10-25
• 公開（公告）號: CN102938077A
• 公開（公告）日: 2013-02-20
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 何冰;葛春平;王菊霞;李國強(qiáng)
• 申請（專利權(quán)）人: 渭南師范學(xué)院
• 主分類號: G06K9/64
• 分類號: G06K9/64
• 代理公司: 北京中恒高博知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11249
• 代理人: 夏晏平

1.基于雙閾值二值化的在線式AOI圖像檢索方法，其特征在于，包括以下步驟：

S1、獲取標(biāo)準(zhǔn)PCB板的位置圖像；

S2、對位置圖像進(jìn)行灰度化處理，得到灰度模板圖像；

S3、對灰度模板圖像進(jìn)行雙閾值二值化處理，得到模板圖像；

S4、獲取待檢測PCB板的位置圖像，并根據(jù)步驟S3中設(shè)定的雙閾值獲取所述模板圖像所對應(yīng)的搜索區(qū)域圖像；

S5、將搜索區(qū)域圖像與模板圖像進(jìn)行匹配，以搜索出與模板圖像匹配度最大的位置點(diǎn)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于雙閾值二值化的在線式AOI圖像檢索方法，其特征在于，所述步驟S1具體為：通過圖像采集裝置和/或圖像編輯裝置獲取標(biāo)準(zhǔn)PCB板上的至少一個電子元件的位置圖像。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于雙閾值二值化的在線式AOI圖像檢索方法，其特征在于，所述步驟S2具體為：對所述位置圖像進(jìn)行256級灰度化處理，得到灰度級在0至255范圍內(nèi)的灰度模板圖像。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于雙閾值二值化的在線式AOI圖像檢索方法，其特征在于，所述步驟S3具體為：對灰度模板圖像進(jìn)行雙閾值二值化處理，設(shè)定上限閾值Ta及下限閾值Tb，以獲取所述模板圖像所對應(yīng)的搜索區(qū)域圖像，并保存至數(shù)據(jù)庫中。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的基于雙閾值二值化的在線式AOI圖像檢索方法，其特征在于，所述上限閾值Ta的閾值范圍為0至250，所述下限閾值Tb的閾值范圍為0至100。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于雙閾值二值化的在線式AOI圖像檢索方法，其特征在于，所述步驟S3進(jìn)一步包括對獲取待檢測PCB板的位置圖像設(shè)置上下偏差閾值Tc及左右偏差閾值Td。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于雙閾值二值化的在線式AOI圖像檢索方法，其特征在于，所述步驟S3進(jìn)一步包括對獲取待檢測PCB板的位置圖像設(shè)置相似度閾值Te。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的基于雙閾值二值化的在線式AOI圖像檢索方法，其特征在于，所述相似度閾值Te設(shè)置為85%。

9.根據(jù)權(quán)利要求1或4所述的基于雙閾值二值化的在線式AOI圖像檢索方法，其特征在于，所述步驟S5具體為：獲取所述模板圖像所對應(yīng)的搜索區(qū)域圖像，然后對搜索區(qū)域圖像進(jìn)行256級灰度化處理，并從數(shù)據(jù)庫中調(diào)用上限閾值Ta及下限閾值Tb，以進(jìn)行歸一化互相關(guān)模板匹配處理，用以將搜索區(qū)域圖像與模板圖像進(jìn)行匹配，以得到位置相關(guān)系數(shù)R（x,y）,并根據(jù)相似度閾值Te，搜索出與模板圖像匹配度最大的位置點(diǎn)。

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的基于雙閾值二值化的在線式AOI圖像檢索方法，其特征在于，若位置相關(guān)系數(shù)R（x,y）大于或者等于所述相似度閾值Te，則表明所述待檢測PCB板上電子元件的位置符合要求；若位置相關(guān)系數(shù)R（x,y）小于所述相似度閾值Te，則表明所述待檢測PCB板上電子元件的位置不符合要求。